Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

Für die Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+ gibt es insgesamt 263 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+ die folgenden Kategorien: Optische Ausrüstung, Optoelektronik, Lasergeräte, Optik und optische Messungen, analytische Chemie, Thermodynamik und Temperaturmessung, Metrologie und Messsynthese, Wortschatz, Schweißen, Hartlöten und Niedertemperaturschweißen, Luftqualität, erziehen, Elektronische Komponenten und Komponenten, Umfangreiche elektronische Komponenten, Prüfung von Metallmaterialien, Längen- und Winkelmessungen, Kriminalprävention, technische Zeichnung, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Elektronische Anzeigegeräte, Verbundverstärkte Materialien, Baumaterial, Rohstoffe für Gummi und Kunststoffe, Physik Chemie, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Stahlprodukte, Keramik.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

ASTM E766-98(2003) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-98 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-14 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-14(2019) Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E766-14e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2090-00 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die von Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E2090-12 Standardtestmethode zur größendifferenzierten Zählung von Partikeln und Fasern, die aus Reinraumwischtüchern freigesetzt werden, mittels optischer und Rasterelektronenmikroskopie
ASTM E986-97 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E986-04(2017) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM E2530-06 Standardpraxis zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung von einatomigen Si(111)-Schritten
ASTM E3143-18a Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM E3143-18 Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM E766-98(2008)e1 Standardpraxis zur Kalibrierung der Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
ASTM E3143-18b Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM C1723-16(2022) Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-10 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM C1723-16 Standardhandbuch für die Untersuchung von Festbeton mittels Rasterelektronenmikroskopie
ASTM D3849-13 Standardtestmethode für Rußmdash; Morphologische Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM D3849-14 Standardtestmethode für Rußmdash; Morphologische Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM E986-04 Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM D3849-95a(2000) Standardtestmethode für Ruß – Primäraggregatabmessungen aus elektronenmikroskopischer Bildanalyse
ASTM D3849-07 Standardtestmethode zur morphologischen Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM E986-04(2010) Standardpraxis für die Charakterisierung der Strahlgröße von Rasterelektronenmikroskopen
ASTM D3849-22 Standardtestmethode für Ruß – Morphologische Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM E3143-18b(2023) Standardpraxis für die Durchführung der Kryo-Transmissionselektronenmikroskopie von Liposomen
ASTM D7201-06(2020) Standardverfahren zur Probenahme und Zählung luftgetragener Fasern, einschließlich Asbestfasern, am Arbeitsplatz mittels Phasenkontrastmikroskopie (mit der Option der Transmissionselektronenmikroskopie)
ASTM D3849-02 Standardtestmethode zur morphologischen Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM D3849-04 Standardtestmethode zur morphologischen Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM D7201-06(2011) Standardverfahren zur Probenahme und Zählung luftgetragener Fasern, einschließlich Asbestfasern, am Arbeitsplatz mittels Phasenkontrastmikroskopie (mit der Option der Transmissionselektronenmikroskopie)
ASTM E2142-08(2015) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM E2142-08 Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM D3849-14a Standardtestmethode für Ruß – Morphologische Charakterisierung von Ruß mittels Elektronenmikroskopie
ASTM E2142-08(2023) Standardtestmethoden zur Bewertung und Klassifizierung von Einschlüssen in Stahl mithilfe des Rasterelektronenmikroskops
ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

DB31/T 297-2003 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Rasterelektronenmikroskops
DB31/T 315-2004 Kalibrierungsmethode für die Vergrößerung eines Transmissionselektronenmikroskops

Professional Standard - Machinery, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

JB/T 5480-1991 Membran des Elektronenmikroskops
JB/T 5481-1991 Lampenfaden des Elektronenmikroskops
JB/T 9352-1999 Testmethode für das Transmissionselektronenmikroskop
JB/T 6842-1993 Testmethode des Rasterelektronenmikroskops
JB/T 5383-1991 Spezifikation für Transmissionselektronenmikroskop
JB/T 5384-1991 Rasterelektronenmikroskop – Technische Spezifikation
JB/T 5584-1991 Testmethode der Transmissionselektronenmikroskop-Verstärkung
JB/T 5585-1991 Testmethode für die Auflösung eines Transmissionselektronenmikroskops
JB/T 5586-1991 Klassifizierung und Grundparameter des Transmissionselektronenmikroskops

