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各种半导体器件如超大规模集成电路等的失效分析和性能检查;硅单晶等各种半导体材料性能的分析研究;各种开关、电位器.接插件的可靠性研究及耐久性分析;录音磁带.磁粉晶形的分析检查等。
原国家质检总局 教授