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vdi/vde2634
本专题涉及vdi/vde2634的标准有20条。
国际标准分类中，vdi/vde2634涉及到长度和角度测量。
在中国标准分类中，vdi/vde2634涉及到。
SCC，关于vdi/vde2634的标准
- VDI/VDE 2634 BLATT 2-2012 光学 3D 测量系统 表面扫描成像系统
- VDI/VDE 2634 BLATT 3-2008 光学 3D 测量系统 在多个单独视图中进行表面扫描的成像系统
- VDI/VDE 2634 BLATT 1-2002 光学 3D 测量系统 带点状探测的成像系统
- VDI/VDE 2634 BLATT 2-2012 光学 3D 测量系统 表面扫描成像系统
- VDI/VDE 2634 BLATT 3-2008 光学 3D 测量系统 在多个单独视图中进行表面扫描的成像系统
- VDI/VDE 2634 BLATT 1-2002 光学 3D 测量系统 带点状探测的成像系统
德国机械工程师协会，关于vdi/vde2634的标准
- VDI/VDE 2634 Blatt 2-2002 光学 3D 测量系统 基于区域扫描的光学系统
未注明发布机构，关于vdi/vde2634的标准
- VDI VDE 2634 Blatt 3-2008 VDI VDE 2634 Blatt 3-2008
- VDI VDE 2634 Blatt 2-2002 VDI VDE 2634 Blatt 2-2002
- VDI VDE 2634 Blatt 1-2002 VDI VDE 2634 Blatt 1-2002
- VDI VDE 2634 Blatt 2-2012 VDI VDE 2634 Blatt 2-2012
- VDI VDE 2634 Blatt-2 2012-08 VDI VDE 2634 Blatt-2 2012-08
- VDI VDE 2634 Blatt-1 2002-05 VDI VDE 2634 Blatt-1 2002-05
- VDI VDE 2634 Blatt-3 2008-12 VDI VDE 2634 Blatt-3 2008-12
- VDI VDE 2634 Blatt-3 2008-12 (2) VDI VDE 2634 Blatt-3 2008-12 (2)
- VDI VDE 2634 Blatt-3 2008-12(1) VDI VDE 2634 Blatt-3 2008-12(1)
VDI - Verein Deutscher Ingenieure，关于vdi/vde2634的标准
- VDI/VDE 2634 Blatt 2-2000 光学 3D 测量系统 基于区域扫描的系统
- VDI/VDE 2634 Blatt 1-2000 光学 3D 测量系统 具有逐点传感功能的成像系统
- VDI/VDE 2634 Blatt 3-2006 光学 3D 测量系统 在多个单独视图中进行表面扫描的成像系统
- VDI/VDE 2634 Blatt 2-2011 光学 3D 测量系统 表面扫描成像系统