British Standards Institution (BSI), Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

BS ISO 11884-2:2007 Optik und Photonik. Mindestanforderungen an Stereomikroskope. Hochleistungsmikroskope
BS ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
18/30319114 DC BS ISO 20171. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Markiertes Bilddateiformat für Rasterelektronenmikroskopie (TIFF/SEM)
BS ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
BS ISO 29301:2017 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
BS ISO 29301:2023 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
BS ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
BS ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
18/30344520 DC BS ISO 21466. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen mittels CD-SEM
BS ISO 13794:1999 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
PD ISO/TS 10797:2012 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Transmissionselektronenmikroskopie
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
20/30380369 DC BS ISO 23420. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
21/30404763 DC BS ISO 24639. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
BS ISO 19749:2021 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
15/30292710 DC BS ISO 19214. Richtlinien zur Bestimmung der Wachstumsrichtung drahtförmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 13794:2019 Umgebungsluft. Bestimmung von Asbestfasern. Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 10312:2019 Umgebungsluft. Bestimmung von Asbestfasern. Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
BS EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 21363:2020 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 20263:2017 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Grenzflächenposition im Querschnittsbild der Schichtmaterialien
PD ISO/TS 22292:2021 Nanotechnologien. 3D-Bildrekonstruktion von stabgestützten Nanoobjekten mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS ISO 14966:2019 Umgebungsluft. Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel. Methode der Rasterelektronenmikroskopie
BS PD ISO/TS 22292:2021 Nanotechnologien. 3D-Bildrekonstruktion von stabgestützten Nanoobjekten mittels Transmissionselektronenmikroskopie
18/30351714 DC BS ISO 21363. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie

International Organization for Standardization (ISO), Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
ISO/CD 25498:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO 11884-2:2007 Optik und Photonik – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 2: Hochleistungsmikroskope
ISO 15932:2013 Mikrostrahlanalyse.Analytische Elektronenmikroskopie.Wortschatz
ISO/CD 19214:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung drahtförmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
ISO 16700:2004 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 16700:2016 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
ISO 19214:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung drahtförmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO/FDIS 29301:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
ISO 29301:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methode zur Bewertung kritischer Abmessungen mittels CD-SEM
ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
ISO 13794:1999 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 10312:1995 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 21363:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 13794:2019 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 10312:2019 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
ISO/WD TR 23683:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Leitfaden zur experimentellen Quantifizierung der Trägerkonzentration in Halbleiterbauelementen mithilfe der elektrischen Rastersondenmikroskopie
ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse durch Elektronenenergieverlustspektroskopie
ISO/CD 20263:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Grenzflächenposition im Querschnittsbild der Schichtmaterialien
ISO 14966:2019 Umgebungsluft – Bestimmung der numerischen Konzentration anorganischer Faserpartikel – Rasterelektronenmikroskopie-Methode
ISO/TS 10797:2012 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO/TS 22292:2021 Nanotechnologien – 3D-Bildrekonstruktion von stabgestützten Nanoobjekten mittels Transmissionselektronenmikroskopie
ISO 20263:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Grenzflächenposition im Querschnittsbild der Schichtmaterialien

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

JIS K 0132:1997 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
JIS K 3850-3:2000 Messmethode für luftgetragene Faserpartikel – Teil 3: Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
JIS K 3850-2:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 2: Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie-Verfahren
JIS R 1633:1998 Verfahren zur Probenvorbereitung von Feinkeramik und Feinkeramikpulvern für die Rasterelektronenmikroskopbeobachtung

