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近场 扫描 电镜
本专题涉及近场 扫描 电镜的标准有194条。
国际标准分类中，近场 扫描 电镜涉及到有色金属、光学设备、分析化学、光学和光学测量、教育、长度和角度测量、词汇、表面处理和镀涂、空气质量、电子显示器件、犯罪行为防范、热力学和温度测量、集成电路、微电子学、涂料和清漆、金属材料试验、纺织纤维、光电子学、激光设备、建筑材料、物理学、化学、钢铁产品、陶瓷、捕捞和水产养殖、医学科学和保健装置综合、半导体分立器件。
在中国标准分类中，近场 扫描 电镜涉及到电子光学与其他物理光学仪器、放大镜与显微镜、基础标准与通用方法、电磁计量、化学计量、检验专用设备、教学专用仪器、技术管理、、材料防护、教育、学位、学衔、石油地质勘探、石油勘探、开发与集输工程综合、记录仪器及光线示波器、光学设备、电化学、热化学、光学式分析仪器、金属化学性能试验方法、犯罪鉴定技术、半导体集成电路、金相检验方法、油页岩、化学纤维综合、电磁兼容、混凝土、集料、灰浆、砂浆、贵金属及其合金分析方法、金属物理性能试验方法、颜料、火工产品、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、毛半制品、电子元件综合、钢铁与铁合金分析方法、光学计量、特种陶瓷、海水养殖与产品、大气环境有毒害物质分析方法、航空与航天用非金属材料、化妆品、半导体分立器件综合。
韩国科技标准局，关于近场 扫描 电镜的标准
- KS D 2713-2016 NSOM（近场扫描光学显微镜）空间分辨率的评估
- KS D 2713-2016(2021) NSOM（近场扫描光学显微镜）空间分辨率的评估
- KS M 0044-1999 扫描电子显微镜的一般规则
- KS I 0051-1999(2019) 扫描电子显微镜的一般规则
- KS I 0051-1999 扫描电子显微镜试验方法通则
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析扫描电子显微镜词汇
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.扫描电子显微镜.术语
- KS D ISO 9220:2009 金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
- KS D ISO 9220-2009(2022) 金属镀层镀层厚度的测量扫描电子显微镜法
- KS D ISO 9220-2009(2017) 金属镀层镀层厚度的测量扫描电子显微镜法
- KS D ISO 16700:2013 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- KS D ISO 16700-2013(2018) 微束分析－扫描电子显微镜－图像放大率校准指南
ESD - ESD ASSOCIATION，关于近场 扫描 电镜的标准
- SP14.5-2015 近场抗扰度扫描 组件/模块/PCB 级
TIA - Telecommunications Industry Association，关于近场 扫描 电镜的标准
- EIA/TIA-455-165A-1993 FOTP-165 通过近场扫描技术测量模场直径
日本工业标准调查会，关于近场 扫描 电镜的标准
- JIS K 0132:1997 扫描电子显微镜总则
- JIS K 0149-1:2008 微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南
- JIS K 3850-1:2006 空中纤维分子的测定.第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法
- JIS K 3850-1:2000 空气中纤维粒子的测量方法.第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法
- JIS R 1633:1998 扫描电子显微镜观察用精细陶瓷和陶瓷粉末的样品制备方法
国际标准化组织，关于近场 扫描 电镜的标准
- ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义与校准
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
- ISO 22493:2008 微光束分析.扫描电子显微镜方法.词汇
- ISO 9220:1988 金属覆盖层 镀层厚度测量 扫描电子显微镜法
- ISO 9220:2022 金属涂层.涂层厚度的测量.扫描电子显微镜法
- ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- ISO 16700:2016 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的指南
- ISO/TS 24597:2011 微光束分析.扫描电子显微镜检查法.图像清晰度评价法
- ISO 21466:2019 微束分析.扫描电子显微镜.用CD-SEM评定临界尺寸的方法
- ISO 19749:2021 纳米技术.用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- ISO/TS 10798:2011 纳米技术.使用扫描电镜与X射线能谱分析的单臂碳纳米管的特征描述
- ISO 14966:2019 环境空气.无机纤维颗粒数值浓度的测定.扫描电子显微镜法
