ISO 12179:2000
产品几何量技术规范(GPS) 表面结构:轮廓法 接触(触针)式仪器的校准

Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Calibration of contact (stylus) instruments


ISO 12179:2000

标准号
ISO 12179:2000
发布
2000年
中文版
GB/T 19600-2004 (等同采用的中文版本)
发布单位
国际标准化组织
替代标准
ISO 12179:2000/cor 1:2003
当前最新
ISO 12179:2021
 
 
引用标准
ISO 12085:1996 ISO 3274:1996 ISO 4287:1997
本标准适用于采用ISO 3274定义的轮廓法测量表面纹理的接触式(触针式)仪器的计量特性的校准。 校准应借助测量标准进行。 附录 B 适用于不符合 ISO 3274 的简化操作员接触(触针)仪器的计量特性校准。

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