UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

Für die UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie gibt es insgesamt 226 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Optik und optische Messungen, Zerstörungsfreie Prüfung, Umfangreiche elektronische Komponenten, Längen- und Winkelmessungen, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Halbleitermaterial, Nichteisenmetalle, Elektrische und elektronische Prüfung, Medizinische Wissenschaften und Gesundheitsgeräte integriert, Optische Ausrüstung, Umweltschutz, Gesundheit und Sicherheit, medizinische Ausrüstung, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Metallkorrosion, Keramik, Feuerfeste Materialien, nichtmetallische Mineralien, Physik Chemie, Metrologie und Messsynthese, Farben und Lacke, Papier und Pappe, Prüfung von Metallmaterialien.

International Organization for Standardization (ISO), UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

ISO 16129:2012 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der täglichen Leistung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers
ISO 16129:2018 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der täglichen Leistung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers
ISO 21270:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
ISO 18516:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung
ISO 10810:2019 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse
ISO 18554:2016 Chemische Oberflächenanalyse – Elektronenspektroskopie – Verfahren zur Identifizierung, Schätzung und Korrektur einer unbeabsichtigten Verschlechterung durch Röntgenstrahlen in einem Material, das einer Analyse durch Röntgenphotoelektronenspektroskopie unterzogen wird
ISO 19830:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Elektronenspektroskopie – Mindestberichtsanforderungen für die Peakanpassung in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie
ISO 10810:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse
ISO/CD TR 18392:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Hintergrundbestimmung
ISO/TR 18392:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Hintergrundbestimmung
ISO 14701:2018 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Messung der Siliziumoxiddicke
ISO 16243:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)
ISO 15470:2017 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
ISO 14701:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Messung der Siliziumoxiddicke
ISO 13424:2013 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Berichterstattung über Ergebnisse der Dünnschichtanalyse
ISO 20903:2019 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind
ISO 20903:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind
ISO 24237:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Wiederholbarkeit und Konstanz der Intensitätsskala
ISO 17109:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie-Sputtertiefe S
ISO 18118:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
ISO 18118:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
ISO 17109:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
ISO/TR 19319:2003 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
ISO/DIS 18118:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
ISO/FDIS 18118:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
ISO 20903:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind
ISO 19668:2017 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Schätzung und Meldung von Nachweisgrenzen für Elemente in homogenen Materialien
ISO 17470:2004 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien für die qualitative Punktanalyse mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektrometrie
ISO/CD 5861 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methode der Intensitätskalibrierung für monochromatische Al Kα XPS-Instrumente mit Quarzkristall
ISO/DIS 5861:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methode der Intensitätskalibrierung für monochromatische Al Kα XPS-Instrumente mit Quarzkristall
ISO 16531:2013 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und die damit verbundene Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS
ISO 22489:2006 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie
ISO 22489:2016 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie
ISO 17470:2014 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien für die qualitative Punktanalyse mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektrometrie
ISO 22581:2021 Chemische Oberflächenanalyse – Informationen nahezu in Echtzeit aus dem Röntgenphotoelektronenspektroskopie-Durchmusterungsscan – Regeln zur Identifizierung und Korrektur von Oberflächenverunreinigungen durch kohlenstoffhaltige Substanzen

British Standards Institution (BSI), UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

