ZH
EN
KR
JP
ES
RUicp icp+oes
Für die icp icp+oes gibt es insgesamt 26 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst icp icp+oes die folgenden Kategorien: Textilprodukte, Umweltschutz, Elektrotechnik umfassend, Umfangreiche elektronische Komponenten, Straßenfahrzeuggerät, analytische Chemie.
American Society for Testing and Materials (ASTM), icp icp+oes
- ASTM E3171-21e1 Standardtestmethode zur Bestimmung des Gesamtsilbergehalts in Textilien mittels ICP-OES- oder ICP-MS-Analyse
- ASTM E3171-21 Standardtestmethode zur Bestimmung des Gesamtsilbergehalts in Textilien mittels ICP-OES- oder ICP-MS-Analyse
- ASTM E3171-21a Standardtestmethode zur Bestimmung des Gesamtsilbergehalts in Textilien mittels ICP-OES- oder ICP-MS-Analyse
VDE - VDE Verlag GmbH@ Berlin@ Germany, icp icp+oes
- VDE 0042-1-4-2014 Verfahren zur Bestimmung von bestimmten Substanzen in Produkten der Elektrotechnik - Teil 4: Quecksilber in Polymeren@ Metallen und Elektronik mit CV-AAS@ CV-AFS@ ICP-OES und ICP-MS (IEC 62321-4:2013); Deutsche Fassung EN 62321-4:2014
- VDE 0042-1-4/A1-2016 Verfahren zur Bestimmung bestimmter Substanzen in Produkten der Elektrotechnik - Teil 4: Quecksilber in Polymeren@ Metallen und Elektronik mit CV-AAS@ CV-AFS@ ICP-OES und ICP-MS (IEC 111/414/CDV:2016); Deutsche Fassung EN 62321-4:2014/FprA1:2016
- VDE 0042-1-4-2018 Verfahren zur Bestimmung bestimmter Substanzen in Produkten der Elektrotechnik - Teil 4: Quecksilber in Polymeren@ Metallen und Elektronik mit CV-AAS@ CV-AFS@ ICP-OES und ICP-MS (IEC 62321-4:2013 + A1:2017); Deutsche Fassung EN 62321-4:2014 + A1:2017
- VDE 0042-1-5-2014 Verfahren zur Bestimmung von bestimmten Substanzen in Produkten der Elektrotechnik - Teil 5: Cadmium@ Blei und Chrom in Polymeren und Elektronik und Cadmium und Blei in Metallen mit AAS@ AFS@ ICP-OES und ICP-MS (IEC 62321-5:2013); Deutsche Fassung EN 6232
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), icp icp+oes
- KS C IEC 62321-4-2014(2019) Bestimmung bestimmter Stoffe in elektrotechnischen Produkten – Teil 4: Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik mittels CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES und ICP-MS
- KS C IEC 62321-5-2014(2019) Bestimmung bestimmter Stoffe in elektrotechnischen Produkten – Teil 5: Cadmium, Blei und Chrom in Polymeren und Elektronik. Teil 5: Cadmium, Blei und Chrom in Polymeren und Elektronik
British Standards Institution (BSI), icp icp+oes
- BS EN 62321-4:2014 Bestimmung bestimmter Stoffe in elektrotechnischen Produkten. Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik mittels CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES und ICP-MS
Association Francaise de Normalisation, icp icp+oes
- NF C05-100-4/A1*NF EN 62321-4/A1:2017 Bestimmung bestimmter Stoffe in elektrotechnischen Produkten – Teil 4: Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik mittels CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES und ICP-MS
- NF EN 62321-4/A1:2017 Bestimmung bestimmter Stoffe in elektrotechnischen Produkten – Teil 4: Quecksilber in Polymeren, Metallen und elektronischen Produkten mittels CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES und ICP-MS
- NF EN 62321-4:2014 Bestimmung bestimmter Stoffe in elektrotechnischen Produkten – Teil 4: Quecksilber in Polymeren, Metallen und elektronischen Produkten mittels CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES und ICP-MS
- NF EN 62321-5:2014 Bestimmung bestimmter Stoffe in elektrotechnischen Produkten – Teil 5: Cadmium, Blei und Chrom in Polymeren und elektronischen Produkten sowie Cadmium und Blei in Metallen durch AAS, AFS, ICP-OES und ICP-MS
International Electrotechnical Commission (IEC), icp icp+oes
- IEC 62321-4:2013 Bestimmung bestimmter Stoffe in elektrotechnischen Produkten – Teil 4: Bestimmung von Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik mittels CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES und ICP-MS
- IEC 62321-4:2013+AMD1:2017 CSV Bestimmung bestimmter Stoffe in elektrotechnischen Produkten – Teil 4: Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik mittels CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES und ICP-MS
- IEC 62321-4:2017 Bestimmung bestimmter Stoffe in elektrotechnischen Produkten – Teil 4: Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik mittels CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES und ICP-MS
- IEC 62321-4:2013/AMD1:2017 Bestimmung bestimmter Stoffe in elektrotechnischen Produkten – Teil 4: Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik mittels CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES und ICP-MS; Änderung 1
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, icp icp+oes
- GB/T 39560.4-2021 Bestimmung bestimmter Stoffe in Elektro- und Elektronikprodukten – Teil 4: Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik mittels CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES und ICP-MS
- GB/T 39560.5-2021 Bestimmung bestimmter Stoffe in Elektro- und Elektronikprodukten – Teil 5: Cadmium, Blei und Chrom in Polymeren und Elektronik sowie Cadmium und Blei in Metallen durch AAS, AFS, ICP-OES und ICP-MS
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), icp icp+oes
- EN 62321-4:2014 Bestimmung bestimmter Stoffe in elektrotechnischen Produkten – Teil 4: Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik mittels CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES und ICP-MS
- EN 62321-5:2014 Bestimmung bestimmter Stoffe in elektrotechnischen Produkten – Teil 5: Cadmium, Blei und Chrom in Polymeren und Elektronik sowie Cadmium und Blei in Metallen mittels AAS, AFS, ICP-OES und ICP-MS
ES-UNE, icp icp+oes
- UNE-EN 62321-4:2014 Bestimmung bestimmter Stoffe in elektrotechnischen Produkten – Teil 4: Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik durch CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES und ICP-MS (Befürwortet von AENOR im Juli 2014.)
- UNE-EN 62321-4:2014/A1:2017 Bestimmung bestimmter Stoffe in elektrotechnischen Produkten – Teil 4: Quecksilber in Polymeren, Metallen und Elektronik mittels CV-AAS, CV-AFS, ICP-OES und ICP-MS
- UNE-EN 62321-5:2014 Bestimmung bestimmter Stoffe in elektrotechnischen Produkten – Teil 5: Cadmium, Blei und Chrom in Polymeren und Elektronik sowie Cadmium und Blei in Metallen durch AAS, AFS, ICP-OES und ICP-MS (Befürwortet von AENOR im Juli 2014.)
VDI - Verein Deutscher Ingenieure, icp icp+oes
- VDI 2267 BLATT 1-2018 Stoffbestimmung an Partikeln in der Aussenluft - Messen der Elementkonzentration nach Filterprobenahme - Bestimmung von Al@ As@ Ba@ Ca@ Cd@ Co@ Cr@ Cu@ Fe@ K@ Mg@ Mn@ Na@ Ni@ Pb@ Sb@ Se@ Sn @ Tl@ V und Zn mit GF-AAS@ ICP-OES oder ICP-MS