SJ 2215.6-1982
半导体光耦合器(二极管)结电容的测试方法

Method of measurement for junction capacitance of semiconductor photocouplers (diodes)

2015-10

标准号
SJ 2215.6-1982
发布
1982年
发布单位
行业标准-电子
替代标准
SJ/T 2215-2015
当前最新
SJ/T 2215-2015
 
 

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