DS/EN 60749-2-2003

Semiconductor Devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure

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标准号

DS/EN 60749-2-2003

发布日期

2003年01月08日

实施日期

2002年09月23日

废止日期

无

国际标准分类号

31.080.01

发布单位

DK-DS

适用范围

This part of IEC 60749 covers the testing of low air pressure on semiconductor devices. The test is intended primarily to determine the ability of component parts and materials to avoid voltage breakdown failures due to the reduced dielectric strength of air and other insulating materials at reduced pressures. This test is only applicable to devices where the operating voltage exceeds 1000 V.

DS/EN 60749-2-2003系列标准