BS ISO 16129:2012 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Verfahren zur Beurteilung der täglichen Leistung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers
BS ISO 16129:2018 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Verfahren zur Beurteilung der täglichen Leistung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers
BS ISO 21270:2004 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer. Linearität der Intensitätsskala
BS ISO 18516:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung
BS ISO 21270:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
BS ISO 10810:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Richtlinien zur Analyse
BS ISO 18554:2016 Chemische Oberflächenanalyse. Elektronenspektroskopien. Verfahren zur Identifizierung, Schätzung und Korrektur einer unbeabsichtigten Verschlechterung durch Röntgenstrahlen in einem Material, das einer Analyse mittels Röntgenphotoelektronenspektroskopie unterzogen wird
BS ISO 19830:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Elektronenspektroskopien. Mindestanforderungen an die Berichterstattung für die Peakanpassung in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie
BS ISO 10810:2010 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Richtlinien zur Analyse
BS ISO 14701:2018 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Messung der Siliziumoxiddicke
BS ISO 16243:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)
BS ISO 14701:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Messung der Siliziumoxiddicke
BS ISO 15472:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
BS ISO 19318:2021 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur
BS ISO 24237:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Wiederholbarkeit und Konstanz der Intensitätsskala
BS ISO 20903:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Methoden zur Bestimmung von Spitzenintensitäten und erforderliche Informationen für die Ergebnisberichterstattung
BS ISO 20903:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Methoden zur Bestimmung von Spitzenintensitäten und erforderliche Informationen für die Ergebnisberichterstattung
BS ISO 17109:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, der Auger-Elektronenspektroskopie und der Sekundärionen-Massenspektrometrie. Sputter-Dept-Profiling unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen dünnen…
21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1. Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, der Auger-Elektronenspektroskopie und der Sekundärionen-Massenspektrometrie. Sputtertiefenprofilierung mithilfe von Einzel- und…
20/30423741 DC BS ISO 19318. Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur
BS ISO 17109:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
BS ISO 18118:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
BS ISO 19668:2017 Chemische Oberflächenanalyse. Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Schätzung und Meldung von Nachweisgrenzen für Elemente in homogenen Materialien
BS ISO 18118:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
23/30461294 DC BS ISO 18118. Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
DD ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
BS ISO 15632:2012 Mikrostrahlanalyse. Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz in der Elektronensonden-Mikroanalyse
BS ISO 15632:2021 Mikrostrahlanalyse. Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem Elektronenstrahl-Mikroanalysegerät (EPMA)
BS ISO 16531:2013 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und der damit verbundenen Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS
IEC 62607-6-21:2022 Nanofertigung. Wichtige Kontrollmerkmale. - Teil 6-21: Material auf Graphenbasis. Elementzusammensetzung, C/O-Verhältnis: Röntgenphotoelektronenspektroskopie
19/30394914 DC BS ISO 15632. Mikrostrahlanalyse. Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz im Elektronenstrahlmikroskop oder einem Elektronenstrahlmikroanalysator (EPMA)
BS ISO 22489:2007 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie
23/30409204 DC BS EN IEC 62321-3-1. BESTIMMUNG BESTIMMTER STOFFE IN ELEKTROTECHNISCHEN PRODUKTEN - Teil 3-1. Elementarscreening mittels Röntgenfluoreszenzspektrometrie
BS ISO 22489:2016 Mikrostrahlanalyse. Elektronensonden-Mikroanalyse. Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie
BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
BS ISO 17470:2014 Mikrostrahlanalyse. Elektronensonden-Mikroanalyse. Richtlinien für die qualitative Punktanalyse mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektrometrie
BS ISO 22581:2021 Chemische Oberflächenanalyse. Nahezu Echtzeitinformationen aus dem Röntgen-Photoelektronenspektroskopie-Durchmusterungsscan. Regeln zur Identifizierung und Korrektur von Oberflächenverunreinigungen durch kohlenstoffhaltige Verbindungen

German Institute for Standardization, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

DIN ISO 16129:2020-11 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der täglichen Leistung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers (ISO 16129:2018); Text auf Englisch
DIN ISO 16129:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der täglichen Leistung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers (ISO 16129:2018); Text auf Englisch
DIN ISO 15472:2020-05 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen (ISO 15472:2010); Text auf Englisch
DIN ISO 15472:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen (ISO 15472:2010); Text auf Englisch
DIN EN ISO 21587-3:2007-12 Chemische Analyse von feuerfesten Alumosilikat-Produkten (Alternative zum Röntgenfluoreszenzverfahren) – Teil 3: Induktiv gekoppeltes Plasma und Atomabsorptionsspektrometrieverfahren (ISO 21587-3:2007); Deutsche Fassung EN ISO 21587-3:2007
DIN EN ISO 10058-3:2009 Chemische Analyse von feuerfesten Produkten aus Magnesit und Dolomit (Alternative zur Röntgenmethode Fluoreszenz) – Teil 3: Flammen-Atomabsorptionsspektrophotometrie (FAAS) und Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-AES) (ISO 10058-3:20).

