ISO/TS 18507:2015
表面化学分析. 全反射X射线荧光光谱法在生物和环境分析中的使用
Surface chemical analysis - Use of Total Reflection X-ray Fluorescence spectroscopy in biological and environmental analysis
ISO/TS 18507:2015 发布历史
ISO/TS 18507:2015由国际标准化组织 IX-ISO 发布于 2015-07。
ISO/TS 18507:2015在国际标准分类中归属于: 71.040.40 化学分析。
ISO/TS 18507:2015 表面化学分析. 全反射X射线荧光光谱法在生物和环境分析中的使用的最新版本是哪一版？
最新版本是 ISO/TS 18507:2015 。
ISO/TS 18507:2015 发布之时，引用了标准
- ISO 14706:2000 表面化学分析 用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面基本的污染
- ISO 17331:2004 表面化学分析.从硅片工作基准材料表面采集元素的化学方法及其全反射X射线荧光光谱法的测定
- ISO 18115-1:2013 表面化学分析.词汇.第1部分:一般术语和光谱学术语
- ISO 18115-2:2013 表面化学分析.词汇表.第2部分:扫描-探针显微镜检查中应用的术语
ISO/TS 18507:2015的历代版本如下：
- 2015年 ISO/TS 18507:2015 表面化学分析. 全反射X射线荧光光谱法在生物和环境分析中的使用
采用 ISO/TS 18507 的发行版本有：
- PD ISO/TS 18507:2015 表面化学分析 全反射 X 射线荧光光谱在生物和环境分析中的应用
- 标准号
- ISO/TS 18507:2015
- 发布
- 2015年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO/TS 18507:2015
- 引用标准
- ISO 14706:2000 ISO 17331:2004 ISO 18115-1:2013 ISO 18115-2:2013
ISO/TS 18507:2015相似标准
推荐
理学推出全反射X射线荧光光谱仪 镉元素检测有优势
NANOHUNTER II台式全反射X射线荧光（TXRF）光谱仪 全反射X射线荧光分析是利用原级X射线束能在样品表面产生全反射激发进行X射线荧光分析的装置和方法。由于其取样量小、检出限低的优势，克服了常规XRF取样量大、灵敏度低这些最明显的缺陷，因而常用来解决地学、材料、微电子、环境、生物医学、刑侦和考古等学科中超微量样品的超痕最元素分析的难题。 ...
全反射X荧光技术在痕量元素检测中的应用
全反射X荧光(TXRF)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。 ...
全反射X射线荧光分析仪原理及特点
全反射X荧光光谱仪原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是“传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以zui大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声”。...
X射线荧光光谱分析的发展概述
20世纪80年代初期，商品X射线荧光光谱仪主要有波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)、能量色散X射线荧光光谱仪(EDXRF)和以正比计数器为探测器的可携式X射线荧光光谱仪(PXRF)。WDXRF谱仪的送样系统和参数的设置已高度自动化，用户根据待分析试样的组成购买理论α系数表，用于校正基体中元素间的吸收增强效应，将测得的强度转为浓度，并获得与化学分析结果相当的准确度。...