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

KS B ISO 11884-2-2011(2016) Optik und Photonik – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 2: Hochleistungsmikroskope
KS B ISO 11884-2-2011(2021) Optik und Photonik – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 2: Hochleistungsmikroskope
KS D ISO 22493-2012(2017) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS D ISO 22493:2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS B ISO 11884-2:2011 Optik und Photonik – Mindestanforderungen an Stereomikroskope – Teil 2: Hochleistungsmikroskope
KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
KS I 0051-1999(2019) Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS M 0044-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS I 0051-1999 Allgemeine Regeln für die Rasterelektronenmikroskopie
KS D ISO 16700:2013 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS D 2716-2008 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D 2716-2008(2018) Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D ISO 16700-2013(2018) Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS D 8544-2006 Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
KS D 8544-2016(2021) Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS I ISO 10312:2008 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
KS I ISO 13794:2008 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
KS I ISO 10312-2008(2018) Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie
KS I ISO 13794-2008(2018) Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie

KR-KS, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

KS D ISO 22493-2022 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Wortschatz
KS D 2716-2023 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D ISO 16700-2023 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
KS C ISO 19749-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
KS C ISO 21363-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Association Francaise de Normalisation, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

NF ISO 15932:2014 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Wortschatz
NF X21-005:2006 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
FD T16-209:2012 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF T16-404:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF T25-111-4:1991 Kohlenstofffasern – Textur und Struktur – Teil 4: Fraktographie mittels Rasterelektronenmikroskop
NF ISO 13794:2020 Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transfer-Transmissionselektronenmikroskopie
NF ISO 10312:2020 Umgebungsluft – Dosierung der Luftfasern – Methode der elektronischen Mikroskopie zur Übertragung durch direkte Übertragung
NF X43-050:2021 Luftqualität – Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie – Indirekte Methode
NF EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgrößen- und Formverteilung mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgrößen- und Formverteilung mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF X43-050:1996 Luftqualität. Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie. Indirekte Methode.

Group Standards of the People's Republic of China, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät
T/CSTM 00162-2020 Kalibrierungsmethoden für Transmissionselektronenmikroskope
T/CSTM 00166.3-2020 Charakterisierung von Graphenmaterialien Teil 3 Transmissionselektronenmikroskop
T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgröße von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

JJF 1916-2021 Kalibrierungsspezifikation für Rasterelektronenmikroskope (REM)

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

JJG(地质) 1016-1990 Kalibrierungsvorschriften für die Transmissionselektronenmikroskopie
JJG(教委) 11-1992 Vorschriften zur Kalibrierung von Rasterelektronenmikroskopen
JJG(教委) 12-1992 Kalibrierungsvorschriften für die Transmissionselektronenmikroskopie
JJG 550-1988 Verifizierungsregelung des Rasterelektronenmikroskops

Professional Standard - Education, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

JY/T 011-1996 Allgemeine Prinzipien der Transmissionselektronenmikroskopie
JY/T 0581-2020 Allgemeine Regeln für Analysemethoden der Transmissionselektronenmikroskopie
JY/T 0584-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der Rasterelektronenmikroskopie
JY/T 010-1996 Allgemeine Prinzipien der analytischen Rasterelektronenmikroskopie

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben
GB/T 34831-2017 Nanotechnologien – Elektronenmikroskopische Bildgebung von Edelmetall-Nanopartikeln – Ringförmige Dunkelfeld-Bildgebungsmethode mit großem Winkel
GB/T 34331-2017 Testmethode des Cucumber-Green-Mottle-Mosaik-Virus mittels Transmissionselektronenmikroskopie
GB/T 34002-2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
GB/T 34168-2017 Testmethode für die biologische Wirkung von Gold- und Silber-Nanopartikelmaterialien mittels Transmissionselektronenmikroskop

