IEC 61967-6-2008
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IEC 61967-6-2008 发布历史
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IEC 61967-6-2008的历代版本如下：
- 2002年06月 IEC 61967-6-2002 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法
- 2008年03月12日 IEC 61967-6-2002/AMD1-2008 修改件1.集成电路.150 kHz至1 GHz电磁发射的测量.第6部分:传导发射的测量.磁探针法
- IEC 61967-6-2008 IEC 61967-6-2008
IEC 61967-6-2008系列标准
IEC 61967-1-1-2010 集成电路.电磁放射性的测量.第1-1部分:一般情况和定义.近场扫描数据交换格式
IEC 61967-1-2018 集成电路电磁辐射测量第1部分:一般条件和定义
IEC 61967-2-2005 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频TEM辐射室法
IEC 61967-4 AMD 1-2006 修改件1.集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第4部分:1Ω/150Ω直接耦合法
IEC 61967-4 CORR 1-2017 集成电路. 150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量. 第4部分: 传导发射测量; 1 Ώ/150 Ώ直接耦合法. 勘误表1
IEC 61967-4 Edition 1.1-2006 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射测量.第4部分:电导辐射测量.1～150Ω直接耦合法
IEC 61967-4-2021 集成电路. 电磁辐射测量. 第4部分: 电导辐射测量. 1～150Ω直接耦合法
IEC 61967-4-2002/AMD1-2006 修改件1——集成电路——150 kHz至1 GHz电磁发射的测量——第4部分:传导发射的测量——1&Omega/150&ω；直接耦合法
IEC 61967-5-2003 集成电路.150kHz-1GHz电磁辐射的测量.第5部分:感应辐射测量.工作台法拉第筒法
IEC 61967-6 AMD 1-2008 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法.修改件1
IEC 61967-6 CORR 1-2010 集成电路.150 kHz-1 GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法
IEC 61967-6 Corrigendum 1-2010 集成电路.150 kHz-1 GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导放射测量.磁探测器法
IEC 61967-6 Edition 1.1-2008 集成电路.150kHz～1GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导辐射的测量.磁探针法
IEC 61967-8-2011 集成电路的电磁辐射测量.第8部分:IC带状线法测量辐射干扰