厚度 仪器
本专题涉及厚度 仪器的标准有18条。
国际标准分类中，厚度 仪器涉及到分析化学、长度和角度测量、信息技术应用、辐射测量。
在中国标准分类中，厚度 仪器涉及到基础标准与通用方法、材料防护、长度计量、电子计算机应用、通用核仪器、机械量仪表、自动秤重装置与其他检测仪表。
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于厚度 仪器的标准
- GB/T 36053-2018 X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告
，关于厚度 仪器的标准
- CSN ISO 3274:1994 用轮廓法测量表面厚度的仪器．轮廓顺序转换的接触（触针）式仪器．接触式轮廓仪，系统M
- CSN ISO 1879:1993 用轮廓法测量表面厚度的仪器．术语
- CSN ISO 1880:1993 用轮廓法测量表面厚度的仪器．轮廓渐进转换的接触（触针）式仪器．轮廓记录仪
美国材料与试验协会，关于厚度 仪器的标准
- ASTM B244-09(2021) 涡流仪器测量铝阳极镀层及其它非磁性基底金属绝缘镀层的厚度标准试验方法
- ASTM B244-09(2014) 涡流仪器测量铝阳极镀层及其它非磁性基底金属绝缘镀层的厚度标准试验方法
- ASTM B244-09 涡流仪器测量铝阳极镀层及其它非磁性基底金属绝缘镀层的厚度标准试验方法
- ASTM B244-97 用涡流仪器测量铝阳极镀层及其它非磁性基底金属绝缘镀层的厚度标准试验方法
- ASTM B244-97(2002) 用涡流仪器测量铝阳极镀层及其它非磁性基底金属绝缘镀层的厚度标准试验方法
国际标准化组织，关于厚度 仪器的标准
- ISO 16413:2020 通过X射线反射法评估薄膜的厚度 密度和界面宽度 - 仪器要求 对准和定位 数据采集 数据分析和报告
- ISO 16413:2013 X射线反射计用薄膜的厚度、密度和接口宽度的评估.仪器邀请,校准和定位,数据收集,数据分析和报告
德国标准化学会，关于厚度 仪器的标准
- DIN 50933-2015 涂层厚度的测量. 采用触针式仪器的差值测量对涂层厚度的测量
- DIN 50933-1987 涂层厚度测量.使用触针仪器以差动测量法测量涂层厚度
英国标准学会，关于厚度 仪器的标准
- BS ISO 16413:2013 采用X射线反射计对薄膜厚度, 密度和接口宽度的评估. 仪器要求. 校准和定位, 数据收集, 数据分析和报告
- BS IEC 61336:1998 核仪器装置.利用电离辐射的厚度测量系统.定义和试验方法
国际电工委员会，关于厚度 仪器的标准
- IEC 61336-1996 核仪器.厚度测量系统 电离辐射.定义和试验方法
- IEC 61336:1996 核仪器 利用电离辐射的厚度测量系统 定义和试验方法
