Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

Für die Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop gibt es insgesamt 56 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop die folgenden Kategorien: Längen- und Winkelmessungen, analytische Chemie, Physik Chemie, Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Thermodynamik und Temperaturmessung, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Optik und optische Messungen, Kernenergietechnik, Keramik, Luftqualität.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

ASTM E2382-04 Leitfaden zu Scanner- und Spitzenartefakten in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2382-04(2012) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2859-11(2017) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM E285-08(2015) Standardtestmethode für die Oxyacetylen-Ablationsprüfung von Wärmedämmmaterialien
ASTM E2382-04(2020) Standardhandbuch für Scanner- und Spitzenartefakte in der Rastertunnelmikroskopie und der Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2859-11(2023) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2859-11 Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2530-06 Standardpraxis zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung von einatomigen Si(111)-Schritten
ASTM D6281-06 Standardtestmethode für die Asbestkonzentration in der Luft in der Umgebungs- und Innenraumatmosphäre, bestimmt durch Transmissionselektronenmikroskopie und Direkttransfer (TEM)
ASTM D6281-04 Standardtestmethode für die Asbestkonzentration in der Luft in der Umgebungs- und Innenraumatmosphäre, bestimmt durch Transmissionselektronenmikroskopie und Direkttransfer (TEM)
ASTM D6281-09 Standardtestmethode für die Asbestkonzentration in der Luft in der Umgebungs- und Innenraumatmosphäre, bestimmt durch Transmissionselektronenmikroskopie und Direkttransfer (TEM)

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

SPB-M6-3-2010 08.04.: Rasterkraftmikroskopie (Hintergrund zur Technik)
SPB-M2-1-2007 Mittels Rasterkraftmikroskopie untersuchte Grenzflächen- und rheologische Eigenschaften von Asphaltenen.
SPB-M6-1-2010 08.04.: Grenzflächen- und rheologische Eigenschaften von Asphaltenen mittels AFM untersucht
SPB-M14-1-2010 10. September: Wechselwirkungen und rheologische Eigenschaften von Asphaltenen, untersucht durch Rasterkraftmikroskopie
SPB-M6-2-2010 08. Apr.: Kolloidale Wechselwirkungen zwischen Asphalten und verschiedenen Oberflächen, gemessen durch Rasterkraftmikroskopie (AFM)

International Organization for Standardization (ISO), Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

ISO 23729:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmodule für nachgiebige Materialien unter Verwendung des Rasterkraftmikroskops und der Zweipunkt-JKR-Methode
ISO 13095:2014 Chemische Oberflächenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird
ISO/CD 25178-603 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Fläche – Teil 603: Nominelle Eigenschaften berührungsloser Instrumente (phasenverschiebende interferometrische Mikroskopie).
ISO/DIS 19606:2023 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, Hochleistungskeramik) – Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit feiner Keramikfilme mittels Rasterkraftmikroskopie

British Standards Institution (BSI), Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

BS ISO 23729:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
21/30412880 DC BS ISO 23729. Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Leitfaden für das Wiederherstellungsverfahren für Rasterkraftmikroskopbilder, die durch eine endliche Sondengröße erweitert wurden
BS ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
19/30351707 DC BS ISO 21222. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
BS EN ISO 25178-607:2019 Geometrische Produktspezifikationen (GPS). Oberflächenbeschaffenheit: Flächenhaft – Nominale Eigenschaften berührungsloser (konfokaler Mikroskopie) Instrumente
BS ISO 13095:2014 Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird
23/30461942 DC BS ISO 19606. Feinkeramik (Hochleistungskeramik, Hochleistungskeramik). Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit feiner Keramikfilme mittels Rasterkraftmikroskopie

Group Standards of the People's Republic of China, Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

T/CSTM 00003-2019 Dickenmessungen zweidimensionaler Materialien Rasterkraftmikroskopie (AFM)
T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät
T/GDASE 0008-2020 Bestimmung des Elastizitätsmoduls von Graphenfilmen

