KORE SURFACESEER I: TOF-SIMS二次离子质谱
tel: 400-6699-117 转 9116KORE二次离子质谱/离子探针, SurfaceSeer-I是一个高灵敏度的TOF-SIMS,用于绝缘和导电表面的成像和化学绘图。SurfaceSeer-......
在线客服
产品型号:KORE SURFACESEER I
品牌:KORE
产品产地:英国
产品类型:进口
原制造商:KORE
状态:在售
厂商指导价格: 200~500万元[人民币]
上市时间: 2020年
英文名称:KORE SURFACESEER I: TOF-SIMS
优点:SurfaceSeer-I是一个高灵敏度的TOF-SIMS,用于绝缘和导电表面的成像和化学绘图。SurfaceSeer-I是研究表面化学性质的理想之选,同样适用于研发以及工业质量控制应用。
参考成交价格: 200~500万元[人民币]
仪器导购
二次离子质谱/离子探针
其他推荐
厂家资料
地址:北京昌平区回龙观国际信息产业基地3街3号
电话:400-6699-117 转 9116
经销商
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 KORE SURFACESEER I: TOF-SIMS二次离子质谱 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
如果您是,请告诉我们,我们的邮件地址是:sales@antpedia.net 请说明: 1.产品名称 2.公司介绍 3.联系方式 |
售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- ASTM E1162-87(2001) 二次离子质谱法(SIMS)中报告溅射深度截面数据
- ASTM E1162-87(1996) 二次离子质谱法(SIMS)中报告溅射深度截面数据
- BS ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱.飞行时间二次离子质谱用质量标度的校准
- JIS K 0157:2021 表面化学分析. 二次离子质谱法. 渡越时间二次离子质谱仪的质量标度的校准
- BS ISO 20411:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 单离子计数动态二次离子质谱饱和强度校正方法
- JIS K 0158:2021 表面化学分析. 二次离子质谱法. 单离子计数动态二次离子质谱法中饱和强度的校正方法
- ISO 13084:2011 表面化学分析.二次离子质谱分析法.飞行时间二次离子质谱仪用质量标度的校准
- NF ISO 23830:2009 表面化学分析 二次离子质谱 二次离子静态质谱中相对强度标度的重复性和稳定性
- BS ISO 13084:2018 表面化学分析 二次离子质谱分析 飞行时间二次离子质谱仪的质量标度校准
- GB/T 41204-2021 纳米技术 纳米物体表征用测量技术矩阵