- ISO 14966:2002 环境空气.无机纤维颗粒的数值浓度的测定.扫描电子显微镜检查法
英国标准学会，关于近场 扫描 电镜的标准
- BS ISO 27911:2011 表面化学分析.扫描探针显微镜.近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜（TIFF/SEM）的标记图像文件格式
- PD IEC/TR 61967-1-1:2015 集成电路 电磁辐射测量 一般条件和定义 近场扫描数据交换格式
- BS EN ISO 9220:1989 金属镀层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
- BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015 集成电路.电磁辐射管理.第1-1部分:定义和一般条件.近似场扫描数据交换格式
- BS EN ISO 9220:2022 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法
- BS ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南
- BS ISO 21466:2019 微束分析 扫描电子显微镜 CDSEM评估关键尺寸的方法
- BS ISO 16700:2016 微束分析 扫描电子显微镜 校准图像放大率的指南
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法
- BS ISO 19749:2021 纳米技术 用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- BS EN ISO 19749:2023 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- BS ISO 14966:2019 周围空气 无机纤维颗粒数值浓度的测定 扫描电子显微镜法
- 18/30344520 DC BS ISO 21466 微束分析 扫描电子显微镜 CD-SEM 评估关键尺寸的方法
- 18/30351679 DC BS ISO 19749 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- BS ISO 14966:2002 环境空气.无机纤维颗粒的数值浓度的测定.扫描电子显微镜检查法
- 18/30375050 DC BS ISO 14966 环境空气 无机纤维颗粒数值浓度的测定 扫描电子显微镜法
- BS CECC 00013:1985 电子元器件质量评定协调体系.基本规范:半导体小片的扫描电子显微镜检验
国家计量技术规范，关于近场 扫描 电镜的标准
- JJF 1916-2021 扫描电子显微镜校准规范
行业标准-机械，关于近场 扫描 电镜的标准
- JB/T 6842-1993 扫描电子显微镜试验方法
- JB/T 5384-1991 扫描电子显微镜.技术条件
- JB/T 7503-1994 金属覆盖层横截面厚度.扫描电镜测量方法
国家计量检定规程，关于近场 扫描 电镜的标准
- JJG(教委) 11-1992 扫描电子显微镜检定规程
- JJG 550-1988 扫描电子显微镜试行检定规程
行业标准-商品检验，关于近场 扫描 电镜的标准
- SN/T 4388-2015 皮革鉴定 扫描电镜和光学显微镜法
- SN/T 3009-2011 金属表面海水腐蚀扫描电镜鉴定方法
- SN/T 2649.1-2010 进出口化妆品中石棉的测定 第1部分：X射线衍射-扫描电子显微镜法
美国国家标准学会，关于近场 扫描 电镜的标准
- ANSI/ESD SP14.5-2021 静电放电灵敏度测试近场抗扰度扫描元器件/模块/PCB级
- ANSI/ASTM D6059:2001 用扫描电子显微镜测定工作环境空气中单晶陶瓷须晶浓度的方法
KR-KS，关于近场 扫描 电镜的标准
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.扫描电子显微镜.词汇
- KS C ISO 19749-2023 纳米技术——用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
行业标准-教育，关于近场 扫描 电镜的标准
- JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则
- JY/T 010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于近场 扫描 电镜的标准
- GB/T 33834-2017 微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法
美国材料与试验协会，关于近场 扫描 电镜的标准
- ASTM E766-98(2003) 校准扫描电子显微镜的放大倍数
- ASTM E766-98 校准扫描电子显微镜的放大倍数
- ASTM E986-04 扫描电子显微镜射束尺寸特征描述标准实施规程
- ASTM E986-04(2010) 扫描电子显微镜射束尺寸特征描述标准实施规程
- ASTM E986-97 扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
- ASTM E986-04(2017) 扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
