2.X射线荧光光谱仪(XRF)参见体相成分分析X射线荧光光谱仪(XRF)3.俄歇电子能谱仪(AES)原理:具有一定能量的电子束(或X射线)激发样品俄歇效应,通过检测俄歇电子的能量和强度,从而获得有关材料表面化学成分和结构的信息的方法。适合分析材料:金属、高分子等材料,薄膜,涂层等应用领域:半导体技术、冶金、催化、矿物加工和晶体生长等。...
9、X射线光电子能谱(XPS)X射线光电子能谱简称XPS或ESCA,就是用X射线照射样品表面,使其原子或分子的电子受激而发射出来,测量这些光电子的能量分布,从而获得所需的信息。随着微电子技术的发展,XPS也在不断完善,目前,已开发出的小面积X射线光电子能谱,大大提高了XPS的空间分辨能力。通过对样品进行全扫描,在一次测定中即可检测出全部或大部分元素。...
这一过程被称之为俄歇效应一元素受激发后辐射出的X射线光子的能量等于受激原子中过渡电子在初始能态和终能态的能量差别,即发射的X射线光子能量与该特定元素的电子能态差成正比X射线荧光光谱仪是来源于样品组成的特征辐射。通过侧定和分析X射线的能量或波长,即可获知其为何种元素,故可用来识别物质组成,定量分析物质中的元素含量。 ...
光电子出射时有可能再次激发出原子中的其他电子,生成的光电子被称为俄歇电子,产生新的光电子。再次这一过程被称之为俄歇效应一元家受激发后辐射出的X射线光子的能量等于受激原子中过渡电子在初始能态和最终能态的能量差别,即发射的X射线光子能量与该特定元素的电子能态差成正比X射线荧光光谱仪是来源于样品组成的特征辐射。...
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