BS EN 623-3:2001
高级工程陶瓷.单片陶瓷.一般和纹理特性.粒度和粒度分布的测定(线性截取法表征)
Advanced technical ceramics - Monolithic ceramics - General and textural properties - Determination of grain size and size distribution (characterized by the linear intercept method)
- 标准号
- BS EN 623-3:2001
- 发布
- 2001年
- 发布单位
- 英国标准学会
- 当前最新
- BS EN 623-3:2001
- 被代替标准
- BS DD ENV 623-3:1993
- 适用范围
- EN 623 的这一部分描述了使用抛光和蚀刻测试件的显微照片来确定先进技术陶瓷的平均线性截距晶粒尺寸的手动测量方法。 这不是真正的平均粒径，而是一个较小的参数，表示穿过二维截面绘制的线的平均路径长度。 与真实晶粒尺寸的关系取决于晶粒形状和微观结构各向异性程度。 本标准包含两种方法：A 和 B。 方法 A 适用于单相陶瓷，以及主晶相和玻璃态晶界相体积含量小于约 5%（截距计数即可满足）的陶瓷。 方法B适用于具有超过约5％体积的孔或次生相的陶瓷，或者具有多于一种主要结晶相的陶瓷，其中测量各个截距长度，其可以任选地用于产生尺寸分布。 后一种方法允许区分孔或相，并分别计算每个孔或相的平均线性截距尺寸。 注：确定第二相体积分数的方法正在开发中，如 ENV 623-5；这将提供一种方法来确定是否应在边界情况下应用方法 A 或方法 B。 该标准的一些用户可能希望对显微照片或直接捕获的微观结构图像应用自动或半自动图像分析。 如果所采用的技术模拟手动方法，则本标准允许这样做（参见第 4 条和第 8.4 条）。
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