- ASTM E766-14 扫描电子显微镜放大倍率校准的标准方法
- ASTM E766-98(2008)e1 扫描电子显微镜的放大系数的标准校正规范
- ASTM C1723-16(2022) 用扫描电子显微镜检查硬化混凝土的标准指南
- ASTM C1723-10 用扫描电子显微镜检验硬化混凝土的标准指南
- ASTM C1723-16 用扫描电子显微镜检查硬化混凝土的标准指南
- ASTM E766-14(2019) 校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
- ASTM E766-14e1 用于校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
- ASTM B748-90(2006) 用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
- ASTM B748-90(1997) 用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
- ASTM E2142-08(2015) 用扫描电子显微镜评定和分类钢中夹杂物的标准试验方法
- ASTM E2142-08 用扫描电子显微镜分级和分类铁中内含物的标准试验方法
- ASTM E2142-08(2023) 用扫描电子显微镜评定和分类钢中夹杂物的标准试验方法
- ASTM B748-90(2010) 扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的标准试验方法
- ASTM E2809-13 在法医油漆检查中使用扫描电子显微镜/X射线光谱法的标准指南
- ASTM B748-90(2021) 用扫描电子显微镜测量横截面测量金属涂层厚度的标准试验方法
- ASTM E1588-95(2001) 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
- ASTM E1588-08 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
- ASTM E1588-10 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
- ASTM E2142-01 利用扫描电子显微镜测定钢中杂质的额定值和分级的标准试验方法
- ASTM E1588-95 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
- ASTM B748-90(2016) 通过用扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的试验方法
国家质检总局，关于近场 扫描 电镜的标准
- GB/T 16594-1996 微米级长度的扫描电镜测量方法
- GB/T 31563-2015 金属覆盖层 厚度测量 扫描电镜法
- GB/T 17722-1999 金属盖层厚度的扫描电镜测量方法
- GB/T 16594-2008 微米级长度的扫描电镜测量方法通则
- GB/T 20307-2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则
- GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
- GB/T 27788-2011 微束分析.扫描电镜.图像放大倍率校准导则
- GB/T 17362-1998 黄金饰品的扫描电镜X射线能谱分析方法
- GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则
- GB/T 30834-2014 钢中非金属夹杂物的评定和统计 扫描电镜法
- GB/T 18295-2001 油气储层砂岩样品 扫描电子显微镜分析方法
- GB/T 36422-2018 化学纤维 微观形貌及直径的测定 扫描电镜法
- GB/T 30834-2022 钢中非金属夹杂物的评定和统计 扫描电镜法
- GB/T 25189-2010 微束分析.扫描电镜能谱仪定量分析参数的测定方法
- GB/T 14593-2008 山羊绒、绵羊毛及其混合纤维定量分析方法.扫描电镜法
- GB/T 19267.6-2003 刑事技术微量物证的理化检验 第6部分;扫描电子显微镜法
- GB/T 28873-2012 纳米颗粒生物形貌效应的环境扫描电子显微镜检测方法通则
- GB/T 17361-1998 沉积岩中自生粘土矿物扫描电子显微镜及X射线能谱鉴定方法
- GB/T 17361-2013 微束分析 沉积岩中自生粘土矿物鉴定 扫描电子显微镜及能谱仪方法
中国团体标准，关于近场 扫描 电镜的标准
- T/CSTM 00795-2022 材料实验数据 扫描电镜图片要求
- T/QGCML 1940-2023 扫描电子显微镜原位高温力学测试装置
- T/CSTM 00229-2020 涂料中石墨烯材料的测定扫描电镜-能谱法
- T/NLIA 004-2021 增材制造铝合金扫描电镜原位拉伸 试验方法
- T/CSTM 00346-2021 钢中夹杂物的自动分类和统计 扫描电镜能谱法
- T/GAIA 017-2022 铝及铝合金表面涂层氟含量的测定 扫描电镜能谱法
行业标准-石油，关于近场 扫描 电镜的标准
- SY/T 5162-2014 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
- SY/T 5162-1997 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
