DS/EN 623-3:2001
高级技术陶瓷 整体陶瓷 一般和结构特性 第3部分：晶粒尺寸和尺寸分布的测定（通过线性截距法表征）

Advanced technical ceramics - Monolithic ceramics - General and textural properties - Part 3: Determination of grain size and size distribution (characterized by the Linear Intercept Method)

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标准号

DS/EN 623-3:2001

发布

2001年

发布单位

丹麦标准化协会

当前最新

DS/EN 623-3:2001

 

 

被代替标准

DS/ENV 623-3-1994

适用范围

EN 623 的这一部分描述了使用抛光和蚀刻测试件的显微照片来确定先进技术陶瓷的平均线性截距晶粒尺寸的手动测量方法。这不是真正的平均粒径，而是一个较小的参数，表示穿过二维截面所画线的平均路径长度。与真实晶粒尺寸的关系取决于晶粒形状和微观结构各向异性程度。

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