XAN 500 手持式X射线荧光分析仪

• 通用手持式X射线荧光分析仪，即使材料组合困难复杂的情况下，也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析；符合DIN ISO 3497和ASTM B 568 标准

• 重量1.9 kg

• 一次电池充电可持续运行6个小时

• 测量点：3毫米Ø

• 高分辨率硅漂移检测器

• 用于户外的IP54等级

• 用作台式设备的可选测量箱；

• 使用完整版WinFTM®软件进行数据统计

• 测试大型样件，装配测量箱后也可以测试小样件

• 一次测试同时测定镀层的厚度和成分（例如，Fe上的ZnNi合金）

• 未知合金的无标准片测量

• 大型镀层零件（例如机器部件和外壳）的测量

• 电镀层的测试

• 电镀液金属含量的分析

FISCHERSCOPE®X射线XAN®500是目前最通用的X射线荧光系统。作为一款手持式XRF分析仪，它非常适合在生产线上检查大型零件（如飞机零件，管道或涡轮叶片）上的镀层；

与市场上其他便携式X射线荧光设备相比，FISCHERSCOPE XAN500可以非常精确地确定镀层厚度。它的三点支撑设计使其易于正确放置，并在整个测量过程中保持稳定。高质量的硅漂移检测器（SDD）确保了分析合金层（如锌镍合金）所需的精度。

但是，XAN 500不仅仅是一个用于大型零件的测量系统。借助可选的测量箱，只需几个简单的步骤即可将其转换为台式仪器。 这样您就可以快速、轻松地检查小零件，如螺母和螺栓。