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电子显微镜 系统

本专题涉及电子显微镜 系统的标准有410条。

国际标准分类中，电子显微镜 系统涉及到光学设备、光学和光学测量、分析化学、计量学和测量综合、词汇、空气质量、焊接、钎焊和低温焊、长度和角度测量、教育、航空航天用流体系统和零部件、光电子学、激光设备、电子元器件组件、电子元器件综合、金属材料试验、犯罪行为防范、热力学和温度测量、技术制图、表面处理和镀涂、电子显示器件、复合增强材料、建筑材料、橡胶和塑料用原料、物理学、化学、半导体分立器件、集成电路、微电子学、机械试验、钢铁产品、陶瓷、文献成像象技术、商用车辆、涂料和清漆、医学科学和保健装置综合、医疗设备、纸和纸板、造船和海上构筑物综合、燃气轮机和蒸汽轮机、蒸汽机、涂料配料、纺织纤维、微生物学。

在中国标准分类中，电子显微镜 系统涉及到放大镜与显微镜、电子光学与其他物理光学仪器、基础标准与通用方法、光学仪器综合、、计量综合、电磁计量、教育、学位、学衔、技术管理、化学计量、检验专用设备、教学专用仪器、记录仪器及光线示波器、光学设备、燃油系统及其附件、电子元件综合、温度与压力仪表、化学试剂综合、石油地质勘探、石油勘探、开发与集输工程综合、半导体发光器件、稀有金属及其合金分析方法、金相检验方法、犯罪鉴定技术、公共医疗设备、材料防护、电化学、热化学、光学式分析仪器、金属化学分析方法综合、油页岩、混凝土、集料、灰浆、砂浆、航天用液压元件与附件、气体介质与放射性物质采样方法、大气环境有毒害物质分析方法、物质成份分析仪器与环境监测仪器、半导体分立器件综合、医用光学仪器设备与内窥镜、油、气处理设备、火工产品、光电子器件综合、炭黑、工业防尘防毒技术、大气、水、土壤环境质量标准、钢铁与铁合金分析方法、光学计量、特种陶瓷、化学、图书馆、档案、文献与情报工作、液压、冷气系统及其附件、造纸综合、化妆品、航空仪表、环境卫生、纸、卫生、安全、劳动保护、燃气轮机及其辅助设备、数据通信设备、微型电机、信息传输指标、水环境有毒害物质分析方法。