- SY 5162-2014 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
上海市标准，关于近场 扫描 电镜的标准
- DB31/T 297-2003 扫描电子显微镜放大倍率校准方法
德国机械工程师协会，关于近场 扫描 电镜的标准
- VDI 3866 Blatt 5-2004 技术产品中石棉的测定扫描电镜法
- VDI 3866 Blatt 5-2017 技术产品中石棉的测定扫描电镜法
- VDI 3861 Blatt 2-2008 固定源排放废气中无机纤维颗粒的测量扫描电子显微镜法
- VDI 3492-2004 室内空气测量-环境空气测量-无机纤维颗粒的测量-扫描电子显微镜法
- VDI 3492-2013 室内空气测量-环境空气测量-无机纤维颗粒的测量-扫描电子显微镜法
国家能源局，关于近场 扫描 电镜的标准
- SY/T 5162-2021 岩石样品扫描电子显微镜分析方法
RU-GOST R，关于近场 扫描 电镜的标准
- GOST R ISO 27911-2015 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
- GOST R 8.594-2009 确保测量一致性的国家体系.扫描电子显微镜
- GOST R 8.636-2007 国家测量统一性保证体系.扫描电子显微镜.校准方法
- GOST 8.594-2009 国家测量统一性保证体系.扫描电子显微镜.鉴定方法
- GOST R 8.631-2007 国家测量统一性保证体系.扫描电子测量显微镜.验证方法
广东省标准，关于近场 扫描 电镜的标准
- DB44/T 1527-2015 微束分析 扫描电镜 图像清晰度评价方法
江苏省标准，关于近场 扫描 电镜的标准
- DB32/T 4546-2023 电镜扫描硅藻图像自动化检验技术规范
- DB32/T 3459-2018 石墨烯薄膜微区覆盖度测试 扫描电子显微镜法
行业标准-司法，关于近场 扫描 电镜的标准
- SF/T 0139-2023 泥土检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
国际电工委员会，关于近场 扫描 电镜的标准
- IEC TR 61967-1-1:2010 集成电路.电磁辐射管理.第1部分:定义和一般条件.近似场扫描数据交换格式
- IEC TR 61967-1-1:2015 集成电路.电磁发射的测量.第1-1部分:一般条件和定义.近场扫描数据交换格式
- IEC 61967-1-1:2010 集成电路.电磁放射性的测量.第1-1部分:一般情况和定义.近场扫描数据交换格式
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于近场 扫描 电镜的标准
- GB/T 27788-2020 微束分析 扫描电镜 图像放大倍率校准导则
- GB/T 38783-2020 贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测定方法
- GB/T 35099-2018 微束分析 扫描电镜-能谱法 大气细粒子单颗粒形貌与元素分析
国家军用标准-总装备部，关于近场 扫描 电镜的标准
- GJB 737.11-1993 火工品药剂试验方法 粒度测定 扫描电镜法
SE-SIS，关于近场 扫描 电镜的标准
- SIS SS-ISO 9220:1989 金属涂层．涂层厚度测量．扫描电子显微镜方法
- SIS SS CECC 00013-1985 基本规范．半导体芯片的扫描电子显微镜观察
欧洲标准化委员会，关于近场 扫描 电镜的标准
- EN ISO 9220:2022 金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
- EN ISO 9220:1994 金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法(ISO 9220-1988)
- EN ISO 19749:2023 纳米技术.用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
- prEN ISO 9220:2021 金属镀层-镀层厚度的测量-扫描电子显微镜法（ISO/DIS 9220:2021）
法国标准化协会，关于近场 扫描 电镜的标准
- NF A91-108:1995 金属镀层.镀层厚度的测量.扫描电子显微镜法
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 金属镀层 镀层厚度的测量 扫描电子显微镜法
- NF EN ISO 9220:2022 金属涂层.涂层厚度的测量.扫描电子显微镜法
- NF X21-005:2006 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 扫描电子显微镜 评价图像清晰度的方法
- XP ISO/TS 24597:2011 微束分析 - 扫描电子显微镜 - 评估图像清晰度的方法
- NF T16-403*NF ISO 19749:2021 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量粒径和形状分布
- NF T25-111-4:1991 碳纤维-织构和结构-第4部分：扫描电子显微镜断口法
- NF EN ISO 19749:2023 纳米技术 - 通过扫描电子显微镜测定颗粒尺寸和形状分布
