IEEE 1149.7:2009
缩减管脚和增强功能试验存取端口和边界扫描架构

Reduced-pin and enhanced-functionality test access port and boundary-scan architecture


IEEE 1149.7:2009




购买全文,请联系:


标准号
IEEE 1149.7:2009
发布日期
2009年
实施日期
废止日期
中国标准分类号
L65
国际标准分类号
35.200
发布单位
美国电气电子工程师学会

IEEE 1149.7:2009相似标准


推荐





Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号