校正分析

本专题涉及校正分析的标准有51条。

国际标准分类中，校正分析涉及到频率控制和选择用压电器件与介质器件、金属矿、分析化学、涂料配料、输电网和配电网、石油产品综合、润滑剂、工业油及相关产品、人类工效学、核能工程、绝缘流体。

在中国标准分类中，校正分析涉及到石英晶体、压电元件、电子光学与其他物理光学仪器、基础标准与通用方法、工业气体与化学气体、颜料、颜料基础标准与通用方法、电力综合、润滑油、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合、化学、人类工效学、石油产品综合、电化学、热化学、光学式分析仪器、通用核仪器、元素半导体材料、其他化工产品综合。

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于校正分析的标准

GB/T 22319.11-2018 石英晶体元件参数的测量第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法

国家质检总局，关于校正分析的标准

GB/T 15247-2008 微束分析.电子探针显微分析.测定钢中碳含量的校正曲线法

美国材料与试验协会，关于校正分析的标准

ASTM E2295-21 通过熔渣和杯中银的测定分析含金属矿石、精矿和相关冶金材料时火试金银校正的标准实施规程
ASTM D7260-2012 石油产品和润滑剂的元素分析的感应耦合等离子体-原子发散光谱法 (ICP-AES) 的识别, 校正和最优化的标准实施规程
ASTM D7343-2012 石油产品和润滑剂元素分析用X射线荧光光谱法的优化, 制样, 校正和鉴定的标准实施规程
ASTM D7343-2007 石油产品和润滑剂元素分析用X射线荧光光谱法的优化、制样、校正和鉴定的实施规程
ASTM D7260-2006 石油产品和润滑剂的元素分析的感应耦合等离子体-原子发散光谱法(ICP-AES)的识别、校正和最优化的标准规程
ASTM E2056-2004 使用代用品混合物校正的多变量分析中使用的分光计和分光光度计鉴定的标准规程
ASTM E2056-2004(2010) 使用代用品混合物校正的多变量分析中使用的分光计和分光光度计鉴定的标准实施规程
ASTM E1361-2002(2007) X射线光谱测定分析中共存元素效应校正的标准指南
ASTM E1361-2002(2014)e1 X射线光谱测定分析中共存元素效应校正的标准指南
ASTM E1361-2002 X射线光谱测定分析中共存元素效应校正的标准指南

国际标准化组织，关于校正分析的标准

ISO 12963 AMD 1-2020 气体分析. 基于一点和两点校准测定混合气成分的比较方法. 修改件1: 对公式5的校正
ISO 16664-2017 气体分析.校正气体和气体混合物的处理.指南
ISO 16664-2017 气体分析.校正气体和气体混合物的处理.指南
ISO 18554:2016 表面化学分析.电子光谱法.用X射线光电子能谱法分析的材料中X射线非预期降解的评定和校正程序
ISO 18314-2:2015 分析比色法 - 第2部分:Saunderson校正 Kubelka-Munk方程的解着色力遮盖力
ISO 18314-2-2015 分析比色法. 第2部分: Saunderson校正, Kubelka-Munk方程的解决方案, 着色力, 遮盖力
ISO 16664-2004 气体分析.校正气体和气体混合物的处理.指南
ISO 6145-1-2003 气体分析.动态容量法制备标定用混合气体.第1部分:校正方法
ISO 6145-1-1986 气体分析标定用混合气体的制备动态容量法第1部分:校正方法
ISO 6142-1981 气体分析.校正用混合气体的制备.称重法

德国标准化学会，关于校正分析的标准

DIN EN ISO 16664-2017 气体分析.校正气体和气体混合物的处理.指南(ISO 16664-2017);德文版本EN ISO 16664-2017
DIN ISO 18314-2-2017 分析比色法.第2部分:Saunderson校正,Kubelka-Munk方程的解决方案,着色力,遮盖力(ISO 18314-2-2015)
DIN ISO 18314-2-2017 分析比色法.第2部分:Saunderson校正,Kubelka-Munk方程的解决方案,着色力,遮盖力(ISO 18314-2-2015)
DIN EN ISO 16664-2008 气体分析.校正气体和气体混合物的处理.指南
DIN 50452-3-1995 半导体工艺材料的检验.液体中颗粒分析的试验方法.第3部分:光学粒子计数器校正