未注明发布机构, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

DIN ISO 16129 E:2020-01 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Verfahren zur Beurteilung der täglichen Leistung eines Röntgen-Photoelektronenspektrometers
BS ISO 21270:2004(2010) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
BS ISO 18516:2006(2010) Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung
DIN ISO 15472 E:2019-09 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

GB/T 25184-2010 Verifizierungsmethode für Röntgenphotoelektronenspektrometer
GB/T 19500-2004 Allgemeine Regeln für die röntgenphotoelektronenspektroskopische Analysemethode
GB/T 21006-2007 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer.Linearität der Intensitätsskala
GB/T 28632-2012 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Bestimmung der lateralen Auflösung
GB/T 30704-2014 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronenspektroskopie.Richtlinien für die Analyse
GB/T 22571-2008 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronenspektrometer.Kalibrierung von Energieskalen
GB/Z 32490-2016 Verfahren zur Bestimmung des Hintergrunds mittels Röntgenphotoelektronenspektroskopie für die chemische Oberflächenanalyse
GB/T 31470-2015 Standardpraxis zur Bestimmung der Probenfläche, die zum detektierten Signal in Auger-Elektronenspektrometern und einigen Röntgenphotoelektronenspektrometern beiträgt
GB/T 25185-2010 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronenspektroskopie.Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur
GB/T 28633-2012 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronenspektroskopie.Wiederholbarkeit und Konstanz der Intensitätsskala
GB/T 28892-2012 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronenspektroskopie.Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
GB/T 28893-2012 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind
GB/T 25188-2010 Dickenmessungen für ultradünne Siliziumoxidschichten auf Siliziumwafern. Röntgenphotoelektronenspektroskopie
GB/Z 21277-2007 Schnelles Screening von regulierten Substanzen in Elektro- und Elektronikgeräten auf Blei, Quecksilber, Chrom, Cadmium und Brom. Röntgenfluoreszenzspektrometrie
GB/T 17359-1998 Allgemeine Spezifikation der quantitativen Röntgen-EDS-Analyse für EPMA und SEM
GB/T 43598-2023 Bestimmung des Sauerstoffgehalts und des Kohlenstoff-Sauerstoff-Verhältnisses von nanotechnologischem Graphenpulver mittels Röntgenphotoelektronenspektroskopie
GB/T 31472-2015 Standardhandbuch für Ladungskontroll- und Ladungsreferenzierungstechniken in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie
GB/T 29556-2013 Chemische Oberflächenanalyse. Schneckenelektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Bestimmung der lateralen Auflösung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
GB/T 30702-2014 Chemische Oberflächenanalyse. Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
GB/T 2679.11-2008 Papier und Karton. Qualitative Analyse von mineralischem Füllstoff und mineralischer Beschichtung. SEM/EDAX-Methode
GB/T 2679.11-1993 Papier und Karton. Qualitative Analyse von mineralischen Füllstoffen und mineralischen Beschichtungen. SEM/EDAX-Methode
GB/T 32869-2016 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse

American Society for Testing and Materials (ASTM), UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

