ONORM C 2525-1989
涂层厚度测量方法

Measurement of coating thickness survey of methods


标准号
ONORM C 2525-1989
发布
1989年
发布单位
AT-ON
当前最新
ONORM C 2525-1989
 
 
适用范围
该“NORM”概述了测量金属和非金属涂层厚度的程序。它仅包括表面技术中标准化的层厚度测量方法。不考虑针对特定测量问题或不常用的测量程序。还描述了在进行层厚度测量或确定与面积相关的质量时必须考虑的重要基础知识。以下规格旨在作为选择合适测量方法的概述。特殊标准中对这些程序进行了更详细的讨论。测量层厚度的方法可以是破坏性的或非破坏性的。表 1 和表 2 中的信息将帮助您为每个项目选择最合适的方法。不同工艺覆盖的厚度范围取决于所使用的涂层材料、基材和设备。薄膜层和半导体技术层的厚度测量不是本标准的主题。续第 2 至 17 页 根据此“NORM”,标准标记符合 ?? § 1971 年标准法第 3 条不予受理。斜体文本段落(公式符号除外)不是标准文本。没有发布日期的标准引用是指当前有效的版本。根据ON的议事规则,“标准”的解释和说明只有由ON根据负责的FNA决议发布才有效。

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