更新时间: 2024-01-18 10:11:33
分别对采用磁控溅射法和在线CVD法制备的Ag基低辐射薄膜和F掺杂SnO2(FTO)低辐射薄膜进行了热处理和钢化处理。运用X射线衍射(XRD)分析了两种低辐射薄膜晶体结构的变化;采用场发射扫描电镜(FESEM)和原子力显微镜(AFM)观察了薄
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XRD全称X射线衍射(X-RayDiffraction),利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征,经过处理得到衍射图谱。利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相,并拥有“透视眼”来看晶体内部是否存在缺陷(位错)和晶格缺
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参考成交价格: 125~140万元[人民币]
参考成交价格: 300~400万元[人民币]
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