英国标准学会，关于电子显微镜 系统的标准

  • BS 7012-12:1997 光学显微镜 偏光显微镜参考系统
  • BS ISO 25498:2018 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 扫描电子显微镜 用于扫描电子显微镜（TIFF/SEM）的标记图像文件格式
  • BS EN ISO 14880-1:2005 光学和光子学.显微透镜系列.词汇
  • BS ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.图像放大校准指南
  • BS ISO 25498:2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
  • BS ISO 21466:2019 微束分析 扫描电子显微镜 CDSEM评估关键尺寸的方法
  • BS ISO 16700:2016 微束分析 扫描电子显微镜 校准图像放大率的指南
  • BS EN ISO 9220:1989 金属镀层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
  • BS EN ISO 14880-1:2016 光学和光子学.显微透镜系列.词汇和常规属性
  • BS EN ISO 9220:2022 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法
  • BS EN ISO 14880-2:2007 光学和光子学.显微物镜系列.波像差的试验办法
  • BS ISO 23420:2021 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法
  • BS EN ISO 14880-4:2006 光学和光子学.显微透镜系列.几何学特征试验方法
  • BS ISO 24639:2022 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱元素分析能量标度的校准程序
  • 18/30344520 DC BS ISO 21466 微束分析 扫描电子显微镜 CD-SEM 评估关键尺寸的方法
  • BS ISO 13794:1999 环境空气.石棉纤维的测定.间接传递电子显微镜法
  • PD ISO/TS 10797:2012 纳米技术 使用透射电子显微镜表征单壁碳纳米管
  • BS CECC 00013:1985 电子元器件质量评定协调体系.基本规范:半导体小片的扫描电子显微镜检验
  • 21/30394409 DC BS ENISO 9220 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱分析能量分辨率的测定方法
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639 微束分析 分析电子显微镜 电子能量损失谱元素分析能量标度的校准程序
  • BS ISO 19749:2021 纳米技术 用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
  • 15/30292710 DC BS ISO 19214 透射电子显微镜测定线状晶体生长方向的指南
  • BS ISO 10312:2019 周围空气 石棉纤维的测定 直接转移透射电子显微镜法
  • BS ISO 13794:2019 周围空气 石棉纤维的测定 间接转移透射电子显微镜法
  • BS EN ISO 21363:2022 纳米技术 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
  • BS EN ISO 19749:2023 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
  • BS ISO 21363:2020 纳米技术 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
  • BS ISO 20263:2017 微束分析 分析电子显微镜 层状材料横截面图像中界面位置的确定方法
  • BS ISO 14966:2019 周围空气 无机纤维颗粒数值浓度的测定 扫描电子显微镜法
  • PD ISO/TS 22292:2021 纳米技术 使用透射电子显微镜重建棒状纳米物体的 3D 图像
  • BS EN ISO 14880-3:2006 光学和光子学.显微镜系列.不同于波前像差的光学特征试验办法
  • BS ISO 9345-2:2014 显微镜. 相对机械参考平面的成像距离. 无限远校正光学系统
  • BS PD ISO/TS 22292:2021 纳米技术 利用透射电子显微镜重建杆支撑纳米物体的三维图像
  • 18/30351679 DC BS ISO 19749 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
  • 18/30351714 DC BS ISO 21363 纳米技术 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
  • BS ISO 14966:2002 环境空气.无机纤维颗粒的数值浓度的测定.扫描电子显微镜检查法
  • 18/30375050 DC BS ISO 14966 环境空气 无机纤维颗粒数值浓度的测定 扫描电子显微镜法
  • BS ISO 11952:2019 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用 SPM 确定几何量：测量系统的校准
  • BS ISO 29301:2017 微束分析 分析电子显微镜 利用具有周期性结构的参考材料校准图像放大倍率的方法
  • BS ISO 29301:2023 微束分析 分析电子显微镜 利用具有周期性结构的参考材料校准图像放大倍率的方法
  • BS ISO 9345-2:2003 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.无限大光学校正系统
  • 19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于电子探针显微镜或电子探针微量分析仪(EPMA)的能量色散 X 射线光谱仪的规格和检查的选定仪器性能参数
  • BS EN ISO 17751-2:2023 纺织品 羊绒、羊毛等特种动物纤维及其混纺品的定量分析扫描电子显微镜法
  • BS DD ISO/TS 10798:2011 毫微技术.利用扫描电子显微镜和能量色散X射线光谱法分析得出单层碳纳米管的表示特征
  • DD ISO/TS 10798:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析表征单壁碳纳米管
  • BS ISO 29301:2010 微光束分析.分析透射电子显微镜法.利用具有周期性结构的标准物质进行标定图像放大的方法
  • BS EN ISO 17751-2:2016 纺织品. 羊绒, 羊毛, 其他特种动物纤维及其混纺织物的定量分析. 扫描电子显微镜法
  • BS EN 62047-4:2010 半导体装置.微电机装置.微电子机械系统(MEMS)一般规格