ASTM E995-16 Standardhandbuch für Hintergrundsubtraktionstechniken in der Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E996-04 Standardpraxis für die Meldung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E996-10 Standardpraxis für die Meldung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E996-94(1999) Standardpraxis für die Meldung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E996-10(2018) Standardpraxis für die Meldung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E996-19 Standardpraxis für die Meldung von Daten in der Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E2108-16 Standardpraxis zur Kalibrierung der Elektronenbindungsenergieskala eines Röntgenphotoelektronenspektrometers
ASTM E995-11 Standardhandbuch für Hintergrundsubtraktionstechniken in der Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E995-04 Standardhandbuch für Hintergrundsubtraktionstechniken in der Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie
ASTM E1523-97 Standardhandbuch für Ladungskontroll- und Ladungsreferenzierungstechniken in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E1523-15 Standardhandbuch für Ladungskontroll- und Ladungsreferenzierungstechniken in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E2735-14(2020) Standardhandbuch für die Auswahl der für Röntgen-Photoelektronenspektroskopie-Experimente (XPS) erforderlichen Kalibrierungen
ASTM E1217-11 Standardverfahren zur Bestimmung der Probenfläche, die zum detektierten Signal in Auger-Elektronenspektrometern und einigen Röntgen-Photoelektronenspektrometern beiträgt
ASTM E902-94(1999) Standardverfahren zur Überprüfung der Betriebseigenschaften von Röntgen-Photoelektronenspektrometern
ASTM E2108-10 Standardpraxis zur Kalibrierung der Elektronenbindungsenergieskala eines Röntgenphotoelektronenspektrometers
ASTM E1217-00 Standardverfahren zur Bestimmung der Probenfläche, die zum detektierten Signal in Auger-Elektronenspektrometern und einigen Röntgen-Photoelektronenspektrometern beiträgt
ASTM E1217-05 Standardverfahren zur Bestimmung der Probenfläche, die zum detektierten Signal in Auger-Elektronenspektrometern und einigen Röntgen-Photoelektronenspektrometern beiträgt
ASTM E2108-00 Standardpraxis zur Kalibrierung der Elektronenbindungsenergieskala eines Röntgenphotoelektronenspektrometers
ASTM E2735-14 Standardhandbuch für die Auswahl der für die Röntgen-Photoelektronenspektroskopie erforderlichen Kalibrierungen 40;XPS41; Experimente
ASTM E2735-13 Standardhandbuch für die Auswahl der für Röntgen-Photoelektronenspektroskopie-Experimente (XPS) erforderlichen Kalibrierungen
ASTM E902-05 Standardverfahren zur Überprüfung der Betriebseigenschaften von Röntgen-Photoelektronenspektrometern
ASTM E1523-03 Standardhandbuch für Ladungskontroll- und Ladungsreferenzierungstechniken in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E1523-09 Standardhandbuch für Ladungskontroll- und Ladungsreferenzierungstechniken in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie
ASTM E1217-11(2019) Standardverfahren zur Bestimmung der Probenfläche, die zum detektierten Signal in Auger-Elektronenspektrometern und einigen Röntgen-Photoelektronenspektrometern beiträgt
ASTM E1588-10e1 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E2108-05 Standardpraxis zur Kalibrierung der Elektronenbindungsenergieskala eines Röntgenphotoelektronenspektrometers
ASTM E1588-16 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E1588-16a Standardpraxis für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E1588-17 Standardpraxis für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E2994-21 Standardtestmethode zur Analyse von Titan und Titanlegierungen mittels Funken-Atomemissionsspektrometrie und Glimmentladungs-Atomemissionsspektrometrie (leistungsbasierte Methode)
ASTM E1588-07 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E1588-07e1 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E1588-20 Standardpraxis für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
ASTM E2809-13 Standardhandbuch für den Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie/Röntgenspektrometrie bei forensischen Farbuntersuchungen
ASTM E2994-16 Standardtestmethode zur Analyse von Titan und Titanlegierungen mittels Funken-Atomemissionsspektrometrie und Glimmentladungs-Atomemissionsspektrometrie (leistungsbasierte Methode)
ASTM E280-98(2004)e1 Standard-Referenzröntgenaufnahmen für dickwandige (4 &189; bis 12 Zoll [114 bis 305 mm]) Stahlgussteile
ASTM E2809-22 Standardhandbuch für den Einsatz von Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektroskopie (SEM/EDS) bei forensischen Polymeruntersuchungen
ASTM E280-21 Standard-Referenzröntgenaufnahmen für dickwandige (412 bis 12 Zoll (114 bis 305 mm)) Stahlgussteile
ASTM E3309-21 Standardhandbuch für die Berichterstattung über die Analyse von forensischen Primer-Schussrückständen (pGSR) mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie (SEM/EDS)
ASTM E3284-23 Standardpraxis für die Ausbildung in der forensischen Untersuchung von Zündschussrückständen (pGSR) mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie (SEM/EDS)
ASTM E3061-17 Standardtestmethode zur Analyse von Aluminium und Aluminiumlegierungen durch Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (leistungsbasierte Methode)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

