IS 3972 Pt.2/Sec.2-1985
玻璃搪瓷的测试方法 第2部分测试方法 第2节：用于检测和定位缺陷的低压和高压测试

Test Methods for Glass Enamels Part 2 Test Methods Section 2: Low- and High-Pressure Tests for Detection and Location of Defects

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标准号

IS 3972 Pt.2/Sec.2-1985

发布

1986年

发布单位

IN-BIS

 

 

适用范围

本标准规定了用低电压和高电压检测和定位搪瓷钢板和搪瓷铸铁件缺陷的试验方法。注 1：低压测试并不是高压测试的替代方法，而是一种无损测试方法，用于检测延伸至金属基底的缺陷和搪瓷层中的薄弱点。注 2：高压测试的目的是检测和定位延伸至金属基底的缺陷以及搪瓷层中的薄弱点，即搪瓷层厚度低于确定的要求值的区域由于施加高电压，会出现起泡、异物夹杂、剥落或裂纹。

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