此外,这些光学晶体克服了 X 射线强度的负二次方对离源距离的依存性的限制,从而开发了用于内嵌半导体和其他材料工业的小尺寸和低功率 µXRF 系统,并且开发出远程或便携式仪器。采用 X 射线光学晶体的 µXRF 已成功用于多种应用,包括小特性评估、元素映射、薄膜和镀层厚度测量、微量污染物检测、用于高级电路板的多层涂层评估、微粒分析和取证。 ...
原理 在X-Ray检测的过程中, X-Ray穿过待检样品,然后在图像探测器(现在大多使用X-Ray图像增强器)上形成一个放大的X光图。该图像的质量主要由分辨率及对比度决定。 成像系统的分辨率(清晰度) 决定于X射线源焦斑的大小、X光路的几何放大率和探测器像素大小。微焦点X光管的焦斑可小到几个微米。X光路的几何放大率可达到10~2500倍,探测器像素可小到几十微米。 ...
通过上述的研究表明X射线光学显微镜计数大时并不一定是在微焦斑小的时候,而是在计数和焦斑大小之间存在着佳对应关系。由此可见,连续可调的X射线焦斑大小有利于系统对X射线计数优化,提升系统的成像质量。图3 优化光斑大小,使x射线计数大化。蓝色的线是图像中心计数的中位数,橙色的线是整个图像计数的中位数为什么液态靶X射线源可以比标准光源高出约十倍的亮度呢?...
随着制造业的迅速发展,对产品质量检验的要求越来越高,需要对越来越多的关键、复杂部件甚至产品内部缺陷进行严格探伤和内部结构尺寸测量。 传统的检测方法如超声波检测、射线照相检测等测量方法已不能满足要求。 于是,许多先进的无损检测技术被开发应用于检测领域。工业CT技术便是其中的一种。 工业CT(ICT)就是计算机层析照相或称计算机断层扫描成像。 ...
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