行业标准-机械，关于电子显微镜 系统的标准

国际标准化组织，关于电子显微镜 系统的标准

  • ISO/TS 21383:2021 微束分析.扫描电子显微镜.定量测量用扫描电子显微镜的鉴定
  • ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析
  • ISO 8576:1996 光学和光学仪器 显微镜 偏光显微镜的参考系统
  • ISO 15932:2013 微光束分析.分析电子显微镜.词汇
  • ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析电子显微镜 透射电子显微镜测定线状晶体表观生长方向的方法
  • ISO 22493:2008 微光束分析.扫描电子显微镜方法.词汇
  • ISO 16700:2004 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
  • ISO 16700:2016 微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南
  • ISO 25498:2010 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
  • ISO 25498:2018 微光束分析.解析电子显微测定法.透射式电子显微镜对选定区域进行电子衍射分析
  • ISO 19214:2017 微束分析. 分析电子显微术. 采用透射电子显微镜术测定丝状晶体显著增长方向的方法
  • ISO/TS 24597:2011 微光束分析.扫描电子显微镜检查法.图像清晰度评价法
  • ISO 21466:2019 微束分析.扫描电子显微镜.用CD-SEM评定临界尺寸的方法
  • ISO 9220:1988 金属覆盖层 镀层厚度测量 扫描电子显微镜法
  • ISO 9220:2022 金属涂层.涂层厚度的测量.扫描电子显微镜法
  • ISO 23420:2021 微束分析.分析电子显微镜.电子能量损失谱分析用能量分辨率的测定方法
  • ISO 13794:1999 环境空气 石棉纤维的测定 间接传递电子显微镜法
  • ISO 10312:1995 环境空气 石棉纤维的测定 直接传递电子显微镜法
  • ISO 21363:2020 纳米技术 - 通过透射电子显微镜测定粒度分布的方案
  • ISO 14880-1:2001/Cor 2:2005 光学和光子学.显微物镜系列.第1部分:词汇.技术勘误2
  • ISO 14880-1:2016 光学和光子学.显微物镜系列.第1部分:词汇和常规属性
  • ISO 13794:2019 环境空气 - 石棉纤维的测定 - 间接转移透射电子显微镜法
  • ISO 10312:2019 环境空气.石棉纤维的测定.直接转移透射电子显微镜法
  • ISO 19749:2021 纳米技术.用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
  • ISO/WD TR 23683:2023 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用电扫描探针显微镜对半导体器件中载流子浓度进行实验量化的指南
  • ISO 14880-2:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第2部分:波像差的试验办法
  • ISO 24639:2022 微束分析.分析电子显微镜.用电子能量损失光谱法进行元素分析的能量标度校准程序
  • ISO/CD 20263:2023 微束分析 分析电子显微镜 层状材料横截面图像中界面位置的确定方法
  • ISO 14966:2019 环境空气.无机纤维颗粒数值浓度的测定.扫描电子显微镜法
  • ISO 14880-4:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第4部分:几何学特征的试验办法
  • ISO/TS 10797:2012 纳米技术.利用透射电子显微镜法进行单壁碳纳米管特征探测
  • ISO/TS 22292:2021 纳米技术.用透射电子显微镜重建棒支撑纳米物体的三维图像
  • ISO 20263:2017 微束分析 - 分析透射电子显微镜 - 分层材料横截面图像中界面位置的测定方法
  • ISO 14966:2002 环境空气.无机纤维颗粒的数值浓度的测定.扫描电子显微镜检查法
  • ISO 29301:2017 微光束分析.分析电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法
  • ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
  • ISO 11952:2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准
  • ISO/FDIS 29301:2023 微束分析 分析电子显微镜 使用具有周期性结构的参考材料校准图像放大倍率的方法
  • ISO 29301:2023 微束分析 分析电子显微镜 使用具有周期性结构的参考材料校准图像放大倍率的方法
  • ISO 14966:2002/cor 1:2007 环境空气.无机纤维颗粒数值浓度的测定.扫描电子显微镜法.技术勘误1
  • ISO 9345-2:2014 显微镜. 相对机械参考平面的成像距离. 第2部分: 无限远校正光学系统
  • ISO 29301:2010 微光束分析.分析的透射电子显微镜法.具有周期性结构的基准物质校准图像放大的方法
  • ISO 14880-3:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第3部分:不同于波像差的光学特征的试验办法
  • ISO 9345:2019 显微镜 - 与机械参考平面有关的成像距离 - 第2部分:无限远校正的光学系统
  • ISO 9345-2:2003 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:无限大光学校正系统

国家质检总局，关于电子显微镜 系统的标准

  • GB/T 22061-2008 显微镜.偏光显微术的参考系统
  • GB 7667-1996 电子显微镜X射线泄漏剂量
  • GB 7667-2003 电子显微镜X射线泄漏剂量
  • GB/T 18907-2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法
  • GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法
  • GB/T 21637-2008 冠状病毒透射电子显微镜形态学鉴定方法
  • GB/T 18295-2001 油气储层砂岩样品 扫描电子显微镜分析方法
  • GB/T 19267.6-2003 刑事技术微量物证的理化检验 第6部分;扫描电子显微镜法
  • GB/T 28044-2011 纳米材料生物效应的透射电子显微镜检测方法通则
  • GB/T 42659-2023 表面化学分析 扫描探针显微术 采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准
  • GB/T 17507-1998 电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样通用技术条件
  • GB/T 18873-2002 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线 能谱定量分析通则
  • GB/T 18873-2008 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则
  • GB/T 17361-2013 微束分析 沉积岩中自生粘土矿物鉴定 扫描电子显微镜及能谱仪方法
  • GB/T 19267.6-2008 刑事技术微量物证的理化检验 第6部分:扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GB/Z 21738-2008 一维纳米材料的基本结构.高分辨透射电子显微镜检测方法
  • GB/T 17507-2008 透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件
  • GB/T 28873-2012 纳米颗粒生物形貌效应的环境扫描电子显微镜检测方法通则
  • GB/T 17361-1998 沉积岩中自生粘土矿物扫描电子显微镜及X射线能谱鉴定方法
  • GB/T 2679.11-2008 纸和纸板 无机填料和无机涂料的定性分析.电子显微镜/X射线能谱法
  • GB/T 2679.11-1993 纸和纸板中无机填料和无机涂料的定性分析 电子显微镜/X射线能谱法
  • GB/T 22057.2-2008 显微镜.相对机械参考平面的成像距离.第2部分:无限远校正光学系统

