Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche

Für die Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche gibt es insgesamt 170 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Optik und optische Messungen, Längen- und Winkelmessungen.

IN-BIS, Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche

IS 11148-1984 Leistung des Spektrumanalysators

未注明发布机构, Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche

DIN ISO 15472 E:2019-09 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
BS ISO 21270:2004(2010) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
BS ISO 17974:2002(2010) Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
DIN ISO 16129 E:2020-01 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der täglichen Leistung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers
BS ISO 18516:2006(2010) Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung
DIN ISO 16242 E:2019-10 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES)

International Organization for Standardization (ISO), Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche

ISO 15472:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
ISO 15472:2001 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
ISO/DIS 17973:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
ISO 21270:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
ISO/CD 17973 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
ISO 15470:2017 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
ISO 10810:2019 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse
ISO 17973:2016 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
ISO 17973:2002 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
ISO 16129:2018 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der täglichen Leistung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers
ISO 16129:2012 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der täglichen Leistung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers
ISO 10810:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse
ISO 15471:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
ISO 15471:2016 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
ISO 15470:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
ISO 17974:2002 Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
ISO 13424:2013 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Berichterstattung über Ergebnisse der Dünnschichtanalyse
ISO/TR 18394:2016 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Ableitung chemischer Informationen
ISO 13084:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Kalibrierung der Massenskala für ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer
ISO 19830:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Elektronenspektroskopie – Mindestberichtsanforderungen für die Peakanpassung in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie
ISO/CD 5861 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methode der Intensitätskalibrierung für monochromatische Al Kα XPS-Instrumente mit Quarzkristall
ISO/DIS 5861:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methode der Intensitätskalibrierung für monochromatische Al Kα XPS-Instrumente mit Quarzkristall
ISO 13084:2018 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Kalibrierung der Massenskala für ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer
ISO/CD TR 18392:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Hintergrundbestimmung
ISO/TR 19319:2003 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
ISO 17331:2004/Amd 1:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Chemische Methoden zur Sammlung von Elementen von der Oberfläche von Siliziumwafer-Arbeitsreferenzmaterialien und deren Bestimmung durch Totalreflexions-Röntgenfluoreszenzspektroskopie (TXRF); Änderung 1
ISO 14701:2018 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Messung der Siliziumoxiddicke
ISO 16242:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES)
ISO 14701:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Messung der Siliziumoxiddicke
ISO 16243:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)
ISO 178:1975 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Linearität der Intensitätsskala in Flugzeit-Massenanalysatoren mit Einzelionenzählung
ISO 17862:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Linearität der Intensitätsskala in Flugzeit-Massenanalysatoren mit Einzelionenzählung
ISO 17862:2013 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Linearität der Intensitätsskala in Flugzeit-Massenanalysatoren mit Einzelionenzählung
ISO 178:2019 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Linearität der Intensitätsskala in Flugzeit-Massenanalysatoren mit Einzelionenzählung
ISO 29081:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur
ISO 18554:2016 Chemische Oberflächenanalyse – Elektronenspektroskopie – Verfahren zur Identifizierung, Schätzung und Korrektur einer unbeabsichtigten Verschlechterung durch Röntgenstrahlen in einem Material, das einer Analyse durch Röntgenphotoelektronenspektroskopie unterzogen wird
ISO/DIS 18118:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
ISO/FDIS 18118:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
ISO 17109:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
ISO 17109:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie-Sputtertiefe S
ISO 22581:2021 Chemische Oberflächenanalyse – Informationen nahezu in Echtzeit aus dem Röntgenphotoelektronenspektroskopie-Durchmusterungsscan – Regeln zur Identifizierung und Korrektur von Oberflächenverunreinigungen durch kohlenstoffhaltige Substanzen
ISO 16531:2013 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und die damit verbundene Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS
ISO 19668:2017 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Schätzung und Meldung von Nachweisgrenzen für Elemente in homogenen Materialien
ISO 20903:2019 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind

Association Francaise de Normalisation, Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche

NF X21-055:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen.
NF ISO 17973:2006 Chemische Analyse von Oberflächen – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
NF X21-054*NF ISO 17973:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse.
NF X21-071:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse.
NF ISO 17974:2009 Chemische Analyse von Oberflächen – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
NF ISO 24236:2006 Chemische Analyse von Oberflächen – Auger-Elektronenspektroskopie – Wiederholbarkeit und Konstanz der Energieskala
NF ISO 16242:2012 Chemische Analyse von Oberflächen – Auger-Elektronenspektroskopie (AES) Datenprotokollierung und Berichterstattung
NF X21-072*NF ISO 16242:2012 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES).
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS).
NF ISO 16243:2012 Chemische Analyse von Oberflächen – Datenprotokollierung und Berichterstattung durch Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS).
NF ISO 29081:2010 Chemische Analyse von Oberflächen – Auger-Elektronenspektroskopie – Angabe der Methoden zur Kontrolle und Korrektur der Ladung
NF X21-058:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche

