BS EN 60749-15:2003
半导体器件.机械和气候试验方法.通孔安装设备的耐钎焊温度

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Resistance to soldering temperature for through-hole mounted devices

被代替

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标准号

BS EN 60749-15:2003

发布

2003年

发布单位

英国标准学会

替代标准

BS EN 60749-15:2010

BS EN 60749-15:2011

当前最新

BS EN 60749-15:2011

 

 

适用范围

IEC 60749 的这一部分描述了一项测试，用于确定用于通孔安装的封装固态器件是否能够承受使用波峰焊或烙铁焊接其引线期间所受温度的影响。 为了建立最具可重复性的方法的标准测试程序，使用浸焊法，因为其条件更可控。 该程序确定设备是否能够承受印刷线路板制造操作中遇到的焊接温度，而不会降低其电气特性或内部连接。 该测试具有破坏性，可用于鉴定、批次验收以及作为产品监控。 该测试总体上符合 IEC 60068-2-20，但由于半导体的特殊要求，适用本标准的条款。

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