GB/T 6624-1995
硅抛光片表面质量目测检验方法

Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection


GB/T 6624-1995



标准号
GB/T 6624-1995
发布日期
1995年04月18日
实施日期
1995年12月01日
废止日期
2010-06-01
中国标准分类号
H21
国际标准分类号
29.040.30
发布单位
国家质检总局
代替标准
GB/T 6624-2009
适用范围
本标准规定了在一定光照条件下,用目测检验硅单晶单面抛光片(以下简称抛光片)表面质量的方法。 本标准适用于硅抛光片表面质量检验。

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