GB/T 41072-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Elektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse durch Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie
GB/T 41073-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Elektronenspektroskopie – Mindestberichtsanforderungen für die Peakanpassung in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie
GB/T 36401-2018 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Berichterstattung über Ergebnisse der Dünnschichtanalyse
GB/T 41064-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen
GB/T 39560.301-2020 Bestimmung bestimmter Stoffe in Elektro- und Elektronikprodukten – Teil 3-1: Screening von Blei, Quecksilber, Cadmium, Gesamtchrom und Gesamtbrom mittels Röntgenfluoreszenzspektrometrie

Professional Standard - Electron, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

SJ/T 10458-1993 Standardhandbuch für den Umgang mit Proben in der Schneckenelektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie
SJ/T 10714-1996 Standardverfahren zur Überprüfung der Betriebseigenschaften von Röntgenphotoelektronenspektrometern

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

KS D ISO 21270:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
KS D ISO 21270-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronen- und Auger-Elektronenspektrometer – Linearität der Intensitätsskala
KS D ISO 15470-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
KS D ISO 19318-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgen-Photoelektronenspektroskopie – Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur
KS D ISO 15472-2003(2018) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Kalibrierung der Energieskala
KS D ISO 19319-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
KS D ISO 18118:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
KS D ISO 18118-2005(2020) Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse von h
KS D ISO 19319:2005 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
KS L ISO 20565-3-2012(2017) Chemische Analyse von chromhaltigen feuerfesten Produkten und chromhaltigen Rohstoffen (Alternative zur Röntgenfluoreszenzmethode) – Teil 3: Flammen-Atomabsorptionsspektrometrie (FAAS) und induktiv
KS L ISO 20565-3-2012(2022) Chemische Analyse von chromhaltigen feuerfesten Produkten und chromhaltigen Rohstoffen (Alternative zur Röntgenfluoreszenzmethode) – Teil 3: Flammen-Atomabsorptionsspektrometrie (FAAS) und induktiv
KS L ISO 10058-3-2012(2022) Chemische Analyse von feuerfesten Produkten aus Magnesit und Dolomit (Alternative zur Röntgenfluoreszenzmethode) – Teil 3: Flammen-Atomabsorptionsspektrophotometrie (FAAS) und induktiv gekoppeltes Plasmaatom
KS L ISO 10058-3-2012(2017) Chemische Analyse von feuerfesten Produkten aus Magnesit und Dolomit (Alternative zur Röntgenfluoreszenzmethode) – Teil 3: Flammen-Atomabsorptionsspektrophotometrie (FAAS) und induktiv gekoppeltes Plasmaatom
KS D ISO 22489:2012 Mikrostrahlanalyse－Elektronensonden-Mikroanalyse－Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie
KS D ISO 15632:2018 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer zur Verwendung in der Elektronensonden-Mikroanalyse
KS L ISO 21079-3-2012(2022) Chemische Analyse von feuerfesten Materialien, die Aluminiumoxid, Zirkoniumdioxid und Siliziumdioxid enthalten – Feuerfestmaterialien, die 5 % bis 45 % ZrO2 enthalten (Alternative zur Röntgenfluoreszenzmethode) – Teil 3: Flammen-Atomabsorptionsspezifikation
KS L ISO 21079-3-2012(2017) Chemische Analyse von feuerfesten Materialien, die Aluminiumoxid, Zirkoniumdioxid und Siliziumdioxid enthalten – Feuerfestmaterialien, die 5 % bis 45 % ZrO2 enthalten (Alternative zur Röntgenfluoreszenzmethode) – Teil 3: Flammen-Atomabsorptionsspezifikation
KS D ISO 22489:2018 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie

Association Francaise de Normalisation, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

NF X21-061:2008 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung.
NF X21-071:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Richtlinien für die Analyse.
NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS).
NF ISO 16243:2012 Chemische Analyse von Oberflächen – Datenprotokollierung und Berichterstattung durch Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS).
NF X21-058:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methoden zur Bestimmung von Peakintensitäten und Informationen, die für die Ergebnisberichterstattung erforderlich sind.
NF A09-230-3:1999 Zerstörungsfreie Prüfung – Messung und Auswertung der Röntgenröhrenspannung – Teil 3: Spektrometrisches Verfahren.
NF X21-003:2006 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien für die qualitative Punktanalyse mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektrometrie.
FD T16-203:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
NF B40-670-3*NF EN ISO 21587-3:2007 Chemische Analyse von feuerfesten Alumosilikatprodukten (Alternative zur Röntgenfluoreszenzmethode) – Teil 3: Methoden der induktiv gekoppelten Plasma- und Atomabsorptionsspektrometrie
NF X21-006:2007 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie.