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

GB 7667-1996 Die Dosis der aus dem Elektronenmikroskop austretenden Röntgenstrahlen
GB 7667-2003 Die Dosis der aus dem Elektronenmikroskop austretenden Röntgenstrahlen
GB/T 18907-2002 Methode der Elektronenbeugung ausgewählter Flächen für Transmissionselektronenmikroskope
GB/T 18907-2013 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Selektierte Elektronenbeugungsanalyse unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
GB/Z 21738-2008 Grundlegende Strukturen eindimensionaler Nanomaterialien. Charakterisierung durch hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie
GB/T 21637-2008 Methode zur morphologischen Identifizierung des Coronavirus mittels Transmissionselektronenmikroskopie
GB/T 18295-2001 Analysemethode einer Sandsteinprobe aus Erdöl- und Gaslagerstätten mittels Rasterelektronenmikroskop
GB/T 19267.6-2003 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik – Teil 6: Rasterelektronenmikroskopie
GB/T 28044-2011 Allgemeiner Leitfaden zur Nachweismethode für die biologische Wirkung von Nanomaterialien mittels Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
GB/T 17507-1998 Allgemeine Spezifikation dünner biologischer Standards für die Röntgen-EDS-Mikroanalyse im Elektronenmikroskop
GB/T 27760-2011 Testmethode zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung einatomiger Si(111)-Schritte
GB/T 18873-2002 Allgemeine Spezifikation des Transmissionselektronenmikroskops (TEM) – quantitative Mikroanalyse mit röntgenenergiedispersivem Spektrum (EDS) für dünne biologische Proben
GB/T 18873-2008 Allgemeiner Leitfaden zur quantitativen Mikroanalyse mit Transmissionselektronenmikroskop (TEM) und energiedispersiver Röntgenspektrometrie (EDS) für dünne biologische Proben
GB/T 17361-2013 Mikrostrahlanalyse. Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels Rasterelektronenmikroskop und energiedispersivem Spektrometer
GB/T 19267.6-2008 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik. Teil 6: Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiedispersive Spektrometrie
GB/T 17507-2008 Allgemeine Spezifikation dünner biologischer Standards für die Röntgen-EDS-Mikroanalyse im Transmissionselektronenmikroskop
GB/T 28873-2012 Allgemeiner Leitfaden zur Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie für biologische Effekte auf die Topographie, die durch Nanopartikel hervorgerufen werden
GB/T 17361-1998 Methode zur Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels SEM und XEDS

Association of German Mechanical Engineers, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

DVS 2803-1974 Elektronenstrahlschweißen in der Mikroskopie (Umfrage)
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus stationären Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

GB/T 35098-2018 Mikrostrahlanalyse – Transmissionselektronenmikroskopie – Morphologische Identifizierungsmethode von Pflanzenviren durch Transmissionselektronenmikroskopie

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

IPC J-STD-035-1999 Akustische Mikroskopie für nicht hermetisch gekapselte elektronische Komponenten
IPC TM-650 2.6.22-1995 Akustische Mikroskopie für kunststoffverkapselte elektronische Komponenten
IPC/JEDEC J-STD-035-1999 Akustische Mikroskopie für nicht hermetisch gekapselte elektronische Komponenten [Ersetzt: IPC TM-650 2.6.22]

RU-GOST R, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

GOST 21006-1975 Elektronenmikroskope. Begriffe, Definitionen und Buchstabensymbole
GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope
GOST R 8.636-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Kalibrierung
GOST 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.631-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Überprüfung

Professional Standard - Petroleum, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

SY/T 5162-2014 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY/T 5162-1997 Analysemethode einer Gesteinsprobe mittels Rasterelektronenmikroskop
SY 5162-2014 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode für Gesteinsproben

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

JEDEC J-STD-035-1999 Akustische Mikroskopie für nichthermetisch gekapselte elektronische Komponenten

International Electrotechnical Commission (IEC), Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

IEC PAS 62191:2000 Akustische Mikroskopie für nichthermetisch gekapselte elektronische Komponenten
ISO TS 10797:2012 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Transmissionselektronenmikroskopie

国家能源局, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

SY/T 5162-2021 Rasterelektronenmikroskopische Analysemethode von Gesteinsproben

German Institute for Standardization, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021); Deutsche Fassung EN ISO 19749:2023
DIN EN ISO 21363:2022-03 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020); Deutsche Fassung EN ISO 21363:2022

