日本电子株式会社(JEOL)
400-6699-117转1000
热门搜索:
分析测试百科网 > 日本电子 > 透射电子显微镜
120KV
  2024年5月30日,日本电子株式会社(JEOL)全球同步发布新型号的120KV透射电镜。这款电镜设计精炼,更换灯丝方便,自动化程度高,具有操作简......
JEM-1000
为全球的高校和科研机构所使用的超高压透射电子显微镜(加速电压为1,000kV)。三维观察和原位观察实验由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短,即使增......
JEM-ACE200F
JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起,实现了高度稳定性和高分辨率,以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单......
JEM-2100
IDES是时间分辨透射电子显微镜(TEM)领域的领导者和先驱,专门研究脉冲激光和高速静电束消隐及偏转技术。IDES的产品在TEM的特殊空间分辨率的基础上增加了时......
CRYO
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜,专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品,可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上......
SightSKY
高灵敏度、低噪声1900万像素CMOS传感器成像更清晰,可在低电子剂量下呈现样品细节。 全局快门和高帧率(58 fps/全像素模式)设计使其在动态观察......
JEM-1400Flash
JEM-1400Flash 透射电子显微镜JEM-1400Flash配备了高灵敏度sCMOS相机、超广视野的蒙太奇系统以及光学显微镜图像的联动功能,是一款新型的......
EM-05500TGP
EM-05500TGP TEM断层扫描系统TEM断层扫描系统采用独特算法的软件,实现了从获取连续倾斜图像到三维重构整个过程的自动化。产品特点:精细的三维重构系统......
JEM-F200自动进样透射电镜
JEM-F200自动进样透射电镜透射电镜操作难点1,插拔样品杆;2,电镜操作JEM-F200自动插拔样品杆JEM-F200图像操作界面[分辨率]STEM0.16......
JEM-ARM300F
JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜JEM-ARM300F实现了世界zei高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研......
JEM-F200新概念冷场发射透射电镜
       2016年新年伊始,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。&nb......
JEOL
    透射电镜使用电子穿透样品成像,实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用,如果使用全部的透射电子成像,必然在细节上出现假象......
JEOL
  JEM-2800是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品,在兼顾高分辨高稳定性的同时,zei求分析效率的zei大化和操作的自动化。颠覆传......
JEM-1400
仪器简介:2013年8月日本电子株式会社全球同步推出120kV高衬度透射电镜JEM-1400Plus。   JEM-1400Plus采用ze......
JEM-2100Plus
仪器简介:JEM-2100Plus广泛应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域。 JEM-2100Plus搭载Windows操作界面,操作更简单。并与STEM,......
JEM-ARM200F
技术参数:1.分辨率:STEM图像分辨: 0.071 nm           TEM点分辨:0.1......
JEM-ARM200F冷场发射球差校正透射电镜
日本电子株式会社2010年7月zei新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子......
日本电子JEM-ARM200F
主要特点: ◇ 新ABF(Annular Bright Field)检测器系统ABF检测器作为高分辨观察轻元素的有效手段已被广泛使用。“NE......
日本电子JEM-ARM200F
主要特点: ◇ 自动像差校正软件JEOL COSMO™(Corrector System Module)JEOL COSMO™采用了全新像差......
日本电子JEM-ARM200F
主要特点: ◇ 球差校正器ASCOR(Advanced STEM Corrector)“NEOARM”配备的新型球差校正器ASCOR能够校正......
日本电子JEM-ARM200F
为了响应近来已成为主流的远程操作的需求,NEOARM的电镜室和操作室实行了分离式,主机使用了JEOL的新概念颜色—纯白色和JEOL银色,设计精炼时尚。“NEOA......
日本电子JEM-ARM200F
“NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的......
日本电子JEM-1000
典型规格*1[分辨率]STEM2.0 nm (1000 kV)TEM (晶格, 点)0.16 nm (点,  1000 kV)0.10 nm (晶格,......
日本电子JEM-1000
STEM图像对于厚样品的三维观察非常有效,特别是对微米级厚样品的三维观察能发挥威力。具有这些功能的JEM-ARM1000在新材料的开发和生物医学研究中是不可或缺......
日本电子JEM-1000
三维观察和原位观察实验由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短,即使增大物镜极靴之间的间隙,也能获得高分辨率的图像。此外,电子束具有很强的穿透能力,即......
日本电子JEM-1000
三维观察和原位观察实验由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短,即使增大物镜极靴之间的间隙,也能获得高分辨率的图像。此外,电子束具有很强的穿透能力,即......
