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RUMikrorefraktometer
Für die Mikrorefraktometer gibt es insgesamt 203 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Mikrorefraktometer die folgenden Kategorien: Optik und optische Messungen, medizinische Ausrüstung, Glas, Elektrische und elektronische Prüfung, Optische Ausrüstung, Integrierter Schiffbau und Offshore-Strukturen, analytische Chemie, Glasfaserkommunikation, Elektronische Anzeigegeräte, Halbleitermaterial, Kernenergietechnik, Geologie, Meteorologie, Hydrologie, Obst, Gemüse und deren Produkte, Längen- und Winkelmessungen, Strahlungsmessung, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Diskrete Halbleitergeräte, Chemikalien, Drahtlose Kommunikation, Dokumentenbildtechnologie, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik, Umfangreiche elektronische Komponenten, Wortschatz, Zerstörungsfreie Prüfung, Plastik.
Association Francaise de Normalisation, Mikrorefraktometer
Professional Standard - Machinery, Mikrorefraktometer
CEN - European Committee for Standardization, Mikrorefraktometer
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Mikrorefraktometer
- JJG 863-2005 V-Prisma-Refraktometer
- JJG 981-2003 Standardblöcke für Abbe-Refraktometer
- JJG 625-2001 Verifizierungsvorschrift des Abbe-Refraktometers
- JJG 863-1994 Verifizierungsvorschrift des V-Prisma-Refraktormeters
- JJG 981-2014 Standard-Blockverifizierungsvorschriften für Abbe-Refraktometer
- JJG 895-1995 Verifizierungsregelung des Charakterisierungssystems für das Brechungsindexprofil und die geometrischen Parameter optischer Fasern
- JJG 820-1993 Verifizierungsvorschriften für Handsaccharimeter (Gehaltsmesser) und Handrefraktometer
- JJG 776-1992 Venification-Regulierung des Mikrowellenstrahlungs- und Leckenergiemessgeräts
- JJG 776-2014 Messgeräte für Mikrowellenstrahlung und Leckenergie
- JJG(电子) 09006-1989 Verifizierungsvorschriften für den HF-Analysator WILTRON640
- JJG(电子) 01004-1989 Spezifikation zur Verifizierung von AD5122 Mikrowellen-Gruppenverzögerungs-Messsätzen
- JJG(地质) 1006-1990 Eichvorschriften für das Röntgenfluoreszenzspektrometer 3080E
European Committee for Standardization (CEN), Mikrorefraktometer
- EN ISO 10341:2012 Ophthalmologische Instrumente – Refraktorköpfe (ISO 10341:2012)
- EN ISO 10342:1999 Ophthalmologische Instrumente – Augenrefraktometer ISO 10342: 1997
- EN ISO 10342:2010 Ophthalmologische Instrumente – Augenrefraktometer (ISO 10342:2010)
- EN ISO 10341:1999 Ophthalmologische Instrumente – Refraktorköpfe ISO 10341: 1997
- EN ISO 10342:2003 Ophthalmologische Instrumente – Augenrefraktometer ISO 10342:2003
- EN ISO 9914:1996 Optik und optische Instrumente – Kontaktlinsen – Bestimmung des Brechungsindex von Kontaktlinsenmaterialien ISO 9914: 1995
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Mikrorefraktometer
KR-KS, Mikrorefraktometer
- KS P ISO 10342-2018 Ophthalmologische Instrumente – Augenrefraktometer
- KS D ISO 15632-2023 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem
British Standards Institution (BSI), Mikrorefraktometer
- BS EN ISO 10341:2012 Ophthalmologische Instrumente. Refraktorköpfe
- BS EN ISO 10342:1998 Ophthalmologische Instrumente - Augenrefraktometer
- BS EN ISO 10341:1997 Ophthalmologische Instrumente – Refraktorköpfe
- BS ISO 21395-2:2022 Optik und Photonik. Prüfmethode für den Brechungsindex optischer Gläser – V-Block-Refraktometer-Methode
