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半导体特性分析系统-Keithley 4200A-SCS

2024.5.28
仪器名称:半导体特性分析系统-Keithley 4200A-SCS
仪器编号:20001001
产地:美国
生产厂家:keithley
型号:4200A
出厂日期:
购置日期:2020-04-24


所属单位:集成电路学院>微纳加工平台>高精尖
放置地点:高精尖中心一层实验室
固定电话:13910754014
固定手机:13910754014
固定email:xugao@tsinghua.edu.cn
联系人:高旭(010-62799552,13910754014,xugao@tsinghua.edu.cn)
分类标签:集成电路
技术指标:

中功率I-V测试模块4个;电流前置放大器4个;脉冲I-V测试模块2个远端放大/切换模块4个;C-V测试模块1个。最大电压源输出:210V;电压源设定最小分辨率:5μV;最大电流输出:100mA;电流源设定最小分辨率:1.5fA;电压测量范围:1μV-200V;电流测量范围:0-100mA;电流测量最小分辨率:0.01fA;

电流测量精度:10fA;

知名用户:唐建石(微电子)
技术团队:

测试工作由实验室资深的工程师或者技术人员进行操作和支援。

功能特色:

对半导体器件进行IV、CV等多种电学功能测试,常用于自动测试

项目名称计价单位费用类别价格备注





半导体特性分析系统测试费元/小时自主上机机时费100.0


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