Standard Association of Australia （SAA）, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

AS ISO 15472:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
AS ISO 15470:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Beschreibung ausgewählter instrumenteller Leistungsparameter
AS ISO 19318:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Berichterstattung über Methoden zur Ladungskontrolle und Ladungskorrektur
AS ISO 19319:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Augur-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Bestimmung der lateralen Auflösung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
AS ISO 24237:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Wiederholbarkeit und Konstanz der Intensitätsskala
AS ISO 18118:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

GB/T 22571-2017 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
GB/T 33352-2016 Allgemeine Regeln für die Überprüfung der Verwendung eingeschränkter Substanzen in Elektro- und Elektronikprodukten – Röntgenfluoreszenzspektrometrie
GB/T 33502-2017 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS)

KR-KS, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

KS D ISO 15472-2003(2023) Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Kalibrierung der Energieskala
KS D ISO 15632-2018 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer zur Verwendung in der Elektronensonden-Mikroanalyse
KS D ISO 15632-2023 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem
KS D ISO 22489-2018 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie
KS D ISO 22489-2018(2023) Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie

Group Standards of the People's Republic of China, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

T/CSTM 01199-2024 Mehrschichtiger Metallfilm – Mess- und Analyseverfahren der Schichtstruktur – Röntgenphotoelektronenspektroskopie
T/ZSA 39-2020 Charakterisierung von Graphen – Austrittsarbeit – Methode der Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie (UPS).
T/ZGIA 002-2020 Graphen-Testmethoden Bestimmung der Austrittsarbeit Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie

Professional Standard - Non-ferrous Metal, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

YS/T 739-2010 Bestimmung der Kryolithrate und der Hauptkomponenten der Elektrolyt-Röntgenfluoreszenzspektrometer-Analysemethode
YS/T 644-2007 Bestimmungsmethode des Pt-Rn-Legierungsfilms. Bestimmung des legierten Pt-Gehalts und des legierten Rn-Gehalts durch Röntgenphotoelektronenspektroskopie

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

JIS K 0145:2002 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektrometer – Kalibrierung von Energieskalen
JIS K 0167:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Auger-Elektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Leitfaden zur Verwendung experimentell ermittelter relativer Empfindlichkeitsfaktoren für die quantitative Analyse homogener Materialien
JIS K 0152:2014 Chemische Oberflächenanalyse.Röntgenphotoelektronenspektroskopie.Wiederholbarkeit und Konstanz der Intensitätsskala
JIS T 0306:2002 Analyse des Zustands eines auf metallischen Biomaterialien gebildeten passiven Films durch Röntgenphotoelektronenspektroskopie
JIS K 0190:2010 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien für die qualitative Punktanalyse mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektrometrie
JIS K 0189:2013 Mikrostrahlanalyse.Elektronensonden-Mikroanalyse.Bestimmung experimenteller Parameter für die wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie

AT-ON, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

ONORM S 5233-1987 Dosimeter für den Einsatz in der Strahlentherapie mit Ionisationskammern für Röntgen-, Y- und Elektronenstrahlen

Professional Standard - Commodity Inspection, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

SN/T 2003.4-2006 Bestimmung von Blei, Quecksilber, Chrom, Cadmium und Brom in Elektro- und Elektronikgeräten. Teil 4: Qualitatives Screening mittels energiedispersiver Röntgenfluoreszenzspektrometrie
SN/T 2003.5-2006 Bestimmung von Blei, Quecksilber, Chrom, Cadmium und Brom in Elektro- und Elektronikgeräten – Teil 5: Quantitatives Screening mittels energiedispersiver Röntgenfluoreszenzspektrometrie
SN/T 2003.3-2006 Bestimmung von Blei, Quecksilber, Chrom, Cadmium und Brom in elektrischen und elektronischen Geräten – Teil 3: Qualitatives Screening mittels Röntgenfluoreszenzspektrometrie
SN/T 2003.1-2005 Bestimmung von Blei, Quecksilber, Cadmium, Chrom und Brom in Elektro- und Elektronikgeräten – Teil 1: Qualitatives Screening mittels wellenlängendispersiver Röntgenfluoreszenzspektrometrie