日本电子JEM-1000
为全球的高校和科研机构所使用的超高压透射电子显微镜(加速电压为1,000kV)。三维观察和原位观察实验由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短,即使增......
日本电子JEM-ACE200F
◇ 远程操作● 可在隔壁房间操作设备● 远程操作及多地同时观察(依赖于网络环境)   · 可与多个事务所一边讨论一边观察 ......
日本电子JEM-ACE200F
◇ 自动获取数据的功能 ●按照操作菜单可自动获取数据   · TEM像、STEM像、元素面分布   · 可以对......
日本电子JEM-ACE200F
◇ 操作简单● 即使TEM的操作经验少也能直接操作设备   · 大量减少使用操作盘,直接按顺序点击显示画面上的按钮就能得到最终的图......
日本电子JEM-ACE200F
◇ 装置主体● 可配置Cs校正器和CFEG● 高速高精度的stage    与现有的马达驱动控制相比速度上提高了3倍、具......
日本电子JEM-ACE200F
JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起,实现了高度稳定性和高分辨率,以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单......
日本电子JEM-2100
■  Electrostatic Dose Modulator (EDM)Electrostatic Dose Modulator (EDM) 是一种......
日本电子JEM-2100
■  Electrostatic Dose Modulator (EDM)Electrostatic Dose Modulator (EDM) 是一种......
日本电子JEM-2100
■  Relativity Electrostatic subframing SystemIDES RELATIVITY 静电分帧系统加大了电镜上相机......
日本电子JEM-2100
■ JEM-2100  时间分辨电子显微镜该设备是利用一个或多个激光器进行pump-探针实验而设计的用于研究样品中的瞬态现象。 用户可以直接用激光激发......
日本电子JEM-2100
IDES是时间分辨透射电子显微镜(TEM)领域的领导者和先驱,专门研究脉冲激光和高速静电束消隐及偏转技术。IDES的产品在TEM的特殊空间分辨率的基础上增加了时......
日本电子CRYO
主机电子枪冷场发射电子枪加速电压300kV, 200kV能量过滤器镜筒内欧米伽能量过滤器附件无孔相位板选配件低加速电压(标准以外的其他加速电压要求,请另行询问)......
日本电子CRYO
◆ 高稳定性-可随时获得出色的图像-1. 新型冷场发射电子枪CRYO ARM™ 300 II 配备了新型冷场发射电子枪(CFEG)。这种新型电子枪不仅具有较低的......
日本电子CRYO
◆ 高度灵活的操作 1. 高精度样品台CRYO ARM™ 300 II 具有无旋转样品台。此样品台的优势是出色的位置重现性。即使您在显微镜镜筒和样品存......
日本电子CRYO
产品特点:高效、易于操作且随时提供高质量图像◆ 高通量   -提高效率,增加产出- 1.  快速收集 ......
日本电子CRYO
CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜,专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品,可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。与上......
日本电子SightSKY
产品规格加速电压≤ 200kV有效像素数量1900万像素(5688 *3336)传感器感光尺寸36.4mm x 21.35mm像素尺寸6.4um x 6.4um......
日本电子SightSKY
    多晶硅TEM图像以高对比度观察多晶硅双织构等精细结构。    聚乙烯(PE)和聚丙烯(PP)......
日本电子SightSKY
    Al72 Fe24 Ni4十二边形准晶体高分辨率TEM图像和电子衍射图像利用“数码变焦”功能可以观察呈现准周期性排列的原子......
日本电子SightSKY
    Si3N4高分辨率TEM图像“数码变焦”可确保成像清晰,在晶格分辨率下同样表现优异。    ......
日本电子SightSKY
高灵敏度、低噪声1900万像素CMOS传感器成像更清晰,可在低电子剂量下呈现样品细节。 全局快门和高帧率(58 fps/全像素模式)设计使其在动态观察......
日本电子JEM-F200自动进样透射电镜
[分辨率]STEM0.16 nm (200 kV)TEM (晶格, 点)0.19 nm (200 kV)0.10 nm (晶格, 200 kV)[放大倍率]ST......
日本电子JEM-F200自动进样透射电镜
高端扫描系统JEM-F200可以实现大视野的STEM-EELS分析,该设备在常规的照明系统的电子束扫描功能之上,增加了新的扫描系统-“Advanced Scan......
日本电子JEM-F200自动进样透射电镜
四级聚光镜系统现在的电子显微镜需要支持范围广泛的成像技术--- 从明场/暗场的TEM成像到使用各种检测器的STEM技术。 该设备采用新型四级聚光镜照射光学系统-......
移动版: 资讯 直播 仪器谱

Copyright ©2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved

京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号