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单晶衍射仪分析

本专题涉及单晶衍射仪分析的标准有36条。

国际标准分类中，单晶衍射仪分析涉及到教育、辐射防护、无损检测、无机化学、职业安全、工业卫生、分析化学、金属材料试验、非金属矿、空气质量、涂料配料、半导体材料。

在中国标准分类中，单晶衍射仪分析涉及到教学专用仪器、教育、学位、学衔、放射卫生防护、金属无损检验方法、无机化工原料综合、无机盐、基础标准与通用方法、金属物理性能试验方法、金相检验方法、电化学、热化学、光学式分析仪器、非金属矿、工业防尘防毒技术、大气环境有毒害物质分析方法、元素半导体材料。

行业标准-教育，关于单晶衍射仪分析的标准

JY/T 0588-2020 单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则
JY/T 008-1996 四圆单晶X射线衍射仪测定小分子化合物的晶体及分子结构分析方法通则

国家质检总局，关于单晶衍射仪分析的标准

GB 16355-1996 X射线衍射仪和荧光分析仪放射防护标准
GB/T 30904-2014 无机化工产品晶型结构分析 X射线衍射法
GB/T 19421.1-2003 层状结晶二硅酸钠试验方法 δ相层状结晶二硅酸钠定性分析 X射线衍射仪法
GB/T 38532-2020 微束分析电子背散射衍射平均晶粒尺寸的测定
GB/T 8359-1987 高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法

德国标准化学会，关于单晶衍射仪分析的标准

DIN EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
DIN EN 13925-3:2005-07 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第3部分：仪器
DIN ISO 13067:2021-08 微束分析电子背散射衍射平均晶粒尺寸测量
DIN ISO 13067:2021 微束分析电子背散射衍射平均晶粒尺寸的测量（ISO 13067:2020）
DIN 50433-1:1976 无机半导体材料的检验.第1部分:采用X射线衍射现象对单晶体取向的测定

欧洲标准化委员会，关于单晶衍射仪分析的标准

EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器

法国标准化协会，关于单晶衍射仪分析的标准

NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 无损检验.多晶和非晶材料的X射线衍射.第3部分:仪器
NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 工作场所空气通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅第2部分：间接分析法
NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 工作场所空气通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅第1部分：直接过滤法
NF ISO 16258-2:2015 工作场所空气通过 X 射线衍射测定结晶二氧化硅的可吸入部分第2部分：间接分析方法
NF ISO 16258-1:2015 工作场所空气 X 射线衍射法测定结晶二氧化硅的可吸入部分第1部分：直接过滤分析方法

丹麦标准化协会，关于单晶衍射仪分析的标准

DS/EN 13925-3:2005 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第3部分：仪器

立陶宛标准局，关于单晶衍射仪分析的标准

LST EN 13925-3-2005 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第3部分：仪器

AENOR，关于单晶衍射仪分析的标准

UNE-EN 13925-3:2006 无损检测多晶和非晶材料的 X 射线衍射第3部分：仪器

卫生部国家职业卫生标准，关于单晶衍射仪分析的标准

GBZ 115-2002 X射线衍射和荧光分析仪卫生防护标准

英国标准学会，关于单晶衍射仪分析的标准

BS ISO 13067:2020 微束分析电子背散射衍射平均晶粒尺寸的测量
19/30365236 DC BS ISO 13067 微束分析电子背散射衍射平均晶粒尺寸的测量

国际标准化组织，关于单晶衍射仪分析的标准

ISO 13067:2020 微束分析 - 电子反向散射衍射 - 平均晶粒尺寸的测量
ISO 16258-2:2015 工作场所的空气. 采用X射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅. 第2部分: 间接分析法
ISO 16258-1:2015 工作场所的空气. 采用X射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅. 第1部分: 直接过滤法
ISO/CD 5861 表面化学分析 X射线光电子能谱石英晶体单色Al Ka XPS仪器强度校准方法
ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X射线光电子能谱石英晶体单色 Al Kα XPS 仪器强度校准方法

行业标准-黑色冶金，关于单晶衍射仪分析的标准

YB/T 5336-2006 高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于单晶衍射仪分析的标准

GB/T 20724-2021 微束分析薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

行业标准-海关，关于单晶衍射仪分析的标准

HS/T 12-2006 滑石、绿泥石、菱镁石混合相的定量分析 X 射线衍射仪法

KR-KS，关于单晶衍射仪分析的标准

KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化学分析-全反射X射线荧光分析仪测定硅晶片表面元素杂质

美国材料与试验协会，关于单晶衍射仪分析的标准

ASTM D5380-93(2003) 通过X射线衍射分析鉴定涂料中结晶颜料和扩展剂的标准测试方法
ASTM D5380-93(2021) 通过X射线衍射分析鉴定涂料中结晶颜料和扩展剂的标准测试方法

RU-GOST R，关于单晶衍射仪分析的标准

GOST R ISO 16258-1-2017 工作场所空气通过 X 射线衍射分析可吸入结晶二氧化硅第 1 部分. 直接过滤法