GB/T 25187-2010 Chemische Oberflächenanalyse.Auger-Elektronenspektroskopie.Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
GB/T 21006-2007 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer.Linearität der Intensitätsskala
GB/T 28892-2012 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronenspektroskopie.Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
GB/T 22571-2008 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronenspektrometer.Kalibrierung von Energieskalen
GB/T 29731-2013 Chemische Oberflächenanalyse. Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer. Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
GB/T 29732-2013 Chemische Oberflächenanalyse. Mittelauflösende Auger-Elektronenspektrometer. Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
GB/T 30704-2014 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronenspektroskopie.Richtlinien für die Analyse
GB/Z 32494-2016 Analyse der Oberfläche, chemische Analyse, Auger-Elektronenspektroskopie, Interpretation chemischer Informationen
GB/T 29556-2013 Chemische Oberflächenanalyse. Schneckenelektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Bestimmung der lateralen Auflösung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
GB/T 28632-2012 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Bestimmung der lateralen Auflösung
GB/Z 32490-2016 Verfahren zur Bestimmung des Hintergrunds mittels Röntgenphotoelektronenspektroskopie für die chemische Oberflächenanalyse
GB/T 29558-2013 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie. Wiederholbarkeit und Konstanz der Intensitätsskala
GB/T 28633-2012 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronenspektroskopie.Wiederholbarkeit und Konstanz der Intensitätsskala
GB/T 25185-2010 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronenspektroskopie.Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur
GB/T 30702-2014 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
GB/T 28893-2012 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche

KS D ISO 19319-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
KS D ISO 21270:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
KS D ISO 17973-2011(2016) Chemische Oberflächenanalyse – mittelauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
KS D ISO 15470-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
KS D ISO 21270-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
KS D ISO 15472:2003 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
KS D ISO 17973-2011(2021) Chemische Oberflächenanalyse – mittelauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
KS D ISO 15471-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
KS D ISO 17974-2011(2016) Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
KS D ISO 17973:2011 Chemische Oberflächenanalyse – mittelauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
KS D ISO 15471:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
KS D ISO 17974-2011(2021) Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
KS D ISO 15470:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
KS D ISO 17974:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
KS D ISO 19319:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
KS D ISO 18118-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse von h
KS D ISO 19318-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche

GB/T 29732-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Schneckenelektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
GB/T 41072-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Elektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse durch Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie
GB/T 36401-2018 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Berichterstattung über Ergebnisse der Dünnschichtanalyse
GB/T 36504-2018 Leitfaden zur Analyse der Oberflächenverunreinigung von Leiterplatten – Auger-Elektronenspektroskopie
GB/T 40129-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Kalibrierung der Massenskala für ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer
GB/T 41073-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Elektronenspektroskopie – Mindestberichtsanforderungen für die Peakanpassung in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie
GB/T 41064-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen

British Standards Institution (BSI), Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche

