俄歇电子能谱
本专题涉及俄歇电子能谱的标准有45条。
国际标准分类中，俄歇电子能谱涉及到分析化学、电学、磁学、电和磁的测量、光学设备、光学和光学测量、无损检测、电子元器件综合、金属材料试验。
在中国标准分类中，俄歇电子能谱涉及到基础标准与通用方法、综合测试系统、电子光学与其他物理光学仪器、化学、化学助剂基础标准与通用方法、光学测试仪器、标准化、质量管理、金属化学分析方法综合。
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于俄歇电子能谱的标准
- GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
- GB/T 36533-2018 硅酸盐中微颗粒铁的化学态测定 俄歇电子能谱法
- GB/T 36504-2018 印刷线路板表面污染物分析 俄歇电子能谱
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于俄歇电子能谱的标准
- GB/T 32998-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求
- GB/T 32565-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱（AES）数据记录与报告的规范要求
国家质检总局，关于俄歇电子能谱的标准
- GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
- GB/T 30702-2014 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
- GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
- GB/T 29558-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱 强度标的重复性和一致性
- GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
- GB/T 26533-2011 俄歇电子能谱分析方法通则
- GB/T 25187-2010 表面化学分析.俄歇电子能谱.选择仪器性能参数的表述
- GB/Z 32494-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析
国际标准化组织，关于俄歇电子能谱的标准
- ISO/TR 18394-2016 表面化学分析. 俄歇电子能谱学. 提取化学信息
- ISO/TR 18394-2016 表面化学分析. 俄歇电子能谱学. 提取化学信息
- ISO 17109-2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- ISO 16242-2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
- ISO 29081-2010 表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法
- ISO/TR 19319-2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
，关于俄歇电子能谱的标准
- GOST R ISO 16242-2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 俄歇电子能谱学 (AES) 的记录和报告数据
- GOST R ISO 16242-2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 俄歇电子能谱学 (AES) 的记录和报告数据
英国标准学会，关于俄歇电子能谱的标准
- BS ISO 17109-2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- BS ISO 17109-2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- BS ISO 16242-2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术的记录和报告数据(AEC)
- BS ISO 16242-2011 表面化学分析.俄歇电子能谱术的记录和报告数据(AEC)
- BS ISO 20903-2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
- BS ISO 20903-2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
- BS ISO 29081-2010 表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法
法国标准化协会，关于俄歇电子能谱的标准
- NF X21-072-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱术(AES)的记录和报告数据
- NF X21-058-2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息
美国材料与试验协会，关于俄歇电子能谱的标准
- ASTM E984-2012 用俄歇电子能谱法鉴别化学效应和基体效应的标准指南
- ASTM E995-2011 在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南
- ASTM E996-2010 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
- ASTM E1127-2008 俄歇电子能谱学中的深度压形的标准指南
- ASTM E984-2006 用俄歇电子能谱法鉴别化学效应和基体效应用标准指南
- ASTM E996-2004 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
- ASTM E996-1994(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
日本工业标准调查会，关于俄歇电子能谱的标准
- JIS K0167-2011 表面化学分析.俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学.匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南
韩国标准，关于俄歇电子能谱的标准
- KS D ISO 19319-2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- KS D ISO 19319-2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
行业标准-电子，关于俄歇电子能谱的标准
- SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则
- SJ/T 10457-1993 俄歇电子能谱术深度剖析标准导则
行业标准-机械，关于俄歇电子能谱的标准
- JB/T 6976-1993 俄歇电子能谱术元素鉴定方法
澳大利亚标准协会，关于俄歇电子能谱的标准
- AS ISO 18118-2006 表面化学分析．俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法．均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南