- 21/30384578 DC BS ISO 21395-2. Optik und Photonik. Prüfverfahren für den Brechungsindex optischer Gläser – Teil 2. V-Block-Refraktometerverfahren
- BS EN 62047-20:2014 Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte. Gyroskope
- 19/30394914 DC BS ISO 15632. Mikrostrahlanalyse. Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz im Elektronenstrahlmikroskop oder einem Elektronenstrahlmikroanalysator (EPMA)
- BS ISO 15632:2012 Mikrostrahlanalyse. Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz in der Elektronensonden-Mikroanalyse
- BS ISO 15632:2021 Mikrostrahlanalyse. Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem Elektronenstrahl-Mikroanalysegerät (EPMA)
International Organization for Standardization (ISO), Mikrorefraktometer
- ISO 10341:2009 Ophthalmologische Instrumente – Refraktorköpfe
- ISO 10341:2012 Ophthalmologische Instrumente – Refraktorköpfe
- ISO 10341:1997 Ophthalmologische Instrumente – Refraktorköpfe
- ISO 10342:2003 Ophthalmologische Instrumente - Augenrefraktometer
- ISO 10342:1997 Ophthalmologische Instrumente - Augenrefraktometer
- ISO 9914:1995 Optik und optische Instrumente - Kontaktlinsen - Bestimmung des Brechungsindex von Kontaktlinsenmaterialien
- ISO 15632:2021 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem Elektronenstrahl-Mikroanalysegerät (EPMA)
- ISO 15632:2012 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz in der Elektronensonden-Mikroanalyse
- ISO 10935:1996 Optik und optische Instrumente - Mikroskope - Schnittstellenanschluss Typ C
- ISO 15632:2002 Mikrostrahlanalyse – Instrumentelle Spezifikation für energiedispersive Röntgenspektrometer mit Halbleiterdetektoren
- ISO 22309:2006 Mikrostrahlanalyse – Quantitative Analyse mittels energiedispersiver Spektrometrie (EDS)
- ISO/TS 19278:2019 Kunststoffe – Instrumentierter Mikroeindrucktest zur Härtemessung
Danish Standards Foundation, Mikrorefraktometer
German Institute for Standardization, Mikrorefraktometer
- DIN EN ISO 10341:2013-04 Ophthalmologische Instrumente – Refraktorköpfe (ISO 10341:2012); Deutsche Fassung EN ISO 10341:2012
- DIN EN ISO 10341:2013 Ophthalmologische Instrumente – Refraktorköpfe (ISO 10341:2012); Deutsche Fassung EN ISO 10341:2012
- DIN IEC 62495:2011 Nukleare Instrumentierung – Tragbare Röntgenfluoreszenzanalyseausrüstung unter Verwendung einer Miniatur-Röntgenröhre (IEC 62495:2011)
- DIN EN ISO 10342:2010 Ophthalmologische Instrumente – Augenrefraktometer (ISO 10342:2010); Deutsche Fassung EN ISO 10342:2010
- DIN 58629-1:2006 Optik und optische Instrumente - Vokabular für die Mikroskopie - Teil 1: Lichtmikroskopie
工业和信息化部, Mikrorefraktometer
Lithuanian Standards Office , Mikrorefraktometer
AENOR, Mikrorefraktometer
Professional Standard - Geology, Mikrorefraktometer
- DZ 0029-1992 HYX-3 Mikrocomputer-Röntgenfluoreszenzinstrument
- DZ 0031-1992 Technische Bedingungen des mikrocomputerinduzierten elektrischen Instruments DWJ-1A
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Mikrorefraktometer
- GJB/J 3355-1998 Kalibrierungsverfahren für V-Prisma-Refraktometer
- GJB 8687-2015 Kalibrierungsverfahren für Brechungsindex- und Dickenmessgeräte für optische Filme
- GJB 4396-2002 Finalisierungstestverfahren für Nachtsichtgeräte bei schwachem Licht
- GJB 349.46-1992 Konventionelle Waffen, Finalisierungstestmethoden, Nachtsichtgeräte bei schwachem Licht
- GJB 255-1987 Entwurfs- und Finalisierungstestverfahren für Schießleiter von Marinegeschützen