日本工业标准调查会，关于电子显微镜 系统的标准

  • JIS K 0132:1997 扫描电子显微镜总则
  • JIS K 3850-1:2006 空中纤维分子的测定.第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法
  • JIS B 7251:2000 偏振光显微镜的参照系统
  • JIS K 3850-1:2000 空气中纤维粒子的测量方法.第1部分:光学显微镜法和扫描电子显微镜法
  • JIS K 0149-1:2008 微光束分析.扫描电子显微镜法.校准图像放大指南
  • JIS K 3850-3:2000 空气中纤维粒子的测量方法.第3部分:间接传递透射电子显微镜法
  • JIS K 3850-2:2000 空气中纤维粒子的测量方法.第2部分:直接传递透射电子显微镜法
  • JIS R 1633:1998 扫描电子显微镜观察用精细陶瓷和陶瓷粉末的样品制备方法
  • JIS B 7132-2:2009 显微镜.成像距离相关的机械基准面.第2部分:无限大光学校正系统
  • JIS B 7132-2:2022 显微镜 与机械参考平面相关的成像距离 第2部分：无限远校正光学系统

德国标准化学会，关于电子显微镜 系统的标准

  • DIN ISO 8576:2002-06 光学和光学仪器 显微镜 偏光显微镜参考系统
  • DIN ISO 8576:2002 光学和光学仪器.显微镜.偏振光显微镜基准系统 (ISO 8576:1996)
  • DIN SPEC 52407:2015-03 纳米技术 使用原子力显微镜(AFM)和透射扫描电子显微镜(TSEM)进行粒子测量的准备和评估方法
  • DIN EN ISO 9220:2022-05 金属涂层-涂层厚度的测量-扫描电子显微镜法
  • DIN EN ISO 9220:2021 金属涂层-涂层厚度的测量-扫描电子显微镜法（ISO/DIS 9220:2021）
  • DIN EN ISO 19749:2023-07 纳米技术 - 通过扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布（ISO 19749:2021）
  • DIN EN ISO 21363:2022-03 纳米技术 - 通过透射电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布 (ISO 21363:2020)
  • DIN EN ISO 9220:1995 金属镀层.镀层厚度测量.电子扫描显微镜法 (ISO 9220:1988); 德文版本 EN ISO 9220:1994
  • DIN EN ISO 14880-4:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第4部分:几何学特征的试验办法(ISO 14880-4-2006)
  • DIN EN 60749-35:2007-03 半导体器件-机械和气候测试方法-第35部分：塑料封装电子元件的声学显微镜
  • DIN ISO 16000-27:2014-11 室内空气 第27部分：通过 SEM（扫描电子显微镜）测定表面上沉积的纤维灰尘（直接法）
  • DIN ISO 9345-2:2005 光学和光学仪器.显微镜.相对机械参考面的象距.第2部分:完全修正光学系统
  • DIN EN 61174:2016-06 海上导航和无线电通信设备和系统 电子海图显示和信息系统

韩国科技标准局，关于电子显微镜 系统的标准

KR-KS，关于电子显微镜 系统的标准

法国标准化协会，关于电子显微镜 系统的标准

国家计量技术规范，关于电子显微镜 系统的标准

中国团体标准，关于电子显微镜 系统的标准

国家计量检定规程，关于电子显微镜 系统的标准

行业标准-教育，关于电子显微镜 系统的标准

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于电子显微镜 系统的标准

  • GB/T 33834-2017 微束分析 扫描电子显微术 生物试样扫描电子显微镜分析方法
  • GB/T 34331-2017 黄瓜绿斑驳花叶病毒透射电子显微镜检测方法
  • GB/T 34168-2017 金、银纳米颗粒材料生物效应的透射电子显微镜检测方法
  • GB/T 34831-2017 纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法
  • GB/T 33839-2017 基于生物效应含碳基纳米材料生物样品的透射电子显微镜检测方法

