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MicroXAM-800 光学轮廓仪

tel: 400-6699-117 1000

科磊半导体轮廓仪/粗糙度仪, 针对纳米级到毫米级特征的相位和垂直扫描干涉测量......

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技术特点
【技术特点】-- MicroXAM-800 光学轮廓仪


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主要应用

·        台阶高度:纳米级到毫米级的3D台阶高度

·        纹理:3D粗糙度和波纹度

·        形式:3D翘曲和形状

·        边缘滚降:3D边缘轮廓测量 

·        缺陷复检:3D缺陷表面形貌


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工业应用

·        大学、研究实验室和研究所

·        半导体和化合物半导体

·        LED:发光二极管

·        电力设备

·        MEMS:微电子机械系统

·        数据存储

·        医疗设备

·        精密表面

·        汽车

·        还有更多:请与我们联系以满足您的要求


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【技术特点对用户带来的好处】-- MicroXAM-800 光学轮廓仪


【典型应用举例】-- MicroXAM-800 光学轮廓仪


厂家资料

地址:北京市海淀区上地三街中黎科技园一号楼二层290室

电话:400-6699-117 转1000

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