ISO 20804:2022
通过小角度X射线散射（SAXS）测定多孔和颗粒系统的比表面积
Determination of the specific surface area of porous and particulate systems by small-angle X-ray scattering (SAXS)
ISO 20804:2022 发布历史
ISO 20804:2022由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2022-05-27。
ISO 20804:2022在国际标准分类中归属于: 19.120 粒度分析、筛分。
ISO 20804:2022的历代版本如下：
- 2022年 ISO 20804:2022 通过小角度X射线散射（SAXS）测定多孔和颗粒系统的比表面积
本文件详细说明了小角 X 射线散射 (SAXS) 在测定比表面积中的应用。 可以获得1 m2g-1 至2000 m2g-1 数量级的质量比表面积和0.01 m2cm-3 至1000 m2cm-3 范围内的体积比表面积。 所描述的方法适用于稀释和浓缩系统。 注：在 ISO 17867:2020 中，SAXS 测定粒径仅限于稀释系统。 仅对于两相系统，使用 SAXS 确定表面非常简单。 具有两个以上相的系统中的表面测定超出了本文件的范围。 术语“表面”是指不同密度（更准确地说：电子密度）的域之间的任何界面，并且不限于颗粒的外表面。 由于可以探测具有不同电子密度的区域之间的任何界面（不仅是空气或真空），因此该方法可以应用于任何异质系统。 SAXS 不仅可以测量开孔的比表面积，还可以测量难以接近的闭孔或夹杂物的比表面积。 注：这与 ISO 9277:2010 中描述的气体吸附方法相反。 除了多孔系统之外，只要存在电子密度对比，任何异质致密固体系统（例如结晶相和非晶相之间）的测量比表面积也可能受到内部界面的影响。 尽管也可以使用 SAXS 分析包含微孔（孔宽度 < 2 nm）的材料的比表面积，但本文件不涵盖这些材料。
