非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 IEC 60068-2-67:1995+AMD1:2019 CSV 前三页,或者稍后再访问。
您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。
l 加速(太阳能集中)自然风化暴露l 大型太阳能/环境室实验室测试实验室耐候性测试Atlas的氙弧太阳模拟器实验室耐候性仪器(Ci系列耐高温计,Xenotest和SUNTEST系列)是用于建筑材料和组件的人工加速实验室测试的全球标准。在的C系列 与天气Ometers更大容量的高性能加速老化的仪器和满足大多数全球测试标准和方法,并提供了多种用于风化研究员选项。...
-5:2008“Technical specifications of selected materials of main part for terrestrial solar cell modules-part1:Junction box”CGC/GF002.1:2009“地面用太阳电池组件主要部件选材技术条件 第1部分:接线盒...
检测范围: 高温高湿测试适用于电工、电子、仪器仪表及其它产品、零部 件及材料在高低温交变湿热环境下贮存、运输、使用时的适应性试验;是各类电子、电工、电器、塑胶等原材料和器件进行耐寒、耐热、耐湿、耐干性试验及品管工程的可靠性测试设备特别适用于光纤、LCD、晶体、电感、PCB、电池、电脑、手机等产品的耐高温、耐低温、耐潮湿循环试验。 ...
参照下面光器件可靠性地图可以看到,上面对光器件可靠性测试条件做的盘点,只是光器件可靠性认证中的很小一部分,是作为研发工程师比较关注的部分。 而且上面的盘点仅列举了压力测试条件,对具体什么样的器件,应该做哪些可靠性项目说明的不充分,这次仅仅针对环境压力测试条件。 芯片级的环境压力可靠性条件: 这里的芯片指的是已经贴装在热沉上,完成金丝键合的LD/PD芯片。 ...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号