ISO 13601:1998
技术能量系统 分析结构 能量物品供应块和需求块

Technical energy systems - Structure for analysis - Energyware supply and demand sectors


标准号
ISO 13601:1998
发布
1998年
发布单位
国际标准化组织
当前最新
ISO 13601:1998
 
 
适用范围
本国际标准规定了用于描述和分析技术能源系统的结构。 它定义了能源产品供应和需求部门的子部门,并进一步定义了每个子部门的模型结构。 这提供了一组标准化模块,所有数据均应根据该模块进行组织和呈现。 该结构在技术能源系统研究中的作用与会计代码计划在簿记中的作用相同。 它主要与官方国际统计 (ISIC) 的结构保持一致,以促进数据获取。 这种结构的使用有利于技术能源系统的不同研究之间的比较,并允许一项研究的部分结果用于其他研究。

ISO 13601:1998相似标准


推荐

量子计算机研制进展

数字退火器是一个专用芯片(见图),用非亨诺伊曼体系结构,在解组合优化问题时极小化数据移动。它包括1024个按位更新,带存储权值偏移的片上存储器,完成位翻转的逻辑接口及控制电路。   经典的计算机不同,数字退火器不需要编程,而是把问题上传成权重矩阵的形式,把它转换成能量场景。富士通组建了在温哥华的量子软件团队,以提供系统软件用户软件包,用户可以自己书写自己的能量场景。  ...

光学显微镜的主要观察方法之荧光观察

,可对小于200nm的精细结构进行观察;利用多光子激发原理进行厚组织及活体深层成像的多光子成像系统;具有高时空分辨率的光片成像技术,成像速度快、分辨率高、光毒性低,特别适合进行发育、活体动态观察等研究;荧光寿命成像(FLIM),不受荧光物质浓度、光漂白、激发光强度等因素的影响,能更加深入地进行功能性准确测量;荧光相关光谱(FCS)及荧光互相关光谱(FCCS),测量荧光分子的分子数、扩散系数,从而分析分子浓度...

电子薄膜的电子探针能谱分析技术研究

对于电子薄膜材料研究,薄膜的微观结构、成分厚度是决定薄膜性能的一个关键因素。如何表征薄膜的微观结构、成分厚度也一直是薄膜研究领域的一个重要课题,尤其是应用无损表征方法。扫描电子显微镜配备X射线能谱仪分析技术(电子探针能谱)能够观察微观形貌分析薄膜的微区成分的同时,根据电子束的穿透深度可测量薄膜的厚度。其它任何薄膜分析技术都无法同时具备以上三个功能。...

科研必备“武器”之差示扫描量热仪

仪器介绍 差示扫描量热仪(简称DSC)是一种热分析仪器,它依据差示扫描量热分析原理,给物质提供一个匀速升温、匀速降温、恒温、或以上任意组合温度环境及恒定流量(或流量为零)的气氛环境,并在此环境下测量样品与参比端的热流差或热功率差随温度及时间的关系。 仪器结构 在热流型DSC的设计上,内藏均热。...


谁引用了ISO 13601:1998 更多引用





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号