BS ISO 21270:2004 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer. Linearität der Intensitätsskala
BS ISO 17973:2016 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung. Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
BS ISO 15471:2016 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie. Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
BS ISO 16129:2018 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Verfahren zur Beurteilung der täglichen Leistung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers
BS ISO 10810:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Richtlinien zur Analyse
BS ISO 17973:2003 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
BS ISO 16129:2012 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Verfahren zur Beurteilung der täglichen Leistung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers
BS ISO 10810:2010 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Richtlinien zur Analyse
BS ISO 15471:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
BS ISO 15470:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
BS ISO 15470:2017 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
BS ISO 17974:2002 Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
BS ISO 13084:2018 Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Kalibrierung der Massenskala für ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer
PD ISO/TR 18394:2016 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie. Ableitung chemischer Informationen
BS ISO 19830:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Elektronenspektroskopien. Mindestanforderungen an die Berichterstattung für die Peakanpassung in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie
BS ISO 17862:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Linearität der Intensitätsskala in Flugzeit-Massenanalysatoren mit Einzelionenzählung
BS ISO 16242:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES)
BS ISO 14701:2018 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Messung der Siliziumoxiddicke
BS ISO 14701:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Messung der Siliziumoxiddicke
PD ISO/TR 23173:2021 Chemische Oberflächenanalyse. Elektronenspektroskopien. Messung der Dicke und Zusammensetzung von Nanopartikelbeschichtungen
BS ISO 21270:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
20/30409963 DC BS ISO 17862. Chemische Oberflächenanalyse. Sekundärionen-Massenspektrometrie. Linearität der Intensitätsskala in Flugzeit-Massenanalysatoren mit Einzelionenzählung
BS ISO 16243:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)
BS ISO 29081:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur
BS ISO 17109:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, der Auger-Elektronenspektroskopie und der Sekundärionen-Massenspektrometrie. Sputter-Dept-Profiling unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen dünnen…
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, der Auger-Elektronenspektroskopie und der Sekundärionen-Massenspektrometrie. Sputtertiefenprofilierung mithilfe von Einzel- und…
BS ISO 18554:2016 Chemische Oberflächenanalyse. Elektronenspektroskopien. Verfahren zur Identifizierung, Schätzung und Korrektur einer unbeabsichtigten Verschlechterung durch Röntgenstrahlen in einem Material, das einer Analyse mittels Röntgenphotoelektronenspektroskopie unterzogen wird
BS ISO 18118:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
BS ISO 17109:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
23/30461294 DC BS ISO 18118. Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
BS ISO 19668:2017 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Schätzung und Meldung von Nachweisgrenzen für Elemente in homogenen Materialien
BS ISO 19318:2021 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur
BS ISO 20903:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Methoden zur Bestimmung von Spitzenintensitäten und erforderliche Informationen für die Ergebnisberichterstattung
BS ISO 22581:2021 Chemische Oberflächenanalyse. Nahezu Echtzeitinformationen aus dem Röntgen-Photoelektronenspektroskopie-Durchmusterungsscan. Regeln zur Identifizierung und Korrektur von Oberflächenverunreinigungen durch kohlenstoffhaltige Verbindungen
BS ISO 20903:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Methoden zur Bestimmung von Spitzenintensitäten und erforderliche Informationen für die Ergebnisberichterstattung
BS ISO 16531:2013 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und der damit verbundenen Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS
20/30423741 DC BS ISO 19318. Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche

GB/T 22571-2017 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
GB/T 32565-2016 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES)
GB/T 33502-2017 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS)
GB/T 32998-2016 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur

KR-KS, Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche

KS D ISO 15472-2003(2023) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Kalibrierung der Energieskala
KS D ISO 14707-2003(2023) Chemische Oberflächenanalyse – Glimmentladungs-Emissionsspektroskopie (GD-OES) – Einführung

German Institute for Standardization, Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche

DIN ISO 15472:2020-05 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen (ISO 15472:2010); Text auf Englisch
DIN ISO 16129:2020-11 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der täglichen Leistung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers (ISO 16129:2018); Text auf Englisch
DIN ISO 15472:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen (ISO 15472:2010); Text auf Englisch
DIN ISO 16129:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der täglichen Leistung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers (ISO 16129:2018); Text auf Englisch
DIN ISO 16242:2020-05 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES) (ISO 16242:2011); Text auf Englisch
DIN ISO 16242:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES) (ISO 16242:2011); Text auf Englisch

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche

JIS K 0165:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektrometer mittlerer Auflösung – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementaranalyse
JIS K 0161:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
JIS K 0162:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
JIS K 0166:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Hochauflösende Auger-Elektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen für die Elementar- und chemische Zustandsanalyse
JIS K 0152:2014 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronenspektroskopie.Wiederholbarkeit und Konstanz der Intensitätsskala
JIS K 0157:2021 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Kalibrierung der Massenskala für ein Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektrometer
JIS K 0155:2018 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Linearität der Intensitätsskala in Zeitflug-Massenanalysatoren mit Einzelionenzählung
JIS K 0167:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien

Standard Association of Australia （SAA）, Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche

AS ISO 15470:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
AS ISO 15472:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
AS ISO 19319:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Augur-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
AS ISO 18118:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien

American Society for Testing and Materials (ASTM), Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche

ASTM F1375-92(2012) Standardtestmethode für die energiedispersive Röntgenspektrometeranalyse (EDX) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM F1375-92(2005) Standardtestmethode für die energiedispersive Röntgenspektrometeranalyse (EDX) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM F1375-92(1999) Standardtestmethode für die energiedispersive Röntgenspektrometeranalyse (EDX) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen
ASTM F1375-92(2020) Standardtestmethode für die energiedispersive Röntgenspektrometeranalyse (EDX) des metallischen Oberflächenzustands für Komponenten von Gasverteilungssystemen

RU-GOST R, Energiespektrometer analysiert Titanoberfläche

GOST R ISO 16242-2016 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Chemische Oberflächenanalyse. Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie (AES)
GOST R ISO 16243-2016 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Oberflächenchemische Analyse. Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)