工业和信息化部, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

YB/T 4676-2018 Analyse ausgefällter Phasen in Stahl mittels Transmissionselektronenmikroskopie
SJ/T 11759-2020 Messung des Seitenverhältnisses von Photovoltaik-Zellenelektroden-Gitterlinien durch konfokale Laser-Scanning-Mikroskopie

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

DB32/T 3459-2018 Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Mikroflächenbedeckung von Graphenfilmen

Professional Standard - Judicatory, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

SF/T 0139-2023 Bodeninspektion Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiespektrometrie

SE-SIS, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
SIS SS CECC 00013-1985 Grundlegende Spezifikation: Rasterelektronenmikroskopische Inspektion von Halbleiterchips

European Committee for Standardization (CEN), Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)
EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)
prEN ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)

Danish Standards Foundation, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
DS/ISO/TS 10797:2012 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Transmissionselektronenmikroskopie
DS/ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie

ES-UNE, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und -formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Februar 2022.)
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen durch Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2023.)

Professional Standard - Public Safety Standards, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

GA/T 1939-2021 Forensische Wissenschaft Aktuelle Stichprobenuntersuchung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1938-2021 Forensische Metallinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1937-2021 Forensische Wissenschaft Gummiinspektion Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 909-2010 Sammel- und Verpackungsmethode für Spurenspuren – Schussrückstände (SEM/EDS-Untersuchung)
GA/T 1522-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung von Schießrückständen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1521-2018 Forensische Wissenschaft, Untersuchung der Elementarzusammensetzung von Kunststoffen, Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie
GA/T 1519-2018 Forensische Wissenschaft Prüfung der Tonerelementzusammensetzung Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektroskopie

IT-UNI, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

UNI 7604-1976 Elektronenmikroskopische Untersuchung metallischer Werkstoffe mittels Replikattechnik. Herstellung von Replikaten für die Mikrofraktographie-Untersuchung.
UNI 7329-1974 Elektronenmikroskopische Untersuchung metallischer Werkstoffe mittels Replikattechnik. Herstellung von Replikaten zur Mikrostrukturuntersuchung.

PH-BPS, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

PNS ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie

AENOR, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).
UNE 77236:1999 UMGEBUNGSLUFT. BESTIMMUNG VON ASBESTFASERN. VERFAHREN DER DIREKTÜBERTRAGUNGSELEKTRONENMIKROSKOPIE.

Lithuanian Standards Office , Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

AT-ON, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)
OENORM EN ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

GJB 5384.22-2005 Leistungstestverfahren für pyrotechnische Zusammensetzungen Teil 21: Konzentrationsbestimmung der Mengen fester Rauchpartikel Elektronenmikroskopische Methode
GJB 5384.23-2005 Leistungstestverfahren für pyrotechnische Zusammensetzungen Teil 23: Bestimmung der Partikelgrößenverteilung für feste Rauchpartikel Elektronenmikroskopische Methode

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

GJB 8684.22-2015 Prüfverfahren für pyrotechnische Eigenschaften – Teil 22: Bestimmung der Anzahlkonzentration von Rauchfeststoffpartikeln mittels Elektronenmikroskopie
GJB 8684.23-2015 Prüfverfahren für pyrotechnische Eigenschaften – Teil 23: Bestimmung der Partikelgrößenverteilung von Rauchfeststoffpartikeln mittels Elektronenmikroskopie

未注明发布机构, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

BS CECC 13:1985(1999) Harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten: Grundspezifikation: Rasterelektronenmikroskop-Inspektion von Halbleiterchips
DIN EN ISO 21363 E:2021-09 Nanotechnology Measurement of Particle Size and Shape Distribution by Transmission Electron Microscopy (Draft)
DIN EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Partikelformverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie

BE-NBN, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

NBN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Elektronenmikroskop mit hoher Vergrößerung+

IPC/JEDEC J-STD-035 CD-1999 Akustische Mikroskopie für nicht hermetisch gekapselte elektronische Komponenten (Enthält Änderung 1: Januar 2007)