EN 61967-1-2002
集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第1部分:一般条件和定义 IEC 61967-1:2002

Integrated Circuits - Measurement of Electromagnetic Emissions, 150 kHZ to 1 GHz Part 1: General Conditions and Definitions

 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 EN 61967-1-2002 前三页，或者稍后再访问。

如果您需要购买此标准的全文，请联系： 。

点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

 

标准号
EN 61967-1-2002
发布日期
2002年06月01日
实施日期
废止日期
无
发布单位
IX-CENELEC

EN 61967-1-2002系列标准

EN 61967-2-2005 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第2部分:辐射释放测量.TEM辐射室和宽频带TEM辐射室法 IEC 61967-2:2005 EN 61967-4-2002 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第4部分:传导辐射的测量.1 ohm/150 ohm直接耦合法;包含修改件A1-2/2006;勘误表-12/2006 EN 61967-5-2003 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第5部分:传导辐射的测量.工作台法拉第筒法 IEC 61967-5-2003 EN 61967-6-2002 集成电路.150 kHz至1 GHz电磁辐射的测量.第6部分:传导辐射的测量.磁性探测法;包含修改件A1:2008年5月 EN 61967-8-2011 集成电路.电磁辐射的测量.第8部分:辐射发射的测量.IC带状线法

谁引用了EN 61967-1-2002 更多引用

BS EN 62228-2-2017 集成电路. 收发器EMC评估. LIN收发器 BS EN 62228-2-2017 集成电路. 收发器EMC评估. LIN收发器


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号