德国机械工程师协会，关于电子显微镜 系统的标准

RU-GOST R，关于电子显微镜 系统的标准

  • GOST R 8.636-2007 国家测量统一性保证体系.扫描电子显微镜.校准方法
  • GOST 8.594-2009 国家测量统一性保证体系.扫描电子显微镜.鉴定方法
  • GOST 21006-1975 电子显微镜.术语、定义和字母符号
  • GOST R 8.631-2007 国家测量统一性保证体系.扫描电子测量显微镜.验证方法
  • GOST R 8.594-2009 确保测量一致性的国家体系.扫描电子显微镜
  • GOST 8.593-2009 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.鉴定方法
  • GOST R 8.630-2007 国家测量统一性保证体系.原子能扫描探测显微镜.验证方法
  • GOST R 8.635-2007 国家测量统一性保证体系.原子力扫描探针显微镜.校准方法
  • GOST 15114-1978 光学设备的显微镜系统.分辨极限的目视测定法
  • GOST R ISO 27911-2015 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 近场光学显微镜横向分辨率的定义和校准
  • GOST R 8.593-2009 确保测量一致性的国家体系.原子力扫描隧道显微镜.检定规程
  • GOST R 8.697-2010 确保测量一致性的国家体系.晶体中的平面间距.利用透射电子显微镜的测量方法
  • GOST ISO 16000-27-2017 室内空气 第27部分 通过 SEM（扫描电子显微镜）（直接法）测定表面上沉降的纤维粉尘

美国机动车工程师协会，关于电子显微镜 系统的标准

  • SAE ARP598C-2003 (R)液体动力系统的航空显微镜粒度法和微粒子污染
  • SAE AS598-2012 用于液压驱动系统中微粒污染物的宇航测微法和显微镜计数

