ASTM F1893-11
电离剂量生存率和半导体器件烧坏测量指南

Guide for Measurement of Ionizing Dose-Rate Survivability and Burnout of Semiconductor Devices

ASTM F1893-11 发布历史

ASTM F1893-11由美国材料与试验协会 US-ASTM 发布于 2011-01-01。

ASTM F1893-11在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

ASTM F1893-11的历代版本如下：

• 2011年01月01日 ASTM F1893-11 电离剂量生存率和半导体器件烧坏测量指南
• 2018年03月01日 ASTM F1893-18 电离剂量生存率和半导体器件烧坏测量指南
• 1998年 ASTM F1893-1998 测量半导体器件电离剂量率熔蚀的指南
• 1998年 ASTM F1893-1998(2003) 测量半导体器件电离剂量率熔蚀的指南
• 2011年 ASTM F1893-2011 测量半导体器件电离剂量率存活性和烧断的指南
• 1998年05月10日 ASTM F1893-98 半导体器件电离剂量率烧损测量指南
• 1998年05月10日 ASTM F1893-98(2003) 半导体器件电离剂量率烧损测量指南

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 ASTM F1893-11 前三页，或者稍后再访问。

注意： 点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

标准号

ASTM F1893-11

发布日期

2011年01月01日

实施日期

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

US-ASTM