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So messen Sie die Geräteauflösung

Für die So messen Sie die Geräteauflösung gibt es insgesamt 57 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst So messen Sie die Geräteauflösung die folgenden Kategorien: medizinische Ausrüstung, Strahlungsmessung, Optoelektronik, Lasergeräte, fotografische Fähigkeiten, Kernenergietechnik, Elektronische Anzeigegeräte, Optische Ausrüstung, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, IT-Terminals und andere Peripheriegeräte, Messung von Zeit, Geschwindigkeit, Beschleunigung und Winkelgeschwindigkeit, Spezialmessgeräte für die Telekommunikation, Nichteisenmetalle, analytische Chemie, Prüfung von Metallmaterialien, Abfall, Glasfaserkommunikation, Strahlenschutz.


PL-PKN, So messen Sie die Geräteauflösung

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), So messen Sie die Geräteauflösung

  • KS A 4902-1979 Auflösungstestkarten für Röntgengeräte
  • KS A 4902-1987 Auflösungstestkarten für Röntgengeräte
  • KS A ISO 16067-2-2005(2020) Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Messung der räumlichen Auflösung – Teil 2: Filmscanner
  • KS C 7114-2008(2018) Plasma-Display-Panels (PDP) – Messmethode für die Auflösung bewegter Bilder
  • KS A ISO 16067-1-2005(2020) Fotografie – Raumauflösungsmessungen elektronischer Scanner für fotografische Bilder – Teil 1: Scanner für reflektierende Medien
  • KS C IEC 60846-1:2014 Strahlenschutzinstrumente – Umgebungs- und/oder gerichtete Äquivalentdosis(leistungs)messgeräte und/oder Monitore für Beta-, X- und Gammastrahlung – Teil 1: Tragbare Arbeitsplatz- und Umgebungsmessgeräte und -monitore

RU-GOST R, So messen Sie die Geräteauflösung

  • GOST 17038.6-1979 Szintillationsdetektoren für ionisierende Strahlung. Verfahren zur Messung der intrinsischen und gegebenen Detektorauflösung
  • GOST 11612.8-1985 Photomultiplier. Messverfahren zur Energieauflösung
  • GOST IEC 61947-1-2014 Elektronische Projektion. Messung und Dokumentation wichtiger Leistungskriterien. Teil 1. Projektoren mit fester Auflösung
  • GOST IEC 61947-2-2014 Elektronische Projektion. Messung und Dokumentation wichtiger Leistungskriterien. Teil 2. Projektoren mit variabler Auflösung

International Electrotechnical Commission (IEC), So messen Sie die Geräteauflösung

  • IEC 62372:2006 Nukleare Instrumentierung – Gehäuseszintillatoren – Messmethoden für Lichtleistung und intrinsische Auflösung

British Standards Institution (BSI), So messen Sie die Geräteauflösung

  • 19/30404099 DC BS EN IEC 62372. Nukleare Instrumentierung. Untergebrachte Szintillatoren. Messmethoden für Lichtleistung und intrinsische Auflösung
  • BS EN IEC 62372:2022 Nukleare Instrumentierung. Untergebrachte Szintillatoren. Testmethoden für Lichtleistung und intrinsische Auflösung
  • BS ISO 16067-2:2004 Fotografie. Elektronische Scanner für fotografische Bilder. Messungen der räumlichen Auflösung. Filmscanner
  • BS ISO 16067-1:2003 Fotografie. Ortsauflösungsmessungen für elektronische Scanner für fotografische Bilder. Scanner für reflektierende Medien
  • BS ISO 14490-7:2005 Optik und optische Instrumente - Prüfverfahren für Teleskopsysteme - Prüfverfahren zur Auflösungsgrenze
  • BS EN 61947-2:2002 Elektronische Projektion. Messung und Dokumentation wichtiger Leistungskriterien. Projektoren mit variabler Auflösung

