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x电子能谱用什么分析
本专题涉及x电子能谱用什么分析的标准有171条。
国际标准分类中，x电子能谱用什么分析涉及到分析化学、光学和光学测量、无损检测、长度和角度测量、光学设备、医学科学和保健装置综合、纸和纸板、物理学、化学、医疗设备、表面处理和镀涂、金属的腐蚀、有色金属、金属材料试验。
在中国标准分类中，x电子能谱用什么分析涉及到基础标准与通用方法、电子光学与其他物理光学仪器、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、化学、颜料、化学助剂基础标准与通用方法、电化学、热化学、光学式分析仪器、其他物质成份分析仪器、物理学与力学、造纸综合、纸、物性分析仪器、电子元件综合、重金属及其合金分析方法。
法国标准化协会，关于x电子能谱用什么分析的标准
- NF X21-071:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析用导则
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- NF ISO 16243:2012 表面化学分析 X 射线光电子能谱(XPS)中的数据记录和报告
- NF X21-058:2006 表面化学分析.俄歇电子能谱学和X射线光电子光谱法.测定峰强度使用的方法和报告结果时需要的信息
- FD T16-203:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析法表征单壁碳纳米管
- NF X21-006:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法进行块状样品的定量点分析
- NF X21-054*NF ISO 17973:2006 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准
- NF ISO 17974:2009 表面化学分析 高分辨率俄歇电子能谱仪 用于元素和化学状态分析的能量标度校准
- NF ISO 29081:2010 表面化学分析 俄歇电子能谱 电荷控制和校正所采用的方法的指示
国家质检总局，关于x电子能谱用什么分析的标准
- GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
- GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定
- GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
- GB/T 17359-1998 电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则
- GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定
- GB/T 22571-2008 表面化学分析.X射线光电子能谱仪.能量标尺的校准
- GB/T 17507-1998 电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样通用技术条件
- GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
- GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
- GB/T 30702-2014 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 实验测定的相对灵敏度因子在均匀材料定量分析中的使用指南
- GB/T 28892-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.选择仪器性能参数的表述
- GB/T 17507-2008 透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件
- GB/T 18873-2002 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线 能谱定量分析通则
- GB/T 18873-2008 生物薄试样的透射电子显微镜-X射线能谱定量分析通则
- GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
- GB/T 25185-2010 表面化学分析.X射线光电子能谱.荷电控制和荷电校正方法的报告
- GB/T 28633-2012 表面化学分析.X射线光电子能谱.强度标的重复性和一致性
- GB/T 2679.11-2008 纸和纸板 无机填料和无机涂料的定性分析.电子显微镜/X射线能谱法
- GB/T 29731-2013 表面化学分析 高分辨俄歇电子能谱仪 元素和化学态分析用能量标校准
- GB/T 2679.11-1993 纸和纸板中无机填料和无机涂料的定性分析 电子显微镜/X射线能谱法
- GB/T 29732-2013 表面化学分析 中等分辨率俄歇电子谱仪 元素分析用能量标校准
国际标准化组织，关于x电子能谱用什么分析的标准
- ISO 10810:2019 表面化学分析 - X射线光电子能谱分析指南
- ISO 16129:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 评估X射线光电子能谱仪日常性能的方法
- ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱学.分析导则
- ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- ISO 21270:2004 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
- ISO 13424:2013 表面化学分析——X射线光电子能谱；薄膜分析结果的报告
- ISO/TR 19319:2003 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- ISO/CD TR 18392:2023 表面化学分析 X 射线光电子能谱 确定背景的程序
- ISO/DIS 18118:2023 表面化学分析 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- ISO/FDIS 18118:2023 表面化学分析 - 俄歇电子能谱和 X 射线光电子能谱 - 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- ISO 15470:2017 表面化学分析. X射线光电子能谱. 选择仪器性能参数说明