German Institute for Standardization, Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
DIN EN ISO 25178-607:2019-12 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Fläche – Teil 607: Nominelle Eigenschaften berührungsloser (konfokaler Mikroskopie) Instrumente (ISO 25178-607:2019); Deutsche Fassung EN ISO 25178-607:2019
DIN EN ISO 25178-603:2014-02 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Fläche – Teil 603: Nominelle Eigenschaften berührungsloser Instrumente (phasenverschiebende interferometrische Mikroskopie) (ISO 25178-603:2013); Deutsche Fassung EN ISO 25178-603:2013
DIN EN ISO 25178-607:2019 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Fläche – Teil 607: Nominelle Eigenschaften berührungsloser (konfokaler Mikroskopie) Instrumente (ISO 25178-607:2019)
DIN EN ISO 25178-607:2017 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Fläche – Teil 607: Nominale Eigenschaften berührungsloser (konfokaler Mikroskopie) Instrumente (ISO/DIS 25178-607:2017); Deutsche und englische Version prEN ISO 25178-607:2017

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

GB/T 31227-2014 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit mittels Rasterkraftmikroskop für gesputterte Dünnfilme
GB/T 28872-2012 Testmethode eines magnetischen Rasterkraftmikroskops mit leichtem Schlagmodus für die Nanotopographie lebender Zellen
GB/T 32189-2015 Rasterkraftmikroskopische Untersuchung der Oberflächenrauheit von Galliumnitrid-Einkristallsubstraten
GB/T 27760-2011 Testmethode zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung einatomiger Si(111)-Schritte

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

GB/T 40066-2021 Nanotechnologien – Dickenmessung von Graphenoxid – Rasterkraftmikroskopie (AFM)

Professional Standard - Nuclear Industry, Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

EJ/T 20176-2018 Rasterkraftmikroskop-Messmethode zur Kantenschärfe von Diamantwerkzeugen

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

GB/T 32262-2015 Vorbereitung einer Desoxyribonukleinsäureprobe für die Rasterkraftmikroskopmessung

RU-GOST R, Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

GOST 8.593-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.635-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Kalibrierung
GOST R 8.593-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.700-2010 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Methode zur Messung der effektiven Höhe der Oberflächenrauheit mittels Rasterkraftmikroskop

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

JIS R 1683:2007 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit keramischer Dünnfilme mittels Rasterkraftmikroskopie
JIS R 1683:2014 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit keramischer Dünnfilme mittels Rasterkraftmikroskopie

ES-UNE, Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

UNE-EN ISO 25178-607:2019 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Fläche – Teil 607: Nominelle Eigenschaften berührungsloser (konfokaler Mikroskopie) Instrumente (ISO 25178-607:2018) (Genehmigt von der Asociación Española de Normalización im Mai 2020.)
UNE-EN ISO 25178-603:2013 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Fläche – Teil 603: Nominale Eigenschaften von berührungslosen Instrumenten (phasenverschiebende interferometrische Mikroskopie) (ISO 25178-603:2013) (von AENOR im Januar 2015 gebilligt.)

Association Francaise de Normalisation, Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

NF EN ISO 25178-607:2019 Geometrische Produktspezifikation (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Oberfläche – Teil 607: Nenneigenschaften berührungsloser Instrumente (konfokale Mikroskopie)
NF EN ISO 25178-603:2013 Geometrische Produktspezifikation (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Oberfläche – Teil 603: Nenneigenschaften berührungsloser Instrumente (interferometrische Streifengleitmikroskope)

International Electrotechnical Commission (IEC), Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

IEC TS 62607-6-2:2023 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 6-2: Graphen – Anzahl der Schichten: Rasterkraftmikroskopie, optische Transmission, Raman-Spektroskopie

European Committee for Standardization (CEN), Kontakt mit dem Rasterkraftmikroskop

EN ISO 25178-603:2009 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Fläche – Teil 603: Nominelle Eigenschaften von berührungslosen Instrumenten (phasenverschiebende interferometrische Mikroskopie).
EN ISO 25178-603:2013 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Fläche – Teil 603: Nominale Eigenschaften von berührungslosen Instrumenten (phasenverschiebende interferometrische Mikroskopie).