LT-SPM 低温扫描探针显微镜
tel: 400-6699-117 转 1000纳米磁扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM, 减少热漂移: 低温作业为消除与热漂有关的影响提供了最直接和可靠的途径 低噪音水平: 将温度从300k降低到10k, 可以使热频率噪声降低5倍以上, 例如, 可以在石墨等低波纹表面以原子分辨率获得三维力场
咨询留言
产品型号: LT-SPM
品牌:纳米磁
产品产地:英国
产品类型:进口
原制造商:纳米磁
状态:在售
厂商指导价格:未提供
上市时间: 2013-08-20
英文名称: LT-SPM
优点:减少热漂移: 低温作业为消除与热漂有关的影响提供了最直接和可靠的途径 低噪音水平: 将温度从300k降低到10k, 可以使热频率噪声降低5倍以上, 例如, 可以在石墨等低波纹表面以原子分辨率获得三维力场
参考成交价格: 10~50万元[人民币]
扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM
其他推荐
厂家资料
地址:Suite 290, 266 Banbury Road Oxford OX2 7DL, United Kingdom
电话:400-6699-117 转 1000
经销商
经销商 | 电话 | 咨询 |
---|---|---|
伯东企业(上海)有限公司/Polycold | 400-6699-117 转 1000 | 向他咨询 |
评论
我来点评售后服务
登记我会维修/培训/做方法
如果您是一名工程师或者专业维修科学 仪器的服务商,都可参与登记,我们的平台 会为您的服务精确的定位并展示。
产品调查
查看标准
- KS D 2714-2016 横向力显微镜扫描探针显微镜方法
- KS D 2714-2006 扫描探针显微镜.横向剪切力的测量方法
- ISO 11952:2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
- ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
- BS ISO 18115-2:2013 表面化学分析. 词汇. 扫描探针显微镜用术语
- GB/T 36052-2018 表面化学分析 扫描探针显微镜数据传送格式
- BS ISO 28600:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜的数据传送格式
- ISO 18115-2:2021 表面化学分析词汇第2部分:扫描探针显微镜术语
- ISO 11039:2012 表面化学分析.扫描探针显微镜.漂移率的测定标准
- VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 使用扫描探针显微镜确定几何量 测量系统的校准