- GJB 976/1-2013 Detailspezifikation für Steckverbinder, Koaxial, Hochfrequenz, Typ N-50KFD
- GJB 976/2-2013 Detailspezifikation für Steckverbinder, Koaxial, Hochfrequenz, Typ TNC-50KFD23
IN-BIS, Mikrorefraktometer
未注明发布机构, Mikrorefraktometer
- BS 1428-D5:1955(2007) Spezifikation für Mikropipetten mit Spritzenmuster – Mikrochemische Geräte – Gruppe D: volumetrische Geräte
- BS EN ISO 9914:1997 Optik und optische Instrumente – Kontaktlinsen – Bestimmung des Brechungsindex von Kontaktlinsenmaterialien
- DIN ISO 15632 E:2015-05 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz in der Elektronensonden-Mikroanalyse
- DIN ISO 15632 E:2022-03 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz in der Elektronensonden-Mikroanalyse
Military Standards (MIL-STD), Mikrorefraktometer
Professional Standard - Public Safety Standards, Mikrorefraktometer
- GA/T 1419-2017 Ölimmersionsmethode zur Bestimmung des Brechungsindex von Glaspartikeln in der Forensik
United States Navy, Mikrorefraktometer
- NAVY MIL-C-15952 G NOTICE 1-1998 KOMPASS, GYRO, MINIATUR
- NAVY MIL-C-15952 G-1988 KOMPASS, GYRO, MINIATUR
- NAVY MIL-R-28881 (2)-1986 RADIACMETER, IM-239/WDQ
- NAVY MIL-R-28881-1984 RADIACMETER, IM-239/WDQ
- NAVY MIL-DTL-7793/7 B-2012 ZÄHLER, ZEITSUMMIERUNG, MINIATUR, DIGITAL, 115 V, 60 Hz
- NAVY MIL-DTL-7793/10 C-2012 ZÄHLER, ZEITSUMMIERUNG, MINIATUR, DIGITAL, 115 V. 60 Hz
- NAVY MIL-DTL-7793/4 B-2012 ZÄHLER, ZEITSUMMIERUNG, MINIATUR, DIGITAL, 115 VAC, RUND
- NAVY MIL-DTL-7793/16 A-2012 ZÄHLER, ZEITSUMMIERUNG, MINIATUR, DIGITAL, 5 VDC, QUADRATISCH
- NAVY MIL-DTL-7793/6 B-2012 ZÄHLER, ZEITSUMMIERUNG, MINIATUR, DIGITAL, 115 V, 400 Hz
- NAVY MIL-DTL-7793/2 B-2012 ZÄHLER, ZEITSUMMIERUNG, MINIATUR, DIGITAL, 28 VDC, RUND
- NAVY MIL-DTL-7793/3 B-2012 ZÄHLER, ZEITSUMMIERUNG, MINIATUR, DIGITAL, 115 V, 60 Hz, QUADRATISCH
Defense Logistics Agency, Mikrorefraktometer
- DLA DSCC-DWG-14001-2013 SICHERUNG, INSTRUMENT, SUBMINIATUR
- DLA DSCC-DWG-13031-2013 SICHERUNG, INSTRUMENT, SUBMINIATUR
- DLA SMD-5962-98552 REV C-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, CMOS, STRAHLUNGSGEHÄRTETER MIKROCONTROLLER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA MS21380 REV D-2007 SPULEN, HOCHFREQUENZ, GEFORMT, FEST, SUBMINIATUR, EISENKERN, TYP LT4K
- DLA MS53231 REV B VALID NOTICE 1-2012 Spulen, Hochfrequenz, gekapselt, variabel, Mikrominiatur, Eisenkern, Typen LT
- DLA SMD-5962-95635 REV D-1999 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, 16-BIT-MIKROCONTROLLER, STRAHLENGEHÄRTETES, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-88539 REV F-2011 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, STRAHLENGEHÄRTET, PRÄZISIONSINSTRUMENTIERUNGSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA MS14040 REV B-2007 SPULEN, HOCHFREQUENZ, GEFORMT, FEST, SUBMINIATUR, (EISENKERN), TYPEN LT10K097 BIS LT10K107 INKL.
- DLA MS14041 REV B-2007 SPULEN, HOCHFREQUENZ, GEFORMT, FEST, SUBMINIATUR, (EISENKERN), TYPEN LT10K108 BIS LT10K112 INKL.
- DLA MS14043 REV B-2007 SPULEN, HOCHFREQUENZ, GEFORMT, FEST, SUBMINIATUR, (EISENKERN), TYPEN LT10K118 BIS LT10K122 INKL.
- DLA MS14047 REV A-2007 SPULEN, HOCHFREQUENZ, GEFORMT, FEST, SUBMINIATUR, (EISENKERN), TYPEN LT10K138 BIS LT10K142 INKL.
- DLA MS14048 REV A-2007 SPULEN, HOCHFREQUENZ, GEFORMT, FEST, SUBMINIATUR (EISENKERN), TYPEN LT10K143 BIS LTI0K147 INKL
- DLA MS14049 REV A-2007 SPULEN, HOCHFREQUENZ, GEFORMT, FEST, SUBMINIATUR, (EISENKERN), TYPEN LT10K148 BIS LT10K152 INKL.
