ISO 20903:2011
表面化学分析.俄歇电子能普和X射线光电子光谱.通报结果所需峰值强度和信息的测定方法

Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results


 

 

非常抱歉，我们暂时无法提供预览，您可以试试： 免费下载 ISO 20903:2011 前三页，或者稍后再访问。

您也可以尝试购买此标准，
点击右侧 “购买” 按钮开始采购（由第三方提供）。

点击下载后，生成下载文件时间比较长，请耐心等待......

 

标准号
ISO 20903:2011
发布
2011年
发布单位
国际标准化组织
替代标准
ISO 20903:2019
当前最新
ISO 20903:2019
 
 

ISO 20903:2011相似标准

GB/T 28893-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 ISO 20903:2019 表面化学分析 - 俄歇电子光谱和X射线光电子能谱 - 用于确定峰值强度的方法和报告结果时所需的信息 JY/T 013-1996 电子能谱仪方法通则 GB/T 28632-2012 表面化学分析.俄歇电子能谱和X射线光电子能谱.横向分辨率测定 GB/T 29556-2013 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率、分析面积和分析器所能检测到的样品面积的测定

推荐

材料能谱分析

主要包括X射线光电子能谱XPS和俄歇电子能谱法AES（1）X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射线光电子能谱(XPS )就是用X射线照射样品表面，使其原子或分子的电子受激而发射出来，测量这些光电子的能量分布，从而获得所需的信息。...

能谱分析

主要包括X射线光电子能谱XPS和俄歇电子能谱法AES（1）X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射线光电子能谱(XPS )就是用X射线照射样品表面，使其原子或分子的电子受激而发射出来，测量这些光电子的能量分布，从而获得所需的信息。...

不容错过：超全面的材料成分分析方法及典型应用举例！

电子能谱的采样深度仅为几纳米，所以其仅是表面成分的反应[29]。本文主要介绍应用较为广泛的俄歇电子能谱法和X射线光电子能谱法。5.1 俄歇电子能谱法（AES）当原子吸收X射线或者被电子轰击时，如果在其内部产生了空穴，原子就有可能发射俄歇电子（如图8所示），通过检测俄歇电子的能量和强度就可以获得样品表面化学成分和结构的相关信息[30]。...

光谱质谱能谱，成分形貌物相，七大材料测试方法汇总，必收藏！

能谱分析 主要包括X射线光电子能谱XPS和俄歇电子能谱法AES（1）X射线光电子能谱(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS)X射线光电子能谱(XPS )就是用X射线照射样品表面，使其原子或分子的电子受激而发射出来，测量这些光电子的能量分布，从而获得所需的信息。...

谁引用了ISO 20903:2011 更多引用

ASTM E2735-14(2020) 用于选择X射线光电子能谱所需校准的标准指南 BS ISO 19668:2017 表面化学分析 X射线光电子能谱 均质材料中元素检测限的估计和报告 ASTM E2735-14 选择X射线光电子光谱40;XPS41试验所需校准的标准指南


Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证：京ICP证110310号