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于电子显微镜 系统的标准

  • GB/T 35098-2018 微束分析 透射电子显微术 植物病毒形态学的透射电子显微镜鉴定方法

美国材料与试验协会，关于电子显微镜 系统的标准

  • ASTM E766-98(2003) 校准扫描电子显微镜的放大倍数
  • ASTM E766-98 校准扫描电子显微镜的放大倍数
  • ASTM E766-98(2008)e1 扫描电子显微镜的放大系数的标准校正规范
  • ASTM E2090-00 利用光电子显微镜和扫描电子显微镜对清洁室擦刷工具释放粒子和纤维的尺寸差异计数的标准试验方法
  • ASTM E2090-12 利用光电子显微镜和扫描电子显微镜对清洁室擦刷工具释放粒子和纤维的尺寸差异计数的标准试验方法
  • ASTM E986-97 扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
  • ASTM E986-04(2017) 扫描电子显微镜光束尺寸表征的标准实践
  • ASTM E766-14 扫描电子显微镜放大倍率校准的标准方法
  • ASTM E3143-18a 脂质体低温透射电子显微镜的标准实施规程
  • ASTM E3143-18 脂质体低温透射电子显微镜的标准实施规程
  • ASTM E3143-18b 脂质体低温透射电子显微镜的标准实施规程
  • ASTM C1723-16(2022) 用扫描电子显微镜检查硬化混凝土的标准指南
  • ASTM C1723-10 用扫描电子显微镜检验硬化混凝土的标准指南
  • ASTM C1723-16 用扫描电子显微镜检查硬化混凝土的标准指南
  • ASTM D3849-13 用电子显微镜对碳黑形态特性的标准试验方法
  • ASTM D3849-14 用电子显微镜对碳黑形态特性的标准试验方法
  • ASTM E986-04 扫描电子显微镜射束尺寸特征描述标准实施规程
  • ASTM D3849-95a(2000) 用电子显微镜测定炭黑形态特征的标准试验方法
  • ASTM D3849-07 用电子显微镜测定炭黑形态特征的标准试验方法
  • ASTM E766-14(2019) 校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
  • ASTM E986-04(2010) 扫描电子显微镜射束尺寸特征描述标准实施规程
  • ASTM D3849-22 用电子显微镜测定炭黑形态特征的标准试验方法
  • ASTM E3143-18b(2023) 进行脂质体冷冻透射电子显微镜检查的标准实践
  • ASTM F1372-93(1999) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜（SEM）的标准测试方法
  • ASTM F1372-93(2020) 用于气体分布系统部件的金属表面条件扫描电子显微镜（SEM）的标准测试方法
  • ASTM F1372-93(2005) 气体分配系统组件用金属表面状态的扫描式电子显微镜(SEM)分析的标准试验方法
  • ASTM F1372-93(2012) 气体分配系统组件用金属表面状态的扫描式电子显微镜 (SEM) 分析的标准试验方法
  • ASTM E766-14e1 用于校准扫描电子显微镜的放大倍数的标准实施规程
  • ASTM D7201-06(2020) 通过相位对比显微镜（带有透射电子显微镜选项）在工作场所取样和计数机载纤维（包括石棉纤维）的标准实践
  • ASTM B748-90(2006) 用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
  • ASTM D3849-02 炭黑的标准试验方法.用电子显微镜分析炭黑的形态特征
  • ASTM D3849-04 炭黑的标准试验方法.用电子显微镜分析炭黑的形态特征
  • ASTM B748-90(1997) 用扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的方法
  • ASTM D7201-06(2011) 用相衬显微镜(也可选择透射电子显微镜)在工作场所采样,并计算空气纤维(包括石棉纤维)含量的标准操作规程
  • ASTM E2142-08(2015) 用扫描电子显微镜评定和分类钢中夹杂物的标准试验方法
  • ASTM E2142-08 用扫描电子显微镜分级和分类铁中内含物的标准试验方法
  • ASTM D3849-14a 炭黑的标准试验方法. 使用电子显微镜测定炭黑的形态特征
  • ASTM E2142-08(2023) 用扫描电子显微镜评定和分类钢中夹杂物的标准试验方法
  • ASTM B748-90(2010) 扫描电子显微镜测量横截面测定金属涂层厚度的标准试验方法
  • ASTM E2809-13 在法医油漆检查中使用扫描电子显微镜/X射线光谱法的标准指南
  • ASTM B748-90(2021) 用扫描电子显微镜测量横截面测量金属涂层厚度的标准试验方法
  • ASTM C457/C457M-10a 硬化混凝土中的空腔系统的参数的显微镜检验的标准试验方法
  • ASTM E1588-95(2001) 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
  • ASTM E1588-08 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
  • ASTM E1588-10 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
  • ASTM E2142-01 利用扫描电子显微镜测定钢中杂质的额定值和分级的标准试验方法
  • ASTM E1588-95 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
  • ASTM B748-90(2016) 通过用扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的试验方法
  • ASTM D4454-85(1997) 用显微镜同时计数水生系统中总细菌和呼吸细菌的标准试验方法
  • ASTM D5756-02 用透射电子显微镜对尘埃中石棉质量浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法
  • ASTM D5756-95 用透射电子显微镜对尘埃中石棉质量浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法
  • ASTM B748-90(2001) 通过扫描电子显微镜测量横截面来测量金属涂层厚度的标准测试方法
  • ASTM D5755-95 用透射电子显微镜对尘埃中石棉结构值浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法
  • ASTM D5755-02 用透射电子显微镜对尘埃中石棉结构值浓度作微真空取样和间接分析的标准试验方法
  • ASTM D5756-02(2008) 用透射电子显微镜对尘埃中石棉块表面负荷作微真空取样和间接分析的标准试验方法
  • ASTM D5755-03 用石棉结构值表面负荷用透射电子显微镜对尘埃微真空取样和间接分析的标准试验方法
  • ASTM D5755-09 用石棉结构值表面负荷用透射电子显微镜对尘埃微真空取样和间接分析的标准试验方法
  • ASTM D5755-09(2014)e1 用石棉结构值表面负荷用透射电子显微镜对尘埃微真空取样和间接分析的标准试验方法
  • ASTM E1588-20 通过扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱法进行枪支残留分析的标准实践
  • ASTM D6056-96(2011) 工作环境下空气中单晶陶瓷晶须浓度透射电子显微镜测定的标准试验方法
  • ASTM F1438-93(1999) 用于气体分配系统部件扫描隧道显微镜测定表面粗糙度的标准测试方法
  • ASTM F1438-93(2020) 用于气体分配系统部件扫描隧道显微镜测定表面粗糙度的标准测试方法
  • ASTM D605-82(1996)e1 用电子显微镜扫描测定工作环境下空气中单晶陶瓷晶须浓度的标准试验方法
  • ASTM D6059-96(2011) 用电子显微镜扫描测定工作环境下空气中单晶陶瓷晶须浓度的标准试验方法
  • ASTM F1438-93(2012) 使用气体分配系统组件中扫描隧道显微镜测定表面粗糙度的标准试验方法
  • ASTM E280-98(2004)e1 在法医聚合物检验中使用扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱（SEM/EDS）的标准指南
  • ASTM E1588-07e1 用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南
  • ASTM E1588-07 用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南
  • ASTM E280-21 在法医聚合物检验中使用扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱（SEM/EDS）的标准指南
  • ASTM E2809-22 在法医聚合物检验中使用扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱（SEM/EDS）的标准指南
  • ASTM D4454-85(2002) 用显微镜进行水生系统中细菌总量和(呼吸时)呼出的细菌的同步计数试验方法