- DLA MS14050 REV A-2007 SPULEN, HOCHFREQUENZ, GEFORMT, FEST, SUBMINIATUR, (EISENKERN), TYPEN LT10K153 BIS LT10K157 INKL.
- DLA MS14052 REV A-2007 SPULEN, HOCHFREQUENZ, GEFORMT, FEST, SUBMINIATUR, (EISENKERN), TYPEN LT10K158 BIS LT10K168 INKL.
- DLA MS14046 REV D VALID NOTICE 1-2012 SPULEN, HOCHFREQUENZ, GEFORMT, FEST, MIKROMINIATUR, (EISENKERN), TYPEN LT10K128 BIS LT10K137
- DLA SMD-5962-87719 REV D-2005 MIKROSCHALTUNG, LINEARER INSTRUMENTIERUNGSVERSTÄRKER MIT PROGRAMMIERBARER VERSTÄRKUNG, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-88539 REV E-2005 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, STRAHLENGEHÄRTET, PRÄZISIONSINSTRUMENTIERUNGSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-89871 REV B-1995 MIKROSCHALTUNG, LINEARER, SCHNELLER PRÄZISIONSKPARATOR, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-99551 REV B-2007 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, STRAHLENGEHÄRTET, POSITIV, SPANNUNGSREGLER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA A-A-59643 A-2006 LAGER, KUGELLAGER, RINGFÄHIG, EINREIHIG, RADIAL, NICHT FÜLLENDE NUTZUNG, MINIATURGRÖSSE, INSTRUMENTENTYP
- DLA MS53233 REV A VALID NOTICE 1-2012 Spulen, Hochfrequenz, gekapselt, variabel, Mikrominiatur, Eisenkern, Typen LT11V077 bis LT11V097, inkl.
- DLA SMD-5962-95689 REV H-2007 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, STRAHLENGEHÄRTET, LINIENEMPFÄNGER, VIERDIFFERENTIALES MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-95689 REV G-2007 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, STRAHLENGEHÄRTET, LINIENEMPFÄNGER, VIERDIFFERENTIALES MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA A-A-59643 A VALID NOTICE 1-2012 Lager, Kugellager, Ringlager, einreihig, radial, Schlitz ohne Füllung, Miniaturgröße, Instrumententyp
- DLA SMD-5962-97641 REV B-2005 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, STRAHLENGEHÄRTET, ULTRAHOCHFREQUENZ, VOLLSTÄNDIG NPN-TRANSISTOR-ARRAY, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-98613 REV G-2007 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, STRAHLENGEHÄRTET, VIERSPANNUNGSKomparator, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA A-A-59700 A-2008 SPULE, HF, CHIP, FEST, HOCHFREQUENZ, MINIATUR, OBERFLÄCHENMONTAGE
- DLA A-A-59739 A-2013 SPULE, RF, CHIP, FEST, HIGH Q, MINIATUR, OBERFLÄCHENMONTAGE
- DLA MIL-DTL-28875/12 A NOTICE 2-2010 VERSTÄRKER, HOCHFREQUENZ UND MIKROWELLE, FESTKÖRPER, BREITBAND, NIEDRIGES PROFIL, NACH KONFIGURATION
- DLA MIL-DTL-28875/12A-2000 VERSTÄRKER, HOCHFREQUENZ UND MIKROWELLE, FESTKÖRPER, BREITBAND, NIEDRIGES PROFIL, NACH KONFIGURATION
Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, Mikrorefraktometer
Professional Standard - Aviation, Mikrorefraktometer
- HBm 66.34-1989 Minivan-Armaturenbrett
- HBm 52-1987 Kombiinstrument für Kleinstwagen
- HBm 66.50-1990 Vibrationstestverfahren zur Instrumentierung von Miniatur-Lastkraftwagen
- HBm 66.53-1990 Spezifikationen für Kombiinstrument des Minivans
- HBm 66.49-1990 Feuchte-Hitze-Testmethode für die Instrumentierung von Minivans
- HBm 58-1987 Vibrationstestverfahren für die Instrumentierung von Miniaturautos
- HBm 66.47-1990 Testmethode für die Instrumententemperatur von Miniatur-Lkw
- HBm 61-1987 Staubdichte Prüfmethode für die Instrumentierung von Miniaturautos
- HBm 59-1987 Feuchte-Hitze-Testmethode für Miniatur-Automobilinstrumente
- HBm 60-1987 Hochtemperatur- und Niedertemperatur-Testmethoden für die Instrumentierung von Miniaturautos
- HBm 66.48-1990 Prüfverfahren für Staubdichtigkeit und Staubbeständigkeit der Instrumentierung von Minivans