GOSTR, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

PNST 507-2020 Nanotechnologien. Einwandige Kohlenstoffnanoröhren. Charakterisierung mittels Transmissionselektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrie
PNST 508-2020 Nanotechnologien. Einwandige Kohlenstoffnanoröhren. Charakterisierung mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrie

Danish Standards Foundation, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

DS/EN ISO 20565-3:2009 Chemische Analyse von chromhaltigen Feuerfestprodukten und chromhaltigen Rohstoffen (Alternative zum Röntgenfluoreszenzverfahren) – Teil 3: Flammen-Atomabsorptionsspektrometrie (FAAS) und induktiv gekoppelte Plasma-Atomemissionsspektrometrie (ICP)
DS/EN ISO 10058-3:2009 Chemische Analyse von feuerfesten Produkten aus Magnesit und Dolomit (Alternative zur Röntgenfluoreszenzmethode) – Teil 3: Flammen-Atomabsorptionsspektrophotometrie (FAAS) und Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-AES)
DS/EN ISO 21587-3:2007 Chemische Analyse von feuerfesten Alumosilikat-Produkten (Alternative zur Röntgenfluoreszenzmethode) – Teil 3: Induktiv gekoppeltes Plasma und Atomabsorptionsspektrometriemethoden
DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse

Lithuanian Standards Office , UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

LST EN ISO 20565-3:2009 Chemische Analyse von chromhaltigen Feuerfestprodukten und chromhaltigen Rohstoffen (Alternative zum Röntgenfluoreszenzverfahren) – Teil 3: Flammen-Atomabsorptionsspektrometrie (FAAS) und induktiv gekoppelte Plasma-Atomemissionsspektrometrie (ICP)
LST EN ISO 10058-3:2009 Chemische Analyse von feuerfesten Produkten aus Magnesit und Dolomit (Alternative zur Röntgenfluoreszenzmethode) – Teil 3: Flammen-Atomabsorptionsspektrophotometrie (FAAS) und Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-AES) (ISO 10058-3:20).
LST EN ISO 21587-3:2007 Chemische Analyse von feuerfesten Alumosilicat-Produkten (Alternative zur Röntgenfluoreszenzmethode) – Teil 3: Induktiv gekoppeltes Plasma und Atomabsorptionsspektrometriemethoden (ISO 21587-3:2007)

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

DB35/T 110-2000 Elektronensonden- und Rasterelektronenmikroskop-Röntgenenergiespektrum-Analyseverfahren zur Erkennung physischer Farbspuren

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

DB44/T 1216-2013 Charakterisierung von Graphen mittels Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenspektroskopie
DB44/T 1215-2013 Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und Energiespektroskopie

RU-GOST R, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

GOST R ISO 16243-2016 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Oberflächenchemische Analyse. Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)

European Committee for Standardization (CEN), UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

EN ISO 10058-3:2008 Chemische Analyse von feuerfesten Produkten aus Magnesit und Dolomit (Alternative zur Röntgenfluoreszenzmethode) – Teil 3: Flammen-Atomabsorptionsspektrophotometrie (FAAS) und Atomemissionsspektrometrie mit induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-AES) (ISO 10058-3:20).

AENOR, UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

UNE-EN ISO 21587-3:2008 Chemische Analyse von feuerfesten Alumosilicat-Produkten (Alternative zur Röntgenfluoreszenzmethode) – Teil 3: Induktiv gekoppeltes Plasma und Atomabsorptionsspektrometriemethoden (ISO 21587-3:2007)

International Electrotechnical Commission (IEC), UV-Photoelektronen- und Röntgen-Photoelektronenspektroskopie

IEC TS 62607-6-21:2022 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 6-21: Material auf Graphenbasis – Elementzusammensetzung, C/O-Verhältnis: Röntgen-Photoelektronenspektroskopie