German Institute for Standardization, So messen Sie die Geräteauflösung

  • DIN EN IEC 62372:2023-03 Nukleare Instrumentierung – Gehäuseszintillatoren – Prüfverfahren für Lichtleistung und intrinsische Auflösung (IEC 62372:2021); Deutsche Fassung EN IEC 62372:2022
  • DIN EN 61947-2:2002-07 Elektronische Projektion – Messung und Dokumentation wichtiger Leistungskriterien – Teil 2: Projektoren mit variabler Auflösung (IEC 61947-2:2001); Deutsche Fassung EN 61947-2:2002
  • DIN EN 61947-1:2003 Elektronische Projektion – Messung und Dokumentation wichtiger Leistungskriterien – Teil 1: Projektoren mit fester Auflösung (IEC 61947-1:2002); Deutsche Fassung EN 61947-1:2002
  • DIN EN 61947-1:2003-03 Elektronische Projektion – Messung und Dokumentation wichtiger Leistungskriterien – Teil 1: Projektoren mit fester Auflösung (IEC 61947-1:2002); Deutsche Fassung EN 61947-1:2002

ES-UNE, So messen Sie die Geräteauflösung

  • UNE-EN IEC 62372:2022 Nukleare Instrumentierung – Gehäuseszintillatoren – Testmethoden für Lichtleistung und intrinsische Auflösung (Von der spanischen Vereinigung für Normung im Januar 2023 gebilligt.)
  • UNE-EN 62129-1:2016 Kalibrierung von Wellenlängen-/optischen Frequenzmessgeräten – Teil 1: Optische Spektrumanalysatoren (Von AENOR im Juli 2016 gebilligt.)
  • UNE-EN IEC 62129-3:2019 Kalibrierung von Wellenlängen-/optischen Frequenzmessgeräten – Teil 3: Optische Frequenzmessgeräte mit interner Referenzierung auf einen Frequenzkamm (Von der spanischen Normungsvereinigung im September 2019 gebilligt.)

International Organization for Standardization (ISO), So messen Sie die Geräteauflösung

  • ISO 16067-2:2004 Fotografie – Elektronische Scanner für fotografische Bilder – Messungen der räumlichen Auflösung – Teil 2: Filmscanner
  • ISO 16067-1:2003 Fotografie – Ortsauflösungsmessungen elektronischer Scanner für fotografische Bilder – Teil 1: Scanner für reflektierende Medien

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., So messen Sie die Geräteauflösung

  • IEEE N42.31-2003 Messverfahren für Auflösung und Effizienz von Halbleiterdetektoren mit großer Bandlücke für ionisierende Strahlung

Association Francaise de Normalisation, So messen Sie die Geräteauflösung

  • NF EN 61947-2:2004 Elektronische Projektion – Messung und Dokumentation wichtiger Leistungskriterien – Teil 2: Projektoren mit variabler Auflösung
  • NF C97-205-2*NF EN 61947-2:2004 Elektronische Projektion – Messung und Dokumentation wichtiger Leistungskriterien – Teil 2: Projektoren mit variabler Auflösung.
  • NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 Kalibrierung von Wellenlängen-/optischen Frequenzmessgeräten – Teil 1: Optische Spektrumanalysatoren
  • NF EN 60846-1:2015 Instrumente für den Strahlenschutz - Instrumente zur Messung und/oder Überwachung der Umgebungs- und/oder Richtungsdosisäquivalentdosis (oder Dosisäquivalentrate) für Beta-, Röntgen- und Gammastrahlung - Teil 1: Überwachungsinstrumente ...
  • NF M60-302-1:2006 Kernenergie – Messung der Aktivität von Abfallpaketen – Teil 1: hochauflösende Gammaspektrometrie im Integralmodus mit offener Geometrie.
  • NF EN 60846-2:2018 Instrumente für den Strahlenschutz – Instrumente zur Messung und/oder Überwachung der Umgebungs- und/oder Richtungsdosisäquivalentdosis (oder Dosisäquivalentrate) für Beta-, Röntgen- und Gammastrahlung – Teil 2: Tragbare Instrumente. ..
  • NF C93-846-13*NF EN IEC 62129-3:2019 Kalibrierung von Wellenlängen-/optischen Frequenzmessgeräten – Teil 3: Optische Frequenzmessgeräte mit interner Referenzierung auf einen Frequenzkamm

Danish Standards Foundation, So messen Sie die Geräteauflösung

  • DS/EN 61947-1:2003 Elektronische Projektion – Messung und Dokumentation wichtiger Leistungskriterien – Teil 1: Projektoren mit fester Auflösung
  • DS/EN 61947-2:2002 Elektronische Projektion – Messung und Dokumentation wichtiger Leistungskriterien – Teil 2: Projektoren mit variabler Auflösung

AENOR, So messen Sie die Geräteauflösung

  • UNE-EN 61947-1:2003 Elektronische Projektion – Messung und Dokumentation wichtiger Leistungskriterien – Teil 1: Projektoren mit fester Auflösung
  • UNE-EN 61947-2:2002 Elektronische Projektion – Messung und Dokumentation wichtiger Leistungskriterien – Teil 2: Projektoren mit variabler Auflösung.