- ISO 14701:2018 表面化学分析 - X射线光电子能谱 - 氧化硅厚度的测量
- ISO 23420:2021 微束分析.分析电子显微镜.电子能量损失谱分析用能量分辨率的测定方法
- ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱.二氧化硅厚度的测量
- ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- ISO 17109:2022 表面化学分析.深度剖面.用单层和多层薄膜在X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中测定溅射速率的方法
- ISO 22309:2006 微电子束分析.用能量散射光谱仪(EDS)进行定量分析
- ISO 24639:2022 微束分析.分析电子显微镜.用电子能量损失光谱法进行元素分析的能量标度校准程序
- ISO 17470:2014 微束分析. 电子探针微量分析. 用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
- ISO 20903:2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- ISO 18118:2004 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- ISO 18118:2015 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- ISO 22489:2006 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- ISO/CD 5861 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色Al Ka XPS仪器强度校准方法
- ISO/DIS 5861:2023 表面化学分析 X射线光电子能谱 石英晶体单色 Al Kα XPS 仪器强度校准方法
- ISO 17973:2016 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准
- ISO 17973:2002 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准
- ISO 19668:2017 表面化学分析.X射线光电子能谱学.均匀材料中元素检测极限的估算和报告
- ISO 16531:2013 表面化学分析.深度剖析.原子发射光谱(AES)和光电子能谱(XPS)中深度剖析用电流或电流密度的离子束校正和相关测量方法
- ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法
- ISO 29081:2010 表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法
- ISO/TS 10798:2011 纳米技术.使用扫描电镜与X射线能谱分析的单臂碳纳米管的特征描述
- ISO 17974:2002 表面化学分析.高分辨率螺旋电子光谱仪.元素和化学状态分析用能量标度的校准
- ISO 20903:2006 表面化学分析.螺旋电子光谱法和X-射线光电光谱学.报告结果时测定峰强度的方法和必要信息的使用方法
- ISO 22581:2021 表面化学分析X射线光电子能谱测量扫描的近实时信息含碳化合物表面污染的识别和校正规则
英国标准学会，关于x电子能谱用什么分析的标准
- BS ISO 10810:2019 表面化学分析 X射线光电子能谱 分析指南
- BS ISO 16129:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 X 射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- BS ISO 10810:2010 表面化学分析.X射线光电子能谱法.分析指南
- BS ISO 16129:2012 表面化学分析.X射线光电子能光谱学.X射线光电子能谱仪日常性能评估规程
- BS ISO 19830:2015 表面化学分析. 电子能谱. X射线光电子能谱峰拟合的最低报告要求
- BS ISO 18554:2016 表面化学分析. 电子光谱. 采用X射线光电子能谱分析法对材料进行分析的X射线的意外降解的识别, 评估和修正程序
- BS ISO 21270:2004 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度尺度的线性
- BS ISO 17109:2022 表面化学分析 深度剖析 使用单层和多层薄膜的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率的测定方法...
- 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化学分析 深度剖析 使用单一和……的 X 射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱溅射深度分析中溅射速率测定方法
- BS ISO 18118:2015 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- BS ISO 14701:2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 氧化硅厚度的测量
- BS ISO 17109:2015 表面化学分析. 深度剖析. 使用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱, 俄歇电子能谱以及二次离子质谱法溅射深度剖析中溅射率的方法
- 23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 使用实验确定的相对灵敏度因子进行均质材料定量分析的指南
- BS ISO 14701:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱学.二氧化硅厚度测量
- BS ISO 15632:2012 微束分析. 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
- BS ISO 15632:2021 微束分析 用于电子探针显微分析的能量分散X射线光谱仪规范和检查用所选仪器性能参数
- BS ISO 19318:2021 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