BR-ABNT, Mikrorefraktometer
Professional Standard - Petrochemical Industry, Mikrorefraktometer
- SH/T 0686-1999 Standardtestmethode für den Einsatz des Refraktometers zur Feldversuchsbestimmung des Gefrierpunkts wässriger Motorkühlmittel
Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Mikrorefraktometer
- GJB/J 5463-2005 Verifizierungsvorschrift für Messgeräte für den Brechungsindex und die Dicke optischer Filme
Group Standards of the People's Republic of China, Mikrorefraktometer
U.S. Military Regulations and Norms, Mikrorefraktometer
Professional Standard - Medicine, Mikrorefraktometer
- YY 0788-2010 Ophthalmologische Instrumente. Mikrokeratom
- YY/T 0788-2010 Ophthalmologische Instrumente – Mikrokeratom
- YY/T 0347-2002 Allgemeine Spezifikationen für medizinische diagnostische Röntgen-Mikrogeräte
- YY/T 0347-2009 Besondere technische Anforderungen an Miniatur-Röntgengeräte für die medizinische Diagnostik
International Electrotechnical Commission (IEC), Mikrorefraktometer
- IEC 62495:2011 Nukleare Instrumentierung – Tragbare Röntgenfluoreszenzanalyseausrüstung mit einer Miniatur-Röntgenröhre
- IEC 61306:1994 Nukleare Instrumentierung – Mikroprozessorbasierte Messgeräte für nukleare Strahlung
- IEC 62047-20:2014 Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 20: Gyroskope
Professional Standard - Meteorology, Mikrorefraktometer
HU-MSZT, Mikrorefraktometer
- MSZ 3256/1-1980 Viskositätsmessgerät OSTWALD. Feines Viskositätsmessgerät vom Typ FENSKE
Professional Standard - Agriculture, Mikrorefraktometer
- NY/T 2637-2014 Refraktometrische Methode zur Bestimmung der gesamten löslichen Feststoffe in Obst und Gemüse
Society of Automotive Engineers (SAE), Mikrorefraktometer
- SAE AS24464C-2023 LAGER, ROLLE, NADEL-DOPPELREIHIG, SCHWERLAST, SELBSTAUSRICHTEND, TYP IV, ANTFRAKTION, ZOLL
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Mikrorefraktometer
- GB 12295-1990 Obst- und Gemüseprodukte – Bestimmung löslicher Feststoffe – Refraktometrische Methode
- GB/T 9230-1995 Direkt ablesbare Strahlungsdosimetriemessgeräte vom Elektroskoptyp, Teil 2: Ladegeräte
- GB/T 20726-2015 Mikrostrahlanalyse. Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz in der Elektronensonden-Mikroanalyse
TIA - Telecommunications Industry Association, Mikrorefraktometer
- TIA-492AAAB-A-2009 Detailspezifikation für optische Multimode-Fasern mit 50 μm Kerndurchmesser und 125 μm Manteldurchmesser der Klasse Ia
- TIA/EIA-492AAAB-1998 Detailspezifikation für optische Multimode-Fasern mit 50 Mikrometer Kerndurchmesser/125 Mikrometer Manteldurchmesser Klasse Ia
- TIA/EIA-492AAAA-A-1998 Detailspezifikation für Multimode-Lichtwellenleiter mit Gradientenindex der Klasse Ia mit einem Kerndurchmesser von 62,5 Mikrometern und einem Manteldurchmesser von 125 Mikrometern
- TIA-492AAAA-B-2009 Detailspezifikation für Multimode-Lichtwellenleiter mit Gradientenindex der Klasse Ia, 62,5 μm Kerndurchmesser/125 μm Manteldurchmesser
- EIA/TIA-492AAAA-1989 Detailspezifikation für optische Wellenleiterfasern mit einem Kerndurchmesser von 62,5 Mikrometern und einem Manteldurchmesser von 125 Mikrometern der Klasse la Multimode@ mit abgestuftem Index
- TIA-492AAAC-2002 Detailspezifikation für laseroptimierte 850-nm-Multimode-Glasfasern mit 50 µm Kerndurchmesser und 125 µm Manteldurchmesser
- TIA-492AAAC-B-2009 Detailspezifikation für laseroptimierte 850-nm-Multimode-Glasfasern mit 50 μm Kerndurchmesser und 125 μm Manteldurchmesser, Klasse Ia
RU-GOST R, Mikrorefraktometer