美国电子电路和电子互连行业协会，关于电子显微镜 系统的标准

行业标准-石油，关于电子显微镜 系统的标准

上海市标准，关于电子显微镜 系统的标准

(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于电子显微镜 系统的标准

国际电工委员会，关于电子显微镜 系统的标准

  • IEC PAS 62191:2000 非气密封装电子元件的声学显微镜
  • ISO TS 10797:2012 纳米技术.使用透射电子显微镜对单壁碳纳米管进行表征
  • ISO TS 22292:2021 纳米技术——使用透射电子显微镜对棒支撑的纳米物体进行3D图像重建

国家能源局，关于电子显微镜 系统的标准

工业和信息化部，关于电子显微镜 系统的标准

CZ-CSN，关于电子显微镜 系统的标准

江苏省标准，关于电子显微镜 系统的标准

行业标准-司法，关于电子显微镜 系统的标准

欧洲标准化委员会，关于电子显微镜 系统的标准

  • EN ISO 14880-1:2019 光学和光子学.显微物镜系列.第1部分:词汇
  • EN ISO 14880-1:2005 光学和光子学.显微物镜系列.第1部分:词汇
  • EN ISO 9220:2022 金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法
  • EN ISO 21363:2022 纳米技术 - 通过透射电子显微镜测定粒度分布的方案
  • EN ISO 9220:1994 金属覆盖层.镀层厚度测量.扫描电子显微镜法(ISO 9220-1988)
  • EN ISO 19749:2023 纳米技术.用扫描电子显微镜测量颗粒尺寸和形状分布
  • prEN ISO 9220:2021 金属镀层-镀层厚度的测量-扫描电子显微镜法（ISO/DIS 9220:2021）
  • EN ISO 14880-2:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第2部分:波像差的试验办法
  • prEN ISO 21363:2021 纳米技术 通过透射电子显微镜测量粒径和形状分布（ISO 21363:2020）
  • EN ISO 14880-4:2006 光学和光子学.显微物镜系列.第4部分:几何学特征的试验办法 ISO 14880-4-2006

SE-SIS，关于电子显微镜 系统的标准

丹麦标准化协会，关于电子显微镜 系统的标准

  • DS/EN ISO 9220:1995 金属镀层 镀层厚度的测量 扫描电子显微镜法
  • DS/ISO/TS 10797:2012 纳米技术 使用透射电子显微镜表征单壁碳纳米管
  • DS/ISO 19749:2021 纳米技术 通过扫描电子显微镜测量粒径和形状分布
  • DS/ISO/TS 22292:2021 纳米技术 使用透射电子显微镜对杆状支撑的纳米物体进行 3D 图像重建
  • DS/EN 60749-35:2007 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分：塑料封装电子元件的声学显微镜
  • DS/ISO/TS 10798:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析法表征单壁碳纳米管

ES-UNE，关于电子显微镜 系统的标准

行业标准-公共安全标准，关于电子显微镜 系统的标准

  • GA/T 1939-2021 法庭科学 电流斑检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 1938-2021 法庭科学 金属检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 1937-2021 法庭科学 橡胶检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 909-2010 微量物证的提取、包装方法 扫描电子显微镜/能谱法检验射击残留物
  • GA/T 1522-2018 法庭科学 射击残留物检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 1521-2018 法庭科学 塑料元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 1519-2018 法庭科学 墨粉元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 1520-2018 法庭科学 黑火药、烟火药元素成分检验 扫描电子显微镜/X射线能谱法
  • GA/T 823.3-2018 法庭科学油漆物证的检验方法 第3部分：扫描电子显微镜/X射线能谱法

IT-UNI，关于电子显微镜 系统的标准

  • UNI 7604-1976 用复制品进行的金属材料电子显微镜检测．显微照相检测用复制品的准备
  • UNI 7329-1974 使用复制品进行金属材料的电子显微镜检测．显微结构检测用复制品的准备

未注明发布机构，关于电子显微镜 系统的标准

  • SAE AS598A-2081 用于液压驱动系统中微粒污染物的宇航测微法和显微镜计数
  • BS CECC 13:1985(1999) 电子元件质量评估协调制度：基本规范：半导体芯片的扫描电子显微镜检查
  • DIN EN ISO 21363:2022 纳米技术 – 使用透射电子显微镜测量颗粒尺寸和颗粒形状分布

SAE - SAE International，关于电子显微镜 系统的标准

  • SAE AS598A-2018 用于液压驱动系统中微粒污染物的宇航测微法和显微镜计数
  • SAE AS6296-2016 电子飞行仪表系统（EFIS）显示器