- BS ISO 16243:2011 表面化学分析.X射线光电子能谱术(XPS)的记录和报告数据
- BS ISO 20903:2019 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息
- 20/30423741 DC BS ISO 19318 表面化学分析 X射线光电子能谱 报告用于电荷控制和电荷校正的方法
- BS ISO 17470:2014 微束分析. 电子探针显微分析. 采用波长分散X射线光谱测定法的定性点分析指南
- 19/30394914 DC BS ISO 15632 微束分析 用于电子探针显微镜或电子探针微量分析仪(EPMA)的能量色散 X 射线光谱仪的规格和检查的选定仪器性能参数
- BS ISO 18118:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性系数的使用指南
- DD ISO/TS 10798:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析表征单壁碳纳米管
- BS ISO 22489:2007 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
- BS ISO 22489:2016 微光束分析.电子探针微量分析.用波长色散X-射线光谱测量法作块状样品的定量点分析
- BS ISO 19668:2017 表面化学分析 X射线光电子能谱 均质材料中元素检测限的估计和报告
- BS ISO 20903:2011 表面化学分析.俄歇电子能谱和X-射线光电光谱学.测定峰强度的方法和报告结果要求的信息
- BS ISO 17973:2003 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准
- BS ISO 29081:2010 表面化学分析.俄歇电子能谱法.电荷控制和电荷调整用报告法
- BS ISO 16531:2013 表面化学分析.深度剖析.在光电子能谱(XPS)和原子发射光谱(AES)的深度剖析中离子束校准和电流或电流密度的相关测量用方法
- BS DD ISO/TS 10798:2011 毫微技术.利用扫描电子显微镜和能量色散X射线光谱法分析得出单层碳纳米管的表示特征
- BS ISO 17974:2002 表面化学分析.高分辨率螺旋电子光谱仪.元素和化学状态分析用能量标度的校准
- BS ISO 22581:2021 表面化学分析 来自X射线光电子能谱测量扫描的近实时信息 含碳化合物表面污染的识别和校正规则
德国标准化学会，关于x电子能谱用什么分析的标准
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化学分析 X射线光电子能谱 X射线光电子能谱仪日常性能评估程序
- DIN ISO 16129:2020 表面化学分析. X射线光电子能谱-评估X射线光电子能谱仪的日常性能的程序(ISO 16129-2018); 英文文本
- DIN ISO 15472:2020-05 表面化学分析 - X 射线光电子能谱仪 - 能量标度校准 (ISO 15472:2010)
- DIN ISO 15472:2020 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 能标校准（ISO 15472:2010）；英文文本
美国材料与试验协会，关于x电子能谱用什么分析的标准
- ASTM E996-94(1999) 俄歇电子能谱分析和X射线光电子光谱分析数据报告的标准规程
- ASTM E1588-07e1 用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南
- ASTM E1588-07 用扫描电子显微镜法/能量色散X射线光谱测定法的射击残留物分析用标准指南
- ASTM E1588-10e1 扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法射击残留物分析的标准指南
- ASTM E1588-16 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准指南
- ASTM E1588-16a 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准实施规程
- ASTM E1588-17 采用扫描电子显微术/能量散射X射线光谱法进行射击残留物分析的标准实施规程
- ASTM E1588-20 通过扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱法进行枪支残留分析的标准实践
- ASTM E3309-21 用扫描电子显微镜/能量色散X射线光谱法（SEM/EDS）报告法医底漆枪弹残留物（pGSR）分析的标准指南
- ASTM E2594-20 用电感耦合等离子体原子发射光谱法分析镍合金的标准试验方法（基于性能）
- ASTM E1588-95(2001) 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
- ASTM E1588-08 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
- ASTM E1588-10 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
- ASTM E1588-95 用扫描电子显微镜/能量色散光谱法进行枪击残留物分析的标准指南
- ASTM E2994-21 用火花原子发射光谱法和辉光放电原子发射光谱法分析钛和钛合金的标准试验方法（基于性能的方法）
- ASTM E3061-17 用电感耦合等离子体原子发射光谱法(性能化方法)分析铝和铝合金的标准试验方法
- ASTM E2594-09 用电感耦合等离子体原子发射光谱法分析镍合金的标准试验方法(基于性能的方法)
- ASTM E2994-16 采用火花原子发射光谱法和辉光放电原子发射光谱法进行钛和钛合金分析的标准试验方法 (基于性能的方法)
- ASTM E2371-13 用直流等离子体和电感耦合等离子体原子发射光谱法 (基于性能的试验方法) 分析钛和钛合金的试验方法
未注明发布机构，关于x电子能谱用什么分析的标准
- BS ISO 18516:2006(2010) 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率的测定
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标度线性度
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会，关于x电子能谱用什么分析的标准
