半导体特性分析系统-Keithley 4200A-SCS
仪器名称: | 半导体特性分析系统-Keithley 4200A-SCS |
仪器编号: | 20001001 |
产地: | 美国 |
生产厂家: | keithley |
型号: | 4200A |
出厂日期: | |
购置日期: | 2020-04-24 |
所属单位: | 集成电路学院>微纳加工平台>高精尖 |
放置地点: | 高精尖中心一层实验室 |
固定电话: | 13910754014 |
固定手机: | 13910754014 |
固定email: | xugao@tsinghua.edu.cn |
联系人: | 高旭(010-62799552,13910754014,xugao@tsinghua.edu.cn) |
分类标签: | 集成电路 |
技术指标: | 中功率I-V测试模块4个;电流前置放大器4个;脉冲I-V测试模块2个远端放大/切换模块4个;C-V测试模块1个。最大电压源输出:210V;电压源设定最小分辨率:5μV;最大电流输出:100mA;电流源设定最小分辨率:1.5fA;电压测量范围:1μV-200V;电流测量范围:0-100mA;电流测量最小分辨率:0.01fA; 电流测量精度:10fA; |
知名用户: | 唐建石(微电子) |
技术团队: | 测试工作由实验室资深的工程师或者技术人员进行操作和支援。 |
功能特色: | 对半导体器件进行IV、CV等多种电学功能测试,常用于自动测试 |
项目名称 | 计价单位 | 费用类别 | 价格 | 备注 |
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半导体特性分析系统测试费 | 元/小时 | 自主上机机时费 | 100.0 |
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