丹麦标准化协会，关于近场 扫描 电镜的标准
- DS/EN ISO 9220:1995 金属镀层 镀层厚度的测量 扫描电子显微镜法
- DS/ISO 19749:2021 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量粒径和形状分布
德国标准化学会，关于近场 扫描 电镜的标准
- DIN EN ISO 9220:2022-05 金属涂层-涂层厚度的测量-扫描电子显微镜法
- DIN EN ISO 9220:2021 金属涂层-涂层厚度的测量-扫描电子显微镜法（ISO/DIS 9220:2021）
- DIN EN ISO 19749:2023-07 纳米技术 - 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布（ISO 19749:2021）
- DIN EN ISO 9220:1995 金属镀层.镀层厚度测量.电子扫描显微镜法 (ISO 9220:1988); 德文版本 EN ISO 9220:1994
ES-UNE，关于近场 扫描 电镜的标准
- UNE-EN ISO 9220:2022 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜方法
- UNE-EN ISO 19749:2023 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
工业和信息化部，关于近场 扫描 电镜的标准
- YS/T 1491-2021 镍基高温合金粉末球形率测定方法 扫描电镜法
- SJ/T 11759-2020 光伏电池电极栅线高宽比的测量 激光扫描共聚焦显微镜法
行业标准-公共安全标准，关于近场 扫描 电镜的标准
- GA/T 1939-2021 法庭科学 电流斑检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GA/T 1938-2021 法庭科学 金属检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GA/T 1937-2021 法庭科学 橡胶检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GA/T 1418-2017 法庭科学玻璃物证的元素成分检验 扫描电镜/能谱法
- GA/T 1522-2018 法庭科学 射击残留物检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GA/T 1521-2018 法庭科学 塑料元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GA/T 1519-2018 法庭科学 墨粉元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
- GA/T 909-2010 微量物证的提取、包装方法 扫描电子显微镜/能谱法检验射击残留物
- GA/T 1520-2018 法庭科学 黑火药、烟火药元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
福建省地方标准，关于近场 扫描 电镜的标准
- DB35/T 110-2000 油漆物证检测电子探针和扫描电镜X射线能谱分析方法
国家军用标准-国防科工委，关于近场 扫描 电镜的标准
- GJB 5891.6-2006 火工品药剂试验方法 第6部分：粒度测定 扫描电镜法
AENOR，关于近场 扫描 电镜的标准
- UNE-EN ISO 9220:1996 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法 （ISO 9220:1988）
立陶宛标准局，关于近场 扫描 电镜的标准
- LST EN ISO 9220:2001 金属镀层-镀层厚度的测量-扫描电子显微镜法（ISO 9220:1988）
AT-ON，关于近场 扫描 电镜的标准
- OENORM EN ISO 9220:2021 金属镀层-镀层厚度的测量-扫描电子显微镜法（ISO/DIS 9220:2021）
行业标准-电子，关于近场 扫描 电镜的标准
- SJ/T 11006-1996 半导体电视集成电路行场扫描电路测试方法的基本原理
- SJ/T 11008-1996 电子元器件详细规范 半导体电视集成电路CD11235CP行、场扫描电路
- SJ/T 10987-1996 电子元器件详细规范 半导体电视集成电路CD5435CP磁场扫描电路
- SJ/T 11087-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CD7698CP行场扫描及色处理电路
- SJ/T 10784-1996 电子元器件详细规范 半导体集成电路CD7609CP行、场扫描电路（可供认证用）
BE-NBN，关于近场 扫描 电镜的标准
- NBN EN ISO 9220:1995 金属保护层．保护层厚度的测定：使用电子扫描显微镜（ISO 9220-1988）
山东省地方标准，关于近场 扫描 电镜的标准
- DB37/T 420.2-2004 海水养殖鱼类指状拟舟虫病诊断规程 第二部分：扫描电镜诊断法
未注明发布机构，关于近场 扫描 电镜的标准
- BS CECC 13:1985(1999) 电子元件质量评估协调制度：基本规范：半导体芯片的扫描电子显微镜检查
行业标准-航空，关于近场 扫描 电镜的标准
- HB 20094.4-2012 航空工作液中磨损金属含量检测 第4部分：扫描电镜和能谱仪检测法
