400-6699-117转1000
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诚信认证:
工商注册信息已核实!参考报价: | 面议 | 型号: | JXA-iSP200 |
品牌: | 日本电子 | 产地: | 日本 |
关注度: | 2034 | 信息完整度: | |
样本: | 典型用户: | 暂无 |
分析元素范围 | Be- | X射线分光器数 | 最多5道 |
X射线取出角 | 大 | 罗兰圆半径 | 大小兼顾 |
二次电子分辨率 | 5nm |
400-6699-117转1000
产品特点:
可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。
日本电子新开发出的EPMA (电子探针)秉承近半个世纪的EPMA的发展历史,JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析,这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是下一代能完全满足多种需求的强力分析工具之一。
2020年升级为JXA-iSP200。
EPMA快速启动
点击任何一点,就能开始预设的EDS定性、定量分析或WDS分析。
用户菜单(User recipes)
能保存或调用经常使用的各种不同类型的样品分析条件,菜单中包括了全部的电子光学参数、EDS和WDS参数在内。
EDS 的性能
数字化脉冲处理器
全谱面分布(WD/ED, 样品台和电子束扫描)
无风扇SDD (选配)
技术规格:
检测元素范围WDS:(Be)*1 /B~U, EDS:B~U
X射线检测范围WDS检测的波长范围: 0.087~9.3nm,
EDS EDS检测的能量范围: 20keV
分光谱仪数量WDS: 1~5道可选、EDS: 1台
zei大样品尺寸100mm × 100mm × 50mm(H)
加速电压0~30kV(以0.1 kV为步长)
束流电流范围10-12 ~ 10-5 A
束流电流稳定度5%/h, ±0.3%/12h(W)
二次电子分辨率6nm(W), 5nm(LaB6)*2
(W.D. 11mm, 30kV)
扫描倍率×40 ~ ×300,000(W. D. 11mm)
扫描图像分辨率zei大 5,120× 3,840
彩色显示器EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024
SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024
光学显微镜
分辨率~1um
焦深1um
真空系统机械泵、分子泵、离子泵 *2
真空度样品室: 优于8.0 x 10-4Pa,
电子枪: 优于9.0 x 10-5Pa
JXA-iSP200 电子探针显微分析仪
可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。
日本电子JXA-iSP200电子探针显微分析仪 组合使用WDS和EDS信息由日本电子株式会社(JEOL)为您提供,如您想了解更多关于日本电子JXA-iSP200电子探针显微分析仪 组合使用WDS和EDS报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途