- GOST 8.583-2011 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Staatlicher Prüfplan für Messgeräte des Brechungsindex
- GOST 13.1.502-1974 Reprographie. Mikrographie. Mikrofilmdrucker. Typen
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Mikrorefraktometer
- JJF 1714-2018 Programm zur Musterbewertung von Messgeräten für gelösten Sauerstoff in geringem Konzentrationsbereich
- JJF(电子) 37-1982 Kalibrierungsmethode des Breitband-Mikrowellenspektrumanalysators BP-9
- JJF(电子) 38-1982 Kalibrierungsmethode für den Mikrowellenspektrumanalysator BP-24, BP-25, BP-30
中国气象局, Mikrorefraktometer
- QX/T 467-2018 Technische Anforderungen für meteorologische Mikro-Drop-Down-Sonden
YU-JUS, Mikrorefraktometer
- JUS N.R4.228-1988 Hochfrequenz-Steckverbinder. HF-Koaxialsteckverbinder mit Schraubkupplung unübertroffen (Typ UHF-M), Miniatur
U.S. Air Force, Mikrorefraktometer
Professional Standard - Military and Civilian Products, Mikrorefraktometer
- WJ 1682-1986 Technische Daten des digitalen Geschwindigkeitsmessers SSY-1A
Professional Standard - Electron, Mikrorefraktometer
- SJ 51424/2-1998 Isolator, HF, Mikrostreifen, Typ GW9005A, detaillierte Spezifikation für
- SJ 20250-1993 Verifizierungsregelung für HF-Spektrumanalysatoren Modell HP8590A
- SJ 51424/1-1996 Detailspezifikation für Hochfrequenz-Mikrostreifenisolatoren vom Typ GW9005 und GW9006 für
American Society for Testing and Materials (ASTM), Mikrorefraktometer
- ASTM E1967-11 Standardtestverfahren zur automatisierten Bestimmung des Brechungsindex von Glasproben unter Verwendung der Ölimmersionsmethode und eines Phasenkontrastmikroskops
- ASTM E1967-11a Standardtestverfahren zur automatisierten Bestimmung des Brechungsindex von Glasproben unter Verwendung der Ölimmersionsmethode und eines Phasenkontrastmikroskops
- ASTM E1967-98(2003) Standardtestverfahren zur automatisierten Bestimmung des Brechungsindex von Glasproben unter Verwendung der Ölimmersionsmethode und eines Phasenkontrastmikroskops
- ASTM E1967-19 Standardtestverfahren zur automatisierten Bestimmung des Brechungsindex von Glasproben unter Verwendung der Ölimmersionsmethode und eines Phasenkontrastmikroskops
- ASTM E1025-98 Standardpraxis für Design, Herstellung und Materialgruppierungsklassifizierung von Lochtyp-Bildqualitätsindikatoren (IQI), die in der Radiologie verwendet werden
- ASTM E1967-98 Standardtestverfahren zur automatisierten Bestimmung des Brechungsindex von Glasproben unter Verwendung der Ölimmersionsmethode und eines Phasenkontrastmikroskops
CZ-CSN, Mikrorefraktometer
- CSN 85 6010-1980 Medizinische Instrumente. Dentalhandstücke für Mikromotoren. Montagemaße
Professional Standard - Nuclear Industry, Mikrorefraktometer
- EJ/T 985-1995 X, Gammastrahlungsmessgeräte für die Umweltüberwachung Teil II: Dosimetertyp
- EJ/T 853-1994 Design und Anwendung eines Mikroreaktor-Berylliumreflektors
- EJ/T 984-1995 X, Gammastrahlungsmessgeräte für die Umweltüberwachung Teil 1: Gerätetyp der Dosisleistung
ITU-T - International Telecommunication Union/ITU Telcommunication Sector, Mikrorefraktometer
- ITU-T G.651-1989 Eigenschaften eines 50/125-Mikrometer-Multimode-Graded-Index-Glasfaserkabels – Eigenschaften des Übertragungsmediums (Studiengruppe XV) 30 Seiten
- ITU-T G.651-1993 Eigenschaften eines 50/125-Mikrometer-Multimode-Graded-Index-Glasfaserkabels – Eigenschaften des Übertragungsmediums (Studiengruppe XV) 34 Seiten
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Mikrorefraktometer
- JIS C 5630-20:2015 Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 20: Gyroskope