EN 60749-44:2016
半导体器件 机械和气候测试方法 第44部分：半导体器件的中子束辐照单事件效应（SEE）测试方法

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices


 

 

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标准号
EN 60749-44:2016
发布
2016年
发布单位
欧洲电工标准化委员会
当前最新
EN 60749-44:2016
 
 
IEC 60749-44:2016 establishes a procedure for measuring the single event effects (SEEs) on high density integrated circuit semiconductor devices including data retention capability...

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