- GB/T 41073-2021 表面化学分析 电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
- GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告
- GB/T 41064-2021 表面化学分析 深度剖析 用单层和多层薄膜测定X射线光电子能谱、俄歇电子能谱和二次离子质谱中深度剖析溅射速率的方法
- GB/T 29732-2021 表面化学分析 中等分辨俄歇电子能谱仪 元素分析用能量标校准
韩国科技标准局，关于x电子能谱用什么分析的标准
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化学分析－俄歇电子能谱和X射线光电子能谱－分析仪横向分辨率、分析面积和样品面积的测定
- KS D ISO 21270:2005 表面化学分析.X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪.强度标的线性
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标度的线性
- KS D ISO 18118-2005(2020) 表面化学分析俄歇电子能谱和X射线光电子能谱均匀材料定量分析用实验测定的相对灵敏度因子的使用指南
- KS D ISO 15470-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱仪部分性能参数说明
- KS D ISO 19319:2005 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.分析员对横向分辨率、分析区域和样品区域的目视检测
- KS D ISO 19318-2005(2020) 表面化学分析X射线光电子能谱电荷控制和电荷校正方法报告
- KS D ISO 15632:2018 微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数
- KS D ISO 17973-2011(2016) 表面化学分析中分辨率俄歇电子能谱仪元素分析用能标的校准
- KS D ISO 18118:2005 表面化学分析.俄歇电子光谱法和X射线光电子光谱法.同质材料定量分析用实验室测定相对敏感性因子的使用指南
- KS D ISO 22489:2012 微光束分析.电子探针微量分析.运用波长色散X射线光谱测量法定量分析块状样品
- KS D ISO 22489:2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析
- KS D ISO 17973-2011(2021) 表面化学分析——中分辨率俄歇电子光谱仪——元素分析用能标的校准
- KS D ISO 17974-2011(2016) 表面化学分析高分辨率俄歇电子能谱仪元素和化学状态分析用能标的校准
- KS D ISO 17973:2011 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准
- KS D ISO 17974-2011(2021) 表面化学分析——高分辨率俄歇电子光谱仪——元素和化学状态分析用能标的校准
- KS D ISO 17974:2011 表面化学分析.高分辨率螺旋电子光谱仪.元素和化学状态分析用能量标度的校准
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于x电子能谱用什么分析的标准
- GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
- GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求
KR-KS，关于x电子能谱用什么分析的标准
- KS D ISO 15472-2003(2023) 表面化学分析-X射线光电子能谱仪-能量刻度的校准
- KS D ISO 15632-2018 微束分析 - 用于电子探针微量分析的能量色散X射线光谱仪的规范和检查的选定仪器性能参数
- KS D ISO 22489-2018 微束分析 - 电子探针微量分析 - 使用波长色散X射线光谱法的批量样品的定量点分析
- KS D ISO 22489-2018(2023) 微束分析.电子探针微量分析.用波长色散x射线光谱法对大块样品进行定量点分析
日本工业标准调查会，关于x电子能谱用什么分析的标准
- JIS K 0167:2011 表面化学分析.俄歇电子光谱和X射线光电子能谱学.匀质材料定量分析用实验室测定相对敏感因子的使用指南
- JIS K 0152:2014 表面化学分析. X射线光电子能谱分析. 强度标的重复性和一致性
- JIS K 0190:2010 微光束分析.电子探针显微分析.波长分散X射线光谱法对质量点分析用指南
- JIS K 0189:2013 微束分析.电子探针显微分析.波长色散X射线光谱学用实验参数的测定
- JIS T 0306:2002 用X射线光电子光谱法分析金属生物材料形成的无源膜的状态
- JIS K 0165:2011 表面化学分析.中分辨率螺旋电子光谱仪.元素分析用能量标度的校准
- JIS K 0166:2011 表面化学分析.高分辨率螺旋电子光谱仪.元素和化学状态分析用能量标度的校准
澳大利亚标准协会，关于x电子能谱用什么分析的标准
- AS ISO 15472:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．能量标度的校准
- AS ISO 19319:2006 表面化学分析．Augur电子能谱法和X射线光电子光谱法．分析员对横向分辨率；分析区域和样品区域的目视检测
- AS ISO 18118:2006 表面化学分析．俄歇电子能谱法和X射线光电子光谱法．均质材料定量分析中实验测定的相对灵敏系数使用指南
- AS ISO 15470:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱法．选定仪器性能参数的描述
- AS ISO 19318:2006 表面化学分析．X射线光电子光谱学．电荷控制和电荷调整用报告法
福建省地方标准，关于x电子能谱用什么分析的标准
- DB35/T 110-2000 油漆物证检测电子探针和扫描电镜X射线能谱分析方法
丹麦标准化协会，关于x电子能谱用什么分析的标准
- DS/ISO/TS 10798:2011 纳米技术 使用扫描电子显微镜和能量色散 X 射线光谱分析法表征单壁碳纳米管
RU-GOST R，关于x电子能谱用什么分析的标准
- GOST R ISO 16243-2016 确保测量一致性的国家系统. 表面化学分析. X射线光电子能谱 (XPS) 的记录和报告数据
可能用到的仪器设备
