NS-EN ISO 14880-3:2006由SCC 发布于 2006-10-01。
NS-EN ISO 14880-3:2006 光学和声学 微透镜阵列 第3部分:波前像差以外的光学特性的测试方法 (ISO 14880-3:2006)的最新版本是哪一版?
最新版本是 NS-EN ISO 14880-3:2006 。
ADOPTED_FROM:EN ISO 14880-3:2006 ISO 14880 的这一部分规定了测试微透镜阵列中微透镜的光学特性(波前像差除外)的方法。它适用于在公共基底的一个或多个表面上形成非常小的透镜的微透镜阵列以及渐变折射率微透镜。
当平面波前入射到Shack-Hartmann波前传感器的微透镜阵列时,CCD传感器上的光成像将显示为规则的光斑珊格。但是,如果波前有像差,每个光斑将偏离其微透镜光轴;如果位移足够大,像点甚至可能消失。这些信息用来计算微透镜阵列上入射光波前的形状。图2. 图示两个Shack-Hartmann波前传感器的屏幕解图:光斑区域(左侧框架)和基于该光斑区域信息(右侧框架)计算的波前。图3....
如图4a所示,当平面波前入射到传感器上时,每个小透镜将光聚焦在 放置在小透镜阵列焦平面上的阵列中的预定义像素集。当扭曲的波前入射到微透镜阵列上时,焦点位于与每个小透镜相关联的像素内的不同位置,如图4b所示。通过分析探测器阵列上各个点的位置,可以表征入射到波前传感器上的波前的形状。该信息可用于确定校正失真所需的可变形镜面的形状。...
波前分析仪可以用于激光波前的检测,同时可以得到激光的光强分布和其他的激光光束质量参数,为同时检测激光波前和光束质量提供了一种高精度,高灵敏度,实时3D显示,简便可行的新方法。3、精密光学元器件检测随着科技的进步,人们对精密光学元器件的生产技术指标要求越来越高,波前探测器能给精密的对光学元器件进行检测,实时得到精确的监测数据,对于精密光学元器件的生产无疑产生了一场新的技术革命。...
玻璃的折射率取决于波长,因此对每种波长的光线所聚焦的位置会产生略微不同的影响,从而导致 F、d 和 C 光在水平面上的焦点不同(图 2).图 1: 单一正透镜的横向色像差图2:单一正透镜的纵向色像差图3:主要纵向色像差的消色差双合透镜修正通常使用消色差双合透镜来执行主要 LCA 修正, 该透镜由折射率不同的正透镜和负透镜元件构成(图 3)。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号