ASTM E81-96(2007)
定量极性图制备的标准试验方法

Standard Test Method for Preparing Quantitative Pole Figures

被代替

标准号

ASTM E81-96(2007)

发布

1996年

发布单位

美国材料与试验协会

替代标准

ASTM E81-96(2011)

当前最新

ASTM E81-96(2024)

 

 

适用范围

极图是极坐标纸上的二维图形表示，表示三个维度中微晶取向的平均分布。用于构建极图的数据是通过 X 射线衍射仪利用反射和透射技术获得的。可以使用几种替代程序。有些会产生完整的极图。其他产生部分极图，可以将其组合以产生完整的图。
1.1 该测试方法涵盖使用X射线衍射仪来制备定量极图。
1.2 测试方法由几个实验程序组成。某些程序 (1-5) 允许准备完整的极图。其他必须结合使用才能产生完整的极图。
1.3 极图（6）和反极图（7-10）是三维微晶取向分布的二维平均值。极图可用于构建反极图 (11-13) 或微晶取向分布 (14-21)。从反射极图(22、23)开发微晶取向分布的级数展开使得可以从几个不完整极图获得完整极图的级数展开。通过这种方法得出的极图或反极图应称为计算的。这里将不再描述这些技术。
1.4 如果方向在整个板材厚度上是均匀的，则可以使用某些程序（1-3）来获得完整的极图。
1.5 如果方向相对于垂直于轧制、横向和法向的平面具有镜像对称性方向，某些程序（4、5、24）可用于获得完整的极图。
1.6 测试方法强调舒尔茨反射技术（25）。其他技术 (3, 4, 5, 24) 可以被认为是 Schulz 技术的变体，并被引用为选项，但未在本文中描述。
1.7 测试方法还包括 Decker 等人的传输技术的描述 (26) ，可与舒尔茨反射技术结合使用以获得完整的极图。
1.8 本标准并不旨在解决与其使用相关的所有安全问题（如果有）。本标准的使用者有责任在使用前建立适当的安全和健康实践并确定监管限制的适用性。

ASTM E81-96(2007)相似标准