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x-射线光电子能谱的应用
本专题涉及x-射线光电子能谱的应用的标准有91条。
国际标准分类中，x-射线光电子能谱的应用涉及到光学和光学测量、分析化学、无损检测、电子元器件综合、长度和角度测量、电学、磁学、电和磁的测量、医学科学和保健装置综合、辐射测量、核能工程、有色金属。
在中国标准分类中，x-射线光电子能谱的应用涉及到电子光学与其他物理光学仪器、基础标准与通用方法、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、光学测试仪器、标准化、质量管理、综合测试系统、电子元件综合、化学、电子测量与仪器综合、勘探采矿和工艺监测核仪器、电化学、热化学、光学式分析仪器、光学计量仪器、核材料、核燃料及其分析试验方法、轻金属及其合金分析方法。
美国材料与试验协会，关于x-射线光电子能谱的应用的标准
- ASTM E995-11 在俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中应用背景消除技术的标准指南
- ASTM E996-04 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
- ASTM E996-10 俄歇电子光谱仪和X射线光电子能谱的报告数据的标准规程
- ASTM E2108-16 X射线光电子能谱仪的电子结合能量标尺的标准实践
- ASTM E995-16 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱背景减法技术标准指南
- ASTM E996-10(2018) 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
- ASTM E996-19 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱中数据报告的标准实施规程
- ASTM E2735-14(2020) 用于选择X射线光电子能谱所需校准的标准指南
- ASTM E996-94(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
- ASTM E902-94(1999) 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准实施规程
- ASTM E1523-97 X射线光电子能谱法中电荷控制和电荷参考技术的标准指南
- ASTM E1523-15 X射线光电子能谱法中电荷控制和电荷参考技术的标准指南
- ASTM E1588-10e1 扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法射击残留物分析的标准指南
- ASTM E1217-11(2019) 用于确定在俄歇电子能谱仪和一些X射线光电子能谱仪中检测到的信号的样品区域的标准实践
- ASTM E995-04 螺旋电子光谱法和X射线光电光谱法中减去背景技术的标准指南
- ASTM E1588-16 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准指南
- ASTM E2108-10 用X射线光电子分光计测定电子能量捆绑刻度的标准实施规程
- ASTM E902-05 检查X射线光电子光谱仪的操作特性的标准实施规程
- ASTM E1217-00 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
- ASTM E1217-05 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号的样品面积的标准实施规范
- ASTM E2735-14 选择X射线光电子光谱40;XPS41试验所需校准的标准指南
- ASTM E2735-13 X射线光电子光谱法 (XPS) 试验所需校准选择的标准指南
- ASTM E1217-11 用X射线光电子光谱仪和俄歇电子光谱仪测定影响检测信号样品面积的标准操作规程
国际标准化组织，关于x-射线光电子能谱的应用的标准
- ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
- ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
- ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
- ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则
- ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 射线光电子能谱 确定背景的程序
- ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
- ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
- ISO 13424:2013 表面化学分析——X射线光电子能谱；薄膜分析结果的报告
- ISO 15470:2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
- ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- ISO 17109:2022 表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法
- ISO 16795:2004 核能.用X射线荧光光谱法测定钆燃料丸的Gd2O3含量
- ISO 20903:2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
德国标准化学会，关于x-射线光电子能谱的应用的标准
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- DIN ISO 16129:2020 表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)
- DIN ISO 15472:2020 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能标校准（ISO 15472:2010）；英文文本
英国标准学会，关于x-射线光电子能谱的应用的标准
- BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- BS ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性
- BS ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- BS ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
- BS ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析指南
- BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
- BS ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子和俄歇电子光谱仪.强度标的线性度
- BS ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- BS ISO 19318:2021 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
- BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
- BS ISO 20903:2019 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
国家质检总局，关于x-射线光电子能谱的应用的标准
- GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪鉴定方法
- GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
- GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
- GB/T 31470-2015 俄歇电子能谱与X射线光电子能谱测试中确定检测信号对应样品区域的通则
- GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
- GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
- GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
- GB/T 28892-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述
- GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
- GB/T 28633-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.强度标的重复性和一致性
- GB/T 25185-2010 表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告
行业标准-电子，关于x-射线光电子能谱的应用的标准
- SJ/T 10458-1993 俄歇电子能谱术和X射线光电子能谱术的样品处理标准导则
- SJ/T 10714-1996 检查X射线光电子能谱仪工作特性的标准方法
韩国科技标准局，关于x-射线光电子能谱的应用的标准
- KS D ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性
- KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪部分性能参数说明
- KS D ISO 15472:2003 表面化学分析.X射线光电光谱仪.能量刻度的校正
- KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于x-射线光电子能谱的应用的标准
- GB/T 33352-2016 电子电气产品中限用物质筛选应用通则 X射线荧光光谱法
- GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于x-射线光电子能谱的应用的标准
- GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
- GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
法国标准化协会，关于x-射线光电子能谱的应用的标准
- NF X21-071:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析用导则
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 射线光电子能谱(XPS)中的数据记录和报告
- NF M60-513:1990 用X和γ标准射线标定幅射剂量计和流量计.以及测定X和γ射线双光子能量的反应.在4MeV和9MeV之间的能源标准光子辐射
- NF M60-460*NF ISO 16795:2006 核能 用X射线荧光光谱法测定钆燃料丸的Gd2O3含量
澳大利亚标准协会，关于x-射线光电子能谱的应用的标准
- AS ISO 15472:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．能量标度的校准
- AS ISO 15470:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．选定仪器性能参数的描述
未注明发布机构，关于x-射线光电子能谱的应用的标准
- BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率的测定
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度线性度
KR-KS，关于x-射线光电子能谱的应用的标准
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准
行业标准-有色金属，关于x-射线光电子能谱的应用的标准
- YS/T 739-2010 铝电解质分子比及主要成分的测定X射线荧光光谱法
AT-ON，关于x-射线光电子能谱的应用的标准
- ONORM S 5233-1987 用于X射线，Y射线和电子光束的电离室放疗的剂量计
可能用到的仪器设备
