从而要求对XPS谱仪的结合能标尺进行校准,不确定度需达到0.2eV或更小。谢老师的报告介绍了利用铜、银和金金属标准物质校准谱仪结合能标尺的方法。样品的正确处理和制备对于分析尤其是表面分析是极为重要的,俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱仪(XPS)、二次离子质谱(SIMS)等表面分析技术通常对几纳米厚度的表面敏感,不正确的样品处理会导致表面组成改变和数据不可信,严重影响测试结果。...
【会议时间】2018年3月15日全天【会议地点】清华大学理科楼D203【会议日程】09:30-10:40X射线光电子能谱分析刘芬(中科院化学所)10:40-11:50XPS定量分析中的灵敏度因子吴正龙(北京师范大学)13:30-14:40X射线电子能谱的能量标尺校准谢景林(北京大学)14:40-15:50表面化学分析样品前处理姚文清(清华大学) 仪器信息网链接:http://www.instrument.com.cn...
可以测量光电子的能量,以光电子的动能为横坐标,相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图。从而获得试样有关信息。X射线光电子能谱因对化学分析最有用,因此被称为化学分析用电子能谱(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)。 1,元素的定性分析。可以根据能谱图中出现的特征谱线的位置鉴定除H、He以外的所有元素。 2,元素的定量分析。...
其中,X射线能谱仪(XPS)就是常用仪器。下面详细介绍一下X射线能谱仪的基本原理、结构、优缺点及应用。 X射线能谱仪的简介 X射线光电子能谱(XPS)也被称作化学分析用电子能谱(ESCA)。该方法是在六十年代由瑞典科学家Kai Siegbahn教授发展起来的。由于在光电子能谱的理论和技术上的重大贡献,1981年,Kai Siegbahn获得了诺贝尔物理奖。...
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