未注明发布机构, So messen Sie die Geräteauflösung

  • DIN EN 61974-1:2003 Elektronische Projektionsmessung und Dokumentation wichtiger Leistungsmerkmale Teil 1: Projektoren mit fester Auflösung
  • BS EN IEC 62129-3:2019 Kalibrierung von Wellenlängen-/optischen Frequenzmessgeräten Teil 3: Optische Frequenzmessgeräte mit interner Referenzierung auf einen Frequenzkamm

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), So messen Sie die Geräteauflösung

  • JIS C 1283-1:2009 Wattstunden-, Var-Stunden- und Maximalbedarfsindikatoren für die Telemetrie – Teil 1: Allgemeines Messgerät
  • JIS C 1263-1:2009 Var-Stundenzähler – Teil 1: Allgemeine Messgeräte
  • JIS C 1283-2:2009 Wattstunden-, Var-Stunden- und Maximalbedarfsindikatoren für die Telemetrie – Teil 2: Transaktion oder Zertifizierung verwendeter Messgeräte
  • JIS C 1283-2 AMD 1:2014 Wattstunden-, Var-Stunden- und Maximalbedarfsindikatoren für die Telemessung – Teil 2: Messgeräte, die bei Transaktionen oder Zertifizierungen verwendet werden (Änderungsantrag 1)
  • JIS C 1263-2:2009 Var-Stundenzähler – Teil 2: Messgeräte für Transaktionen oder Zertifizierungen

American Society of Mechanical Engineers (ASME), So messen Sie die Geräteauflösung

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), So messen Sie die Geräteauflösung

  • EN 62129-1:2016 Kalibrierung von Wellenlängen-/optischen Frequenzmessgeräten – Teil 1: Optische Spektrumanalysatoren
  • EN IEC 62129-3:2019 Kalibrierung von Wellenlängen-/optischen Frequenzmessgeräten – Teil 3: Optische Frequenzmessgeräte mit interner Referenzierung auf einen Frequenzkamm

American Society for Testing and Materials (ASTM), So messen Sie die Geräteauflösung

  • ASTM F2405-04(2011) Standardtestmethode für Spurenmetallverunreinigungen in hochreinem Kupfer mittels Glimmentladungs-Massenspektrometer mit hoher Massenauflösung
  • ASTM F2405-04 Standardtestmethode für Spurenmetallverunreinigungen in hochreinem Kupfer mittels Glimmentladungs-Massenspektrometer mit hoher Massenauflösung
  • ASTM F1710-97 Standardtestmethode für Spurenmetallverunreinigungen in Titan in elektronischer Qualität mit einem Glimmentladungs-Massenspektrometer mit hoher Massenauflösung
  • ASTM F1710-97(2002) Standardtestmethode für Spurenmetallverunreinigungen in Titan in elektronischer Qualität mit einem Glimmentladungs-Massenspektrometer mit hoher Massenauflösung
  • ASTM F1593-08(2016) Standardtestmethode für Spurenmetallverunreinigungen in Aluminium in elektronischer Qualität mit einem Glimmentladungs-Massenspektrometer mit hoher Massenauflösung
  • ASTM F1710-08(2016) Standardtestmethode für Spurenmetallverunreinigungen in Titan in elektronischer Qualität mit einem Glimmentladungs-Massenspektrometer mit hoher Massenauflösung

BE-NBN, So messen Sie die Geräteauflösung

  • NBN-EN 60051-6-1994 Direktwirkende, anzeigende analoge elektrische Messgeräte und deren Zubehör Teil 6: Besondere Anforderungen an Ohmmeter (Impedanzmessgeräte) und Leitwertmessgeräte

Audio Engineering Society, So messen Sie die Geräteauflösung

  • AES 5ID-1997 AES-Informationsdokument – Frequenz- und Winkelauflösung zur Messung, Darstellung und Vorhersage von Lautsprecherpolardaten 29.06.2003 Druck R(2003)




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