PH-BPS，关于电子显微镜 系统的标准

AENOR，关于电子显微镜 系统的标准

  • UNE-EN ISO 9220:1996 金属涂层 涂层厚度的测量 扫描电子显微镜法 （ISO 9220:1988）
  • UNE 77236:1999 环境空气 石棉纤维的测定 直接转移透射电子显微镜法

立陶宛标准局，关于电子显微镜 系统的标准

AT-ON，关于电子显微镜 系统的标准

国家军用标准-国防科工委，关于电子显微镜 系统的标准

  • GJB 5384.22-2005 烟火药性能试验方法 第21部分:烟雾固态微粒粒子数浓度测定 电子显微镜法
  • GJB 5384.23-2005 烟火药性能试验方法 第23部分:烟雾固态微粒粒度颁布测定 电子显微镜法

国家军用标准-总装备部，关于电子显微镜 系统的标准

  • GJB 8684.22-2015 烟火药性能试验方法 第22部分：烟雾固态微粒粒子数浓度测定 电子显微镜法
  • GJB 8684.23-2015 烟火药性能试验方法 第23部分：烟雾固态微粒粒度分布测定 电子显微镜法
  • GJB 380.8-1998 飞机液压系统污染测试 用显微镜对比法测定工作液固体污染度
  • GJB 380.5-1987 飞机液压系统污染测试 用显微镜计数法测定油液固体颗粒污染度

BE-NBN，关于电子显微镜 系统的标准

  • NBN EN ISO 9220:1995 金属保护层．保护层厚度的测定：使用电子扫描显微镜（ISO 9220-1988）

IPC - Association Connecting Electronics Industries，关于电子显微镜 系统的标准

IX-UIC，关于电子显微镜 系统的标准

美国信息与图像管理协会，关于电子显微镜 系统的标准

  • AIIM TR34-1996 供检查电子图像管理(EIM)和显微摄影系统属性的抽样检验

美国国家标准学会，关于电子显微镜 系统的标准

  • ANSI/ASTM D6059:2001 用扫描电子显微镜测定工作环境空气中单晶陶瓷须晶浓度的方法
  • ANSI/ASTM D6056:2001 用传输电子显微镜测定工作环境空气中单晶陶瓷须晶浓度的方法

行业标准-航空，关于电子显微镜 系统的标准

  • HB 5931.8-1989 飞机液压系统污染测试-用显微镜对比法测定工作液固体污染度
  • HB 6556-1991 民用飞机电子显示系统通用要求
  • HB 5931.5-1986 飞机液压系统污染测试 用显微镜计数法测定工作液固体颗粒污染度

行业标准-商品检验，关于电子显微镜 系统的标准

  • SN/T 2649.1-2010 进出口化妆品中石棉的测定 第1部分：X射线衍射-扫描电子显微镜法

VE-FONDONORMA，关于电子显微镜 系统的标准

NATO - North Atlantic Treaty Organization，关于电子显微镜 系统的标准

陕西省标准，关于电子显微镜 系统的标准

行业标准-汽车，关于电子显微镜 系统的标准

  • QC/T 29105.4-1992 专用汽车液压系统液压油固体污染度测试方法 显微镜颗粒计数法

GOSTR，关于电子显微镜 系统的标准

  • GOST R 58566-2019 光学和光子学 光学电子系统的透镜 测试方法
  • PNST 508-2020 纳米技术 单壁碳纳米管 通过扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱法表征
  • PNST 507-2020 纳米技术 单壁碳纳米管 使用透射电子显微镜和能量色散 X 射线光谱法进行表征

北约标准局，关于电子显微镜 系统的标准

国际电信联盟，关于电子显微镜 系统的标准

ITU-R - International Telecommunication Union/ITU Radiocommunication Sector，关于电子显微镜 系统的标准

IMO - International Maritime Organization，关于电子显微镜 系统的标准

  • T127E-2000 电子海图显示和信息系统（ECDIS）的操作使用
  • TA127E-2012 电子海图显示和信息系统（ECDIS）的操作使用

国际海事组织，关于电子显微镜 系统的标准

  • IMO TA127E-2012 电子海图显示和信息系统（ECDIS）的操作使用

电子显微镜 系统，电子显微镜系统，扫描电子显微镜系统，系统 筛选 系统，gs 系统 系统，系统 系统 ii，is系统，is 系统，in 系统，at 系统，hr系统 hv系统，hr系统 hv 系统，涂层 系统 涂料 系统，悬挂系统试验系统，水处理 系统 系统，环 系统 环 系统，光 系统 光 系统，评价系统,技术,系统,，度 系统 梯度 系统，hr系统+hv 系统。

 

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