DIN EN 60749-5 E:2016-12
半导体器件机械和气候测试方法第5部分：稳态温度湿度偏置寿命测试（草案）
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
- 标准号
- DIN EN 60749-5 E:2016-12
- 发布
- 1970年
- 发布单位
- /
- 替代标准
- DIN EN 60749-5:2018-01
- 当前